【技术实现步骤摘要】
本公开涉及计算机，尤其涉及一种处理器性能分级方法、供电方法及装置。
技术介绍
1、目前，在处理器芯片生产完成后，通常认为同一批次甚至不同批次的同一型号的处理器芯片性能差异不大，因此在处理器芯片工作时，会使各个处理器芯片按照相同的工作电压标准进行工作。
2、但是，由于处理器芯片是由晶圆加工而成，而同一晶圆上不同位置之间工艺可能不同，不同晶圆之间的工艺差异可能更大，因此，即使利用相同的设备、采用相同的生产方式生产出的相同型号的处理器芯片，也会因为工艺不同而导致性能上有所差异。
3、为了使处理器芯片能够更好的工作，需要对处理器芯片进行性能分级。
技术实现思路
1、本公开的目的是提供一种处理器性能分级方法、供电方法及装置。
2、根据本公开的第一个方面，提供一种处理器性能分级方法，所述处理器上部署有n个环形震荡器；
3、针对若干测试处理器中的每一测试处理器，使该测试处理器在目标工作模式下运行，获取在多种工作温度和工作电压的组合下，所述测试处理器的工作频率、所述测试处理器上每个环形震荡器的输出值；
4、基于所述多种工作温度和工作电压的组合下，全部测试处理器的工作频率，以及全部测试处理器上每个环形震荡器的输出值，确定m个目标震荡器；所述目标震荡器为n个环形震荡器中与测试处理器工作频率变化最相关的m个环形震荡器；
5、利用所述m个目标震荡器对待分级的处理器进行性能分级。
6、在一种实施方式中，所述方法还包括针对若干
7、得到在所述若干工作模式下，各个测试处理器运行到所述目标工作频率所需的最小电压；
8、根据各个测试处理器运行到所述目标工作频率所需的最小电压，确定目标工作模式，所述目标工作模式为所述处理器运行压力最大的工作模式。
9、在一种实施方式中，所述根据各个测试处理器运行到所述目标工作频率所需的最小电压，确定目标工作模式，包括：
10、确定在每一工作模式下，各个测试处理器运行到所述目标工作频率所需的最小电压的均值；将均值最大的工作模式确定为目标工作模式。
11、在一种实施方式中，所述针对若干工作模式中的任一工作模式，使若干测试处理器分别在所述工作模式下运行，对所述若干测试处理器加压，以使所述若干测试处理器分别运行到目标工作频率，包括：
12、针对若干工作模式中的任一工作模式，使若干所述测试处理器分别在所述工作模式下运行，对所述若干处理器加压和加温，以使所述若干测试处理器分别在多种温度下运行到目标工作频率。
13、在一种实施方式中，所述若干测试处理器包括不同工艺角类型的处理器。
14、在一种实施方式中，所述利用所述m个目标震荡器对待分级的处理器进行性能分级，包括：
15、利用所述m个目标震荡器对未封装的待分级的处理器进行初步分级，利用所述m个目标震荡器基于初步分级结果对封装后的处理器进行二次分级。
16、在一种实施方式中，所述利用所述m个目标震荡器对未封装的待分级的处理器进行初步分级，包括：
17、建立所述m个目标震荡器的输出值与处理器工作频率的关系模型；
18、使待分级的未封装的处理器在所述目标工作模式下运行，获取所述待分级的处理器在第一预设工作温度、预设工作电压下，所述待分级的处理器上所述m个目标震荡器的输出值；
19、基于所述m个目标震荡器的输出值与建立的所述关系模型预测所述待分级的处理器当前的工作频率；
20、基于当前的工作频率对所述处理器进行分级。
21、在一种实施方式中，所述利用所述m个目标震荡器基于初步分级结果对封装后的处理器进行二次分级，包括：
22、使经过初步分级且封装后的处理器工作在所述目标工作模式下运行，获取该处理器在第二预设工作温度、所述预设工作电压下，该初步分级的处理器上所述m个目标震荡器的输出值；其中，第二预设工作温度大于第一预设温度；
23、基于所述m个目标震荡器的输出值与建立的所述关系模型预测所述初步分级的处理器当前的工作频率；
24、基于当前的工作频率对所述处理器进行分级。
25、在一种实施方式中，所述若干测试处理器包括不同性能等级的处理器；在针对若干测试处理器中的每一测试处理器，使该测试处理器在目标工作模式下运行，获取在多种工作温度和工作电压的组合下，所述测试处理器的工作频率、所述测试处理器上每个环形震荡器的输出值的时，还包括：
26、针对每一性能等级的测试处理器，记录该性能等级下的各个测试处理器的工作电压与工作频率之间的目标映射关系；
27、所述基于当前的工作频率对所述处理器进行分级，包括：
28、根据当前的工作频率和目标映射关系，确定所述处理器的性能等级。
29、根据本公开的第二个方面，提供一种处理器供电方法，应用于系统级芯片上的控制单元，所述系统级芯片上还包括多个基于第一个方面的性能分级方法分级后处理器以及存储器；所述存储器中存储有该多个处理器的性能等级、各性能等级处理器的电压频率映射关系；所述系统级芯片部署于板卡上；所述板卡上还部署有电源管理模块；该方法包括：
30、从所述系统级芯片上的存储器中读取多个处理器的性能等级，以及各性能等级处理器的电压频率映射关系，并基于读取的信息和预期工作频率分别确定所述多个处理器的工作电压；
31、向所述电源管理模块发送电压提供信息，以使所述电源管理模块针对每个处理器，分别根据其性能等级提供工作电压。
32、在一种实施方式中，该方法还包括：
33、在检测到任一处理器的当前工作频率与当前工作负载不匹配时，基于所述处理器的性能等级以及所述处理器性能等级对应的电压频率映射关系，向所述电源管理模块发送电压调整信息，以使所述电源管理模块针对所述处理器根据其性能等级进行电压调整。
34、根据本公开的第三个方案，还提供一种处理器性能分级装置，所述处理器上部署有n个环形震荡器；所述装置包括：
35、获取模块，用于针对若干测试处理器中的每一测试处理器，使该测试处理器在目标工作模式下运行，获取在多种工作温度和工作电压的组合下，所述测试处理器的工作频率、所述测试处理器上每个环形震荡器的输出值；
36、确定模块，用于基于所述多种工作温度和工作电压的组合下，全部测试处理器的工作频率，以及全部测试处理器上每个环形震荡器的输出值，确定m个目标震荡器；所述目标震荡器为n个环形震荡器中与测试处理器工作频率变化最相关的m个环形震荡器；
37、分级模块，用于利用所述m个目标震荡器对待分级的处理器进行性能分级。
38、在一种实施方式中，该装置还包括：工作模式认定模块，用于针对若干工作模式中的本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种处理器性能分级方法，所述处理器上部署有N个环形震荡器；
2.根据权利要求1所述的方法，还包括：
3.根据权利要求2所述的方法，所述根据各个测试处理器运行到所述目标工作频率所需的最小电压，确定目标工作模式，包括：
4.根据权利要求2所述的方法，所述针对若干工作模式中的任一工作模式，使若干测试处理器分别在所述工作模式下运行，对所述若干测试处理器加压，以使所述若干测试处理器分别运行到目标工作频率，包括：
5.根据权利要求2所述的方法，所述若干测试处理器包括不同工艺角类型的处理器。
6.根据权利要求1所述的方法，所述利用所述M个目标震荡器对待分级的处理器进行性能分级，包括：
7.根据权利要求6所述的方法，
8.根据权利要求7所述的方法，所述利用所述M个目标震荡器基于初步分级结果对封装后的处理器进行二次分级，包括：
9.根据权利要求7或8所述的方法，所述若干测试处理器包括不同性能等级的处理器；在针对若干测试处理器中的每一测试处理器，使该测试处理器在目标工作模式下运行，获取在多种工作温度和
10.一种处理器供电方法，应用于系统级芯片上的控制单元，所述系统级芯片上还包括多个基于权利要求1所述的性能分级方法分级后的处理器以及存储器；所述存储器中存储有该多个处理器的性能等级、各性能等级处理器的电压频率映射关系；所述系统级芯片部署于板卡上；所述板卡上还部署有电源管理模块；该方法包括：
11.根据权利要求10所述的方法，还包括：
12.一种处理器性能分级装置，所述处理器上部署有N个环形震荡器；所述装置包括：
13.根据权利要求12所述的装置，还包括：
14.根据权利要求13所述的装置，
15.根据权利要求13所述的装置，所述工作模式认定模块，具体用于针对若干工作模式中的任一工作模式，使若干所述测试处理器分别在所述工作模式下运行，对若干所述测试处理器加压和加温，以使若干所述测试处理器分别在多种温度下运行到目标工作频率。
16.根据权利要求13所述的装置，所述若干测试处理器包括不同工艺角类型的处理器。
17.根据权利要求12所述的装置，
18.根据权利要求17所述的装置，
19.根据权利要求18所述的装置，
20.根据权利要求18或19所述的装置，所述获取模块，还用于针对每一性能等级的测试处理器，记录该性能等级下的各个测试处理器的工作电压与工作频率之间的目标映射关系；
21.一种控制单元，部署于系统级芯片上，所述系统级芯片上还包括多个基于权利要求1所述的性能分级方法分级后的处理器以及存储器；所述存储器中存储有该多个处理器的性能等级、各性能等级处理器的电压频率映射关系；所述系统级芯片部署于板卡上；所述板卡上还部署有电源管理模块；
22.根据权利要求21所述的控制单元，
23.一种图形处理系统，包括权利要求21-22任一项所述的控制单元。
24.一种电子组件，包括权利要求23所述的图形处理系统。
25.一种电子设备，包括权利要求24所述的电子组件。
...【技术特征摘要】
1.一种处理器性能分级方法，所述处理器上部署有n个环形震荡器；
2.根据权利要求1所述的方法，还包括：
3.根据权利要求2所述的方法，所述根据各个测试处理器运行到所述目标工作频率所需的最小电压，确定目标工作模式，包括：
4.根据权利要求2所述的方法，所述针对若干工作模式中的任一工作模式，使若干测试处理器分别在所述工作模式下运行，对所述若干测试处理器加压，以使所述若干测试处理器分别运行到目标工作频率，包括：
5.根据权利要求2所述的方法，所述若干测试处理器包括不同工艺角类型的处理器。
6.根据权利要求1所述的方法，所述利用所述m个目标震荡器对待分级的处理器进行性能分级，包括：
7.根据权利要求6所述的方法，
8.根据权利要求7所述的方法，所述利用所述m个目标震荡器基于初步分级结果对封装后的处理器进行二次分级，包括：
9.根据权利要求7或8所述的方法，所述若干测试处理器包括不同性能等级的处理器；在针对若干测试处理器中的每一测试处理器，使该测试处理器在目标工作模式下运行，获取在多种工作温度和工作电压的组合下，所述测试处理器的工作频率、所述测试处理器上每个环形震荡器的输出值的时，还包括：
10.一种处理器供电方法，应用于系统级芯片上的控制单元，所述系统级芯片上还包括多个基于权利要求1所述的性能分级方法分级后的处理器以及存储器；所述存储器中存储有该多个处理器的性能等级、各性能等级处理器的电压频率映射关系；所述系统级芯片部署于板卡上；所述板卡上还部署有电源管理模块；该方法包括：
11.根据权利要求1...
【专利技术属性】
技术研发人员：张宝金，赵峰，
申请(专利权)人：北京象帝先计算技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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