一种用于FDD天线振子的PIM测试工装制造技术

本发明专利技术涉及天线振子测试技术领域，尤其涉及一种用于FDD天线振子的PIM测试工装，包括底座、测试基座、盖板、至少一个限位柱，底座上设有支架，支架上设有动力马达；测试基座设置于底座的一侧，用于测试FDD天线振子；盖板设于测试基座背离底座的一侧；盖板沿底座方向设有至少一个升降拉杆，升降拉杆与动力马达形成活动连接；限位柱设于底座靠近测试基座的一侧，且限位柱贯穿盖板，与盖板形成滑动连接。本发明专利技术通过将底座、测试基座、盖板等结构集中设计在测试工装上，让单个振子测试时模拟实现与组装后的天线工作场景一致，提前检测天线振子的PIM指标；并且，将PIM测试工装放置在暗室中，再放天线振子至工装上测试，可以提高天线振子PIM测试的精准度。PIM测试的精准度。PIM测试的精准度。

【技术实现步骤摘要】
一种用于FDD天线振子的PIM测试工装


[0001]本专利技术涉及天线振子测试
，尤其涉及一种用于FDD天线振子的PIM测试工装。

技术介绍

[0002]目前行业内PIM测试工装通常是给整机天线测试，通过利用多个元器件互调来提高指标，或者给单线路或者给到线缆做测试，通常的测试设备与测试工装没有相应匹配的天线工作场景；因此，为了给天线振子做PIM测试，就必须仿真天线振子工作场景，让天线振子实现工作场景发功；且测试过程中，天线上方不能有金属干扰物体，导致对测试工装机构设计难度加大，PIM测试操作难度大，同时存在调试难，拆装过程复杂、成本高和定位异常问题难等。
[0003]因此，现有技术还有待于改进和发展。

技术实现思路

[0004]鉴于上述现有技术的不足，本专利技术的目的在于提供一种用于FDD天线振子的PIM测试工装，旨在解决现有PIM测试工装需要仿真天线振子的工作场景，且PIM测试操作难度大、调试难等问题。
[0005]本专利技术的技术方案如下：
[0006]一种用于FDD天线振子的PIM测试工装，包括：
[0007]底座，所述底座上设有支架，所述支架上设有动力马达；
[0008]测试基座，所述测试基座设置于所述底座的一侧，用于测试FDD天线振子；
[0009]盖板，所述盖板设于所述测试基座背离所述底座的一侧；所述盖板沿所述底座方向设有至少一个升降拉杆，所述升降拉杆与所述动力马达形成活动连接；
[0010]至少一个限位柱，所述限位柱设于所述底座靠近所述测试基座的一侧，且所述限位柱贯穿所述盖板，与所述盖板形成滑动连接。
[0011]所述的用于FDD天线振子的PIM测试工装，其中，所述底座包括底板、顶板、以及设置于所述底板边缘且抵接于所述顶板边缘的第一侧板和第二侧板；所述第一侧板与所述第二侧板对称设置；所述支架包括第一支架和第二支架，所述第一支架与所述第二支架对称设置于所述顶板上。
[0012]所述的用于FDD天线振子的PIM测试工装，其中，所述动力马达上设有齿轮件，所述升降拉杆上设有与所述齿轮件匹配的齿条。
[0013]所述的用于FDD天线振子的PIM测试工装，其中，所述升降拉杆包括第一升降拉杆和第二升降拉杆；所述第一升降拉杆上设有第一齿条，所述第二升降拉杆上设有第二齿条，所述第一齿条的齿与所述第二齿条的齿对称设置。
[0014]所述的用于FDD天线振子的PIM测试工装，其中，所述测试基座包括：
[0015]测试箱体面板；
[0016]对称设置的第一测试箱体支架和第二测试箱体支架，所述第一测试箱体支架和所述第二测试箱体支架的一端与所述底座连接，所述第一测试箱体支架和所述第二测试箱体支架的另一端与所述测试箱体面板连接；
[0017]侧护板，所述侧护板设置于所述第一测试箱体支架和所述第二测试箱体支架之间。
[0018]所述的用于FDD天线振子的PIM测试工装，其中，所述测试箱体面板背离所述底座的一侧设有天线振子反射板，所述天线振子反射板背离所述测试箱体面板的一侧设有间隔设置的多个天线振子反射腔体。
[0019]所述的用于FDD天线振子的PIM测试工装，其中，所述天线振子反射腔体设有若干个天线振子放置部，所述盖板设有与所述天线振子放置部对应的镂空部。
[0020]所述的用于FDD天线振子的PIM测试工装，其中，所述天线振子放置部背离所述底座的一侧设有测试探针、用于固定所述测试探针的测试探针基座、以及用于固定所述测试探针基座的基座固定扣；所述天线振子放置部背离所述盖板的一侧设有用于连接接地片与所述探针的测试线。
[0021]所述的用于FDD天线振子的PIM测试工装，其中，所述第一测试箱体支架或所述第二测试箱体支架上设有多组四端口主馈电缆接口。
[0022]所述的用于FDD天线振子的PIM测试工装，其中，所述测试基座背离所述底座的一侧设有下压支柱，所述下压支柱通过缓冲件与所述测试基座连接。
[0023]有益效果：本专利技术提供一种用于FDD天线振子的PIM测试工装，包括底座、测试基座、盖板、至少一个限位柱，所述底座上设有支架，所述支架上设有动力马达；所述测试基座设置于所述底座的一侧，用于测试FDD天线振子；所述盖板设于所述测试基座背离所述底座的一侧；所述盖板沿所述底座方向设有至少一个升降拉杆，所述升降拉杆与所述动力马达形成活动连接；所述限位柱设于所述底座靠近所述测试基座的一侧，且所述限位柱贯穿所述盖板，与所述盖板形成滑动连接。本专利技术通过将底座、测试基座、盖板等结构集中设计在测试工装上，让单个振子测试时模拟实现与组装后的天线工作场景一致，提前检测天线振子的PIM指标；并且，将所述PIM测试工装放置在暗室中，再放天线振子至工装上测试，可以提高天线振子PIM测试的精准度，且采用动力马达放在工装下方，减少了对天线测试期间信号的干扰，与测试精度等影响。另外，利用该PIM测试工装对PDD天线振子进行测试可以减轻在做整机基站天线互调时候的定位难度，可以进一步提高PIM测试的精准度。
附图说明
[0024]图1为本专利技术一种用于FDD天线振子的PIM测试工装立体结构示意图；
[0025]图2为本专利技术中一种用于FDD天线振子的PIM测试工装的局部结构示意图；
[0026]图3为图2中的B的放大示意图；
[0027]图4为图1中的A的放大示意图；
[0028]附图标记说明：底座10、支架11、第一支架111、第二支架112、齿轮件12、底板13、顶板14、第一侧板15、第二侧板16、测试基座20、测试箱体面板21、天线振子反射板211、天线振子反射腔体212、第一测试箱体支架22、第二测试箱体支架23、侧护板24、下压支柱25、缓冲件26、盖板30、升降拉杆31、齿条311、支撑部312、活动部313、限位柱40、四端口主馈电缆接
口50、FDD天线振子100。
具体实施方式
[0029]本专利技术提供一种用于FDD天线振子的PIM测试工装，为使本专利技术的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下对本专利技术进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。
[0030]本
技术人员可以理解，除非另外定义，这里使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)，具有与本专利技术所属领域中的普通技术人员的一般理解相同的意义。还应该理解的是，诸如通用字典中定义的那些术语，应该被理解为具有与现有技术的上下文中的意义一致的意义，并且除非像这里一样被特定定义，否则不会用理想化或过于正式的含义来解释。
[0031]如图1所示，本专利技术提供一种用于FDD天线振子的PIM测试工装，包括：
[0032]底座10，所述底座10上设有支架11，所述支架11上设有动力马达；
[0033]测试基座20，所述测试基座20设置于所述底座10的一侧，用于测试FDD天线振子100；
[0034]盖板30，所述盖板30设于所述测试本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于FDD天线振子的PIM测试工装，其特征在于，包括：底座，所述底座上设有支架，所述支架上设有动力马达；测试基座，所述测试基座设置于所述底座的一侧，用于测试FDD天线振子；盖板，所述盖板设于所述测试基座背离所述底座的一侧；所述盖板沿所述底座方向设有至少一个升降拉杆，所述升降拉杆与所述动力马达形成活动连接；至少一个限位柱，所述限位柱设于所述底座靠近所述测试基座的一侧，且所述限位柱贯穿所述盖板，与所述盖板形成滑动连接。2.根据权利要求1所述的用于FDD天线振子的PIM测试工装，其特征在于，所述底座包括底板、顶板、以及设置于所述底板边缘且抵接于所述顶板边缘的第一侧板和第二侧板；所述第一侧板与所述第二侧板对称设置；所述支架包括第一支架和第二支架，所述第一支架与所述第二支架对称设置于所述顶板上。3.根据权利要求1所述的用于FDD天线振子的PIM测试工装，其特征在于，所述动力马达上设有齿轮件，所述升降拉杆上设有与所述齿轮件匹配的齿条。4.根据权利要求1所述的用于FDD天线振子的PIM测试工装，其特征在于，所述升降拉杆包括第一升降拉杆和第二升降拉杆；所述第一升降拉杆上设有第一齿条，所述第二升降拉杆上设有第二齿条，所述第一齿条的齿与所述第二齿条的齿对称设置。5.根据权利要求1所述的用于FDD天线振子的PIM测试工装，其特征在于，所述测试基座包括：测试箱体面板；对称设置的第一测试箱体支...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄明达，姜军生，
申请(专利权)人：深圳市飞荣达科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：