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本公开涉及芯片测试技术领域，提供一种生成测试向量的方法、装置、电子设备及存储介质，旨在提高测试向量的生成效率。其中，生成测试向量的方法包括：接收对寄存器指令集的修改；其中，原始的寄存器指令集是根据待测电路的仿真波形生成的；再根据修改后的寄存...
该专利属于北京象帝先计算技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京象帝先计算技术有限公司授权不得商用。

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