一种无源相控阵天线的测试系统技术方案

本发明专利技术涉及天线测试技术领域，具体涉及一种无源相控阵天线的测试系统，包括测试子系统、模板绘制子系统、关键提取子系统、录入子系统和显示子系统，首先，所述测试子系统对目标天线进行性能测试，得到当前性能结果；同时，所述模板绘制子系统绘制显示框架；随后，所述关键提取子系统基于所述显示框架的需求内容提取所述当前性能结果中的关键数据；接着，所述录入子系统将所述关键数据录入所述显示框架，得到显示模型；最后，所述显示子系统显示所述显示模型，实现了对所述当前性能结果的可视化显示，便于阅读理解，解决了现有的测试系统测试完成后的数据不便于阅读理解的问题。试完成后的数据不便于阅读理解的问题。试完成后的数据不便于阅读理解的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种无源相控阵天线的测试系统


[0001]本专利技术涉及天线测试
，尤其涉及一种无源相控阵天线的测试系统。

技术介绍

[0002]在无源相控阵天线中，天线正常工作的数量直接影响到整个天线的性能指标，因此需要对天线阵面中天线阵元进行测试。
[0003]现有的测试系统对天线测试完成后的数据没有进行整理，会影响阅读理解的效率。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种无源相控阵天线的测试系统，旨在解决现有的测试系统测试完成后的数据不便于阅读理解的问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供了一种无源相控阵天线的测试系统，包括测试子系统、模板绘制子系统、关键提取子系统、录入子系统和显示子系统，所述测试子系统、所述模板绘制子系统、所述关键提取子系统、所述录入子系统和所述显示子系统依次连接；
[0006]所述测试子系统，用于对目标天线进行性能测试，得到当前性能结果；
[0007]所述模板绘制子系统，用于绘制显示框架；
[0008]所述关键提取子系统，用于基于所述显示框架的需求内容提取所述当前性能结果中的关键数据；
[0009]所述录入子系统，用于将所述关键数据录入所述显示框架，得到显示模型；
[0010]所述显示子系统，用于显示所述显示模型。
[0011]其中，所述关键提取子系统包括模型构建模块、训练模块和输入模块，所述模型构建模块、所述训练模块和所述输入模块依次连接；
[0012]所述模型构建模块，用于构建监督学习模型；
[0013]所述训练模块，用于使用历史性能结果数据对所述监督学习模型进行训练，得到关键提取模型；
[0014]所述输入模块，用于将所述当前性能结果输入所述关键提取模型进行训练，得到关键数据。
[0015]其中，所述训练模块包括数据获取子模块、预处理子模块、训练子模块和验证子模块，所述数据获取子模块、所述预处理子模块、所述训练子模块和所述验证子模块依次连接；
[0016]所述数据获取子模块，用于获取历史性能结果；
[0017]所述预处理子模块，用于对所述历史性能结果进行预处理，得到训练集和验证集；
[0018]所述训练子模块，用于使用所述训练集对所述监督学习模型进行训练，得到预训练模型；
[0019]所述验证子模块，用于使用所述验证集对所述预训练模型进行验证寻优，得到关
键提取模型。
[0020]其中，所述预处理包括对所述历史性能结果依次进行清洗、筛选、转换、特征选择和划分。
[0021]其中，所述训练集和验证集的比例为8:2。
[0022]其中，所述测试子系统包括状态检测模块、综测仪、移相器、多测试天线和判断模块，所述状态检测模块、所述综测仪、所述移相器、所述多测试天线和所述判断模块依次连接；
[0023]所述状态检测模块，用于检测目标天线的工作状态，并在工作状态为接受信号时，触发所述综测仪；
[0024]所述综测仪，用于向所述移相器发送多个信号；
[0025]所述移相器，用于调整多个所述信号中至少一个信号的相位，得到调整信号，并将所述调整信号发送给所述多测试天线；
[0026]所述多测试天线，用于向所述目标天线发射所述调整信号；
[0027]所述判断模块，根据所述目标天线接受的所述调整信号确定所述目标天线的接受功率，得到当前性能结果。
[0028]其中，所述无源相控阵天线的测试系统还包括屏蔽子系统，所述屏蔽子系统与所述测试子系统连接；
[0029]所述屏蔽子系统，用于所述测试子系统在对所述目标天线进行性能测试时，屏蔽外界磁场。
[0030]本专利技术的一种无源相控阵天线的测试系统，首先，所述测试子系统对目标天线进行性能测试，得到当前性能结果；同时，所述模板绘制子系统绘制显示框架；随后，所述关键提取子系统基于所述显示框架的需求内容提取所述当前性能结果中的关键数据；接着，所述录入子系统将所述关键数据录入所述显示框架，得到显示模型；最后，所述显示子系统显示所述显示模型，实现了对所述当前性能结果的可视化显示，便于阅读理解，解决了现有的测试系统测试完成后的数据不便于阅读理解的问题。
附图说明
[0031]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0032]图1是本专利技术提供的一种无源相控阵天线的测试系统的结构示意图。
[0033]图2是关键提取子系统的结构示意图。
[0034]图3是训练模块的结构示意图。
[0035]图4是测试子系统的结构示意图。
[0036]图5是显示子系统的结构示意图。
[0037]1‑
测试子系统、2
‑
模板绘制子系统、3
‑
关键提取子系统、4
‑
录入子系统、5
‑
显示子系统、6
‑
模型构建模块、7
‑
训练模块、8
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输入模块、9
‑
数据获取子模块、10
‑
预处理子模块、11
‑
训练子模块、12
‑
验证子模块、13
‑
状态检测模块、14
‑
综测仪、15
‑
移相器、16
‑
多测试天
线、17
‑
判断模块、18
‑
屏蔽子系统、19
‑
安装模块、20
‑
高度调整模块、21
‑
显示模块、22
‑
亮度调整模块。
具体实施方式
[0038]下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。
[0039]请参阅图1至图5，本专利技术提供一种无源相控阵天线的测试系统，包括测试子系统1、模板绘制子系统2、关键提取子系统3、录入子系统4和显示子系统5，所述测试子系统1、所述模板绘制子系统2、所述关键提取子系统3、所述录入子系统4和所述显示子系统5依次连接；
[0040]所述测试子系统1，用于对目标天线进行性能测试，得到当前性能结果；
[0041]所述模板绘制子系统2，用于绘制显示框架；
[0042]所述关键提取子系统3，用于基于所述显示框架的需求内容提取所述当前性能结果中的关键数据；
[0043]所述录入子系统4，用于将所述关键数据录入所述显示框架，得到显示模型；
[0044]所述显示子系统5，用于显示所述显示本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种无源相控阵天线的测试系统，其特征在于，包括测试子系统、模板绘制子系统、关键提取子系统、录入子系统和显示子系统，所述测试子系统、所述模板绘制子系统、所述关键提取子系统、所述录入子系统和所述显示子系统依次连接；所述测试子系统，用于对目标天线进行性能测试，得到当前性能结果；所述模板绘制子系统，用于绘制显示框架；所述关键提取子系统，用于基于所述显示框架的需求内容提取所述当前性能结果中的关键数据；所述录入子系统，用于将所述关键数据录入所述显示框架，得到显示模型；所述显示子系统，用于显示所述显示模型。2.如权利要求1所述的无源相控阵天线的测试系统，其特征在于，所述关键提取子系统包括模型构建模块、训练模块和输入模块，所述模型构建模块、所述训练模块和所述输入模块依次连接；所述模型构建模块，用于构建监督学习模型；所述训练模块，用于使用历史性能结果数据对所述监督学习模型进行训练，得到关键提取模型；所述输入模块，用于将所述当前性能结果输入所述关键提取模型进行训练，得到关键数据。3.如权利要求2所述的无源相控阵天线的测试系统，其特征在于，所述训练模块包括数据获取子模块、预处理子模块、训练子模块和验证子模块，所述数据获取子模块、所述预处理子模块、所述训练子模块和所述验证子模块依次连接；所述数据获取子模块，用于获取历史性能结果；所述预处理子模块，用于对所述历史性能结果进行预处理，得到训练集和验证集；所述训练子模块，...

【专利技术属性】
技术研发人员：董晓华，安洁，
申请(专利权)人：光古成都微波科技有限公司，
类型：发明
国别省市：