一种多探头平面近场测量方法、系统、设备及介质技术方案

一种多探头平面近场测量方法、系统、设备及介质，方法包括：将待测天线AUT与探头分别进行摆放，使探头的中心处于待测天线AUT扫描面的中心；使用探头对待测天线AUT进行扫描得到实测数据，对实测数据进行校准，得到平面近场数据；将平面近场数据通过平面多探头补偿算法，得到待测天线AUT的平面波谱，将待测天线AUT的平面波谱带入平面波谱与远场的关系式，得到待测天线AUT的远场数据；将待测天线AUT的远场数据在平面波谱与远场的关系式中的球坐标系下的坐标θ和的均匀网格下进行输出，得到多探头平面近场测量结果；系统、设备及介质，用于实现多探头平面近场测量方法；本发明专利技术具有测量时间短、测量结果准确的特点。测量时间短、测量结果准确的特点。测量时间短、测量结果准确的特点。

【技术实现步骤摘要】
一种多探头平面近场测量方法、系统、设备及介质


[0001]本专利技术涉及无线通信
，具体涉及一种多探头平面近场测量方法、系统、设备及介质。

技术介绍

[0002]在天线的平面近场测量中，一般采用单探头扫描系统如开口波导探头，来扫描待测天线AUT的近场分布，扫描面为平面，探头在平面上均匀分布的网格点上进行采样。为了获得足够的近场信息并减小截断误差，通常要求扫描平面足够大且采样点的间隔足够小即小于半个波长，使得每次测量需要很长的时间。
[0003]为了提高扫描效率，将单探头扫描系统改进为多探头扫描系统，但是多探头扫描系统与单探头扫描系统存在本质的区别。单探头采样时对于测量数据的干扰较小，而且这种干扰可以通过单探头补偿算法基本消除。但是多个探头之间的相互耦合十分复杂，使得它们对于测量数据的干扰比较严重。如果将测量数据采用现有的单探头补偿算法进行处理，那么得到待测天线AUT的方向图的误差将会很大，根本不能用于实际工程中。
[0004]文献Analysis of Probe Compensation Techniques for Fast Multi
‑
Probe Planar Near Field Measurements(F.Saccardi et al.,"Analysis of Probe Compensation Techniques for Fast Multi
‑
Probe Planar Near Field Measurements"2021Antenna Measurement Techniques Association Symposium(AMTA),Daytona Beach,FL,USA,2021,pp.1
‑
6,do:10.23919/AMTA52830.2021.9620698.)提供了两种测量方法，其中，第一种方法是计算各个探头方向图的平均值(The first method is based on the pattern characterization of asufficient number of different probes which is exploited to compute the average probe pattern(APP).)，第二种方法是让多探头阵列中某一个探头的方向图作为等效的多探头方向图(The second method is based on the on
‑
site calibration of the multi
‑
probe array to retrieve an EMPP able to represent the behavior ofthe entire probe array.)。两种方法的核心思想都是忽略多个探头之间平面波谱的差异，将多探头的平面波谱等效为单探头的平面波谱。这样多探头问题被化简为传统的单探头补偿问题。由于两种方法都做了近似等效，因此都无法准确的计算出待测天线的远场数据。

技术实现思路

[0005]为了克服上述现有技术的缺点，本专利技术的目的在于提供一种多探头平面近场测量方法、系统、设备及介质，采用平面多探头补偿算法，从待测天线AUT与探头间的耦合方程出发，将耦合方程化简并整理得到一个极化分量相互分离的积分方程，将积分方程离散化为矩阵方程形式，该矩阵方程可通过矩阵求逆的方式求出待测天线AUT的平面波谱，最终得到多探头平面近场测量结果，因此具有测量时间短、测量结果准确的特点。
[0006]一种多探头平面近场测量方法，包括以下步骤：
[0007]步骤1：将待测天线AUT与探头分别进行摆放，使得探头的中心处于待测天线AUT扫描面的中心；
[0008]步骤2：使用探头对待测天线AUT进行扫描得到实测数据，对实测数据进行校准，得到平面近场数据；
[0009]步骤3：将步骤2得到的平面近场数据通过平面多探头补偿算法，得到待测天线AUT的平面波谱，将待测天线AUT的平面波谱带入平面波谱与远场的关系式，得到待测天线AUT的远场数据；
[0010]步骤4：将步骤3得到的待测天线AUT的远场数据在步骤3中所述的平面波谱与远场的关系式中的球坐标系下的坐标θ和的均匀网格下进行输出，得到多探头平面近场测量结果。
[0011]所述步骤1的具体过程为：
[0012]调整待测天线AUT与探头的摆放位置，确保待测天线AUT口面与探头口面平行，同时保证待测天线AUT口面与探头的几何中心位于同一水平线上，且探头位于待测天线AUT的近场区，此时探头处于待测天线AUT的扫描面的中心。
[0013]所述步骤2的具体过程为：
[0014]使用步骤1处于待测天线AUT扫描面中心的探头对待测天线AUT进行扫描，得到待测天线AUT的实测数据，使用探头对标准天线进行扫描得到校准数据，实测数据减去校准数据得到平面近场数据。
[0015]所述步骤3的具体过程为：
[0016]步骤3.1：将步骤2得到的平面近场数据通过平面多探头补偿算法，求出待测天线AUT的平面波谱；具体如下：
[0017]由互易定理得待测天线AUT与探头间的耦合方程：
[0018][0019]其中，ω为角频率，μ为磁导率，P(r)为探头的接收信号，T(k
x
,k
y
)和G(k'
x
,k'
y
)为待测天线AUT和探头的平面波谱，为待测天线AUT扫描面上的点，d为扫描平面与待测天线AUT口面的距离，k'＝
‑
k，k，为矢量波数，k
x
，k
y
为独立变量，
[0020]将式(1)中待测天线AUT平面波谱与探头平面波谱的矢量点乘在直角坐标系下展开化简：
[0021][0022]其中，T
x
(k)和T
y
(k)分别为待测天线AUT平面波谱T(k)的x方向和y方向分量；g
x
(k,r)和g
y
(k,r)是以k和r为自变量的两个函数；
[0023][0024][0025]其中，G
x
(k',r)和G
y
(k',r)分别为探头平面波谱G(k',r)的x方向和y方向分量；
[0026]将式(3)直接离散化展开得：
[0027][0028]其中，P1,P2,P3,
……
,P
m
表示P(r)的不同值，k1,k2,k3,.....,k
n
表示k的不同值，r1,r2,r3,
……
,r
m
表示r的不同值；
[0029]将式(6)写为矩阵形式：
[0030]P
m
×1＝g
m
×
n
T
n
×1ꢀꢀꢀ
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多探头平面近场测量方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1：将待测天线AUT与探头分别进行摆放，使得探头的中心处于待测天线AUT扫描面的中心；步骤2：使用探头对待测天线AUT进行扫描得到实测数据，对实测数据进行校准，得到平面近场数据；步骤3：将步骤2得到的平面近场数据通过平面多探头补偿算法，得到待测天线AUT的平面波谱，将待测天线AUT的平面波谱带入平面波谱与远场的关系式，得到待测天线AUT的远场数据；步骤4：将步骤3得到的待测天线AUT的远场数据在步骤3中所述的平面波谱与远场的关系式中的球坐标系下的坐标θ和的均匀网格下进行输出，得到多探头平面近场测量结果。2.根据权利要求1所述的一种多探头平面近场测量方法，其特征在于，所述步骤1的具体过程为：调整待测天线AUT与探头的摆放位置，确保待测天线AUT口面与探头口面平行，同时保证待测天线AUT口面与探头的几何中心位于同一水平线上，且探头位于待测天线AUT的近场区，此时探头处于待测天线AUT的扫描面的中心。3.根据权利要求1所述的一种多探头平面近场测量方法，其特征在于，所述步骤2的具体过程为：使用步骤1处于待测天线AUT扫描面中心的探头对待测天线AUT进行扫描，得到待测天线AUT的实测数据，使用探头对标准天线进行扫描得到校准数据，实测数据减去校准数据得到平面近场数据。4.根据权利要求1所述的一种多探头平面近场测量方法，其特征在于，所述步骤3的具体过程为：步骤3.1：将步骤2得到的平面近场数据通过平面多探头补偿算法，求出待测天线AUT的平面波谱；具体如下：由互易定理得待测天线AUT与探头间的耦合方程：其中，ω为角频率，μ为磁导率，P(r)为探头的接收信号，T(k
x
,k
y
)和G(k'
x
,k'
y
)为待测天线AUT和探头的平面波谱，为待测天线AUT扫描面上的点，d为扫描平面与待测天线AUT口面的距离，k'＝
‑
k，k，为矢量波数，k
x
，k
y
为独立变量，将式(1)中待测天线AUT平面波谱与探头平面波谱的矢量点乘在直角坐标系下展开化简：
其中，T
x
(k)和T
y
(k)分别为待测天线AUT平面波谱T(k)的x方向和y方向分量；g
x
(k,r)和g
y
(k,r)是以k和r为自变量的两个函数；(k,r)是以k和r为自变量的两个函数；其中，G
x
(k',r)和G
y
(k',r)分别为探头平面波谱G(k',r)的x方向和y方向分量；将式(3)直接离散化展开得：其中，P1,P2,P3,...

【专利技术属性】
技术研发人员：袁浩波，李玉洁，杨普，王楠楠，
申请(专利权)人：西安电子科技大学，
类型：发明
国别省市：