一种天线辐射单元阵面微波性能测试装置与方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种天线辐射单元阵面微波性能测试装置与方法，所述装置包括：测试平台，用于支撑整个装置；设置在所述测试平台上的自动移载机构、微波测试仪器、测试执行机构、物料缓存平台、主控系统；装夹及周转测试产品的载具；所述自动移载机构其与所述主控系统连接，所述自动移载机构用于所述载具的放置或取出。本发明专利技术提供的一种天线辐射单元阵面微波性能测试装置，一次启动可自动完成四套产品的测试，测试过程不需要人工介入、自动化程度高、测试过程安全，提高了测试效率；提高了测试插头的有效使用次数；实现对天线辐射单元阵面微波性能的快速判定。性能的快速判定。性能的快速判定。

【技术实现步骤摘要】
一种天线辐射单元阵面微波性能测试装置与方法


[0001]本专利技术涉及天线辐射单元测试
，具体涉及一种天线辐射单元阵面微波性能测试装置与方法。

技术介绍

[0002]天线辐射单元是雷达天线的重要组成部分，多个天线辐射单元按一定排列构成辐射阵面，用于实现电磁信号的发射与接收。天线辐射单元阵面在使用前需对其驻波系数等性能进行测试，测试方法为将测试线缆一端连接在矢量网络分析仪测试端口中，另一端插入天线辐射单元的射频连接器中，按照预设程序进行微波性能测试。
[0003]由于雷达天线的天线辐射单元通道数达到数百个，每个通道均需进行测试，采用手工测试手段需要反复进行测试插头插拔、测试程序启动、测试数据记录等工作，存在工作强度大、效率低等问题。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是为了提供一种用于天线辐射单元阵面微波性能的自动化测试装置与方法，可实现天线辐射单元阵面的自动上下料和微波性能的自动化测试，并且测试过程安全、可靠。
[0005]为达到上述目的，本专利技术通过以下技术方案实现：
[0006]一方面，本专利技术提供了一种天线辐射单元阵面微波性能测试装置，包括：测试平台，用于支撑整个装置；设置在所述测试平台上的自动移载机构、微波测试仪器、测试执行机构、物料缓存平台、主控系统；装夹及周转测试产品的载具；
[0007]所述自动移载机构其与所述主控系统连接，所述自动移载机构用于所述载具的放置或取出；
[0008]所述微波测试仪器用于实现微波信号发射、接收及测试分析；
[0009]所述测试执行机构用于对载具进行装夹固定，并执行测试运动；
[0010]所述物料缓存平台用于对载具进行分区域放置，并对载具的叠放数量进行自动检测；
[0011]所述主控系统用于对整个装置的运动和测试进行集成控制；
[0012]所述载具用于安装固定天线辐射单元阵面，并且设有与自动移载机构、测试执行机构、物料缓存平台匹配的装夹定位接口。
[0013]优选的，所述自动移载机构包括：
[0014]六轴机器人，其安装在所述测试平台上，用于实现所述载具上下料所需的运动；
[0015]夹持支座，其设置在所述六轴机器人的末端，所述夹持支座为框架结构；
[0016]双滑块电缸，其设置在所述夹持支座内，所述双滑块电缸的两端各设有一滑块；
[0017]载具夹爪，其设置有两个，两个所述载具夹爪分别与两个所述滑块连接，以在所述双滑块电缸的驱动下实现抓取或松开所述载具；
[0018]扫码枪，其设置在所述夹持支座的侧壁，以读取所述载具的信息。
[0019]优选的，所述测试执行机构包括：XZ两轴模组、测试插拔机构、测试基座、载具压紧机构，
[0020]所述测试基座安装在所述测试平台上，用于支撑整个所述测试执行机构；
[0021]所述XZ两轴模组安装在所述测试基座上，用于测试所述插拔机构沿XZ方向移动至各测试位置；
[0022]所述测试插拔机构安装在所述XZ两轴模组上，用于实现测试插拔动作；
[0023]所述载具压紧机构设有两组，分别用于对所述载具的上方和下方对进行顶紧。
[0024]优选的，所述测试基座上设有测试窗口、载具到位检测系统及测试定位销孔，
[0025]所述测试窗口为按测试面设计的缺口，以保证测试的准确性；
[0026]所述载具到位检测系统采用光电传感器检测所述载具的安装到位情况；
[0027]所述测试定位销孔用于载具在测试状态下的定位。
[0028]优选的，所述测试插拔机构包括：连接板、测试电推杆、移动架、导柱、测试插头、滑动块、缓冲弹簧、插头支座及测试线缆，
[0029]所述连接板安装在所述XZ两轴模组的X轴移动块上；
[0030]所述测试电推杆固定部分与连接板相连，移动部分与移动架相连，在测试电推杆驱动下移动架可进行前后移动；
[0031]所述导柱设有两个，均安装在移动架的安装孔内；
[0032]所述滑动块穿设在导柱上，可沿导柱滑动；
[0033]所述缓冲弹簧设有两个，穿设在导柱上，缓冲弹簧一端与滑动块相连，另一端与移动架内侧面相连；
[0034]所述插头支座与滑动块相连，用于安装测试插头；
[0035]所述测试线缆一端与测试插头相连，另一端与微波测试仪器相连，用于微波信号传输。
[0036]优选的，所述载具压紧机构包括：压紧电推杆、压紧支撑座及推压杆；
[0037]所述压紧支撑座安装在测试基座上；
[0038]所述压紧电推杆固定部分安装在压紧支撑座上，移动部分与推压杆相连，压紧电推杆驱动推压杆运动，实现对载具的顶紧或松开。
[0039]优选的，所述载具包括：二维码块、载具基板、夹持定位销、产品定位销、垫块、载具定位销套及载具压板：
[0040]所述载具基板为所述载具的主体支撑结构；
[0041]所述二维码块安装在所述载具基板背面，用于标识所述载具；
[0042]所述夹持定位销位于载具基板左右两侧面，用于载具夹爪抓取载具状态下的定位；
[0043]所述产品定位销安装在载具基板中，用于对待测产品进行定位；
[0044]所述垫块安装在载具基板上下两侧面，在测试时，载具压紧机构的推压杆对垫块施加压紧力，实现载具固定；
[0045]所述载具定位销套用于在测试状态下载具的定位，结构上包括定位销、定位孔、压紧缺口；
[0046]所述定位销用于测试时与测试基板的测试定位销孔配合；
[0047]所述定位孔与定位销相配合，用于载具的叠放定位；
[0048]所述压紧缺口用于载具定位销套在载具上的固定；
[0049]所述载具压板用于对天线辐射单元阵面进行压紧。
[0050]优选的，所述物料缓存平台包括：支撑柱、定位柱、物料检测系统及物料搁板，
[0051]所述支撑柱安装在测试平台上，用于支撑物料搁板；
[0052]所述物料搁板用于放置载具，从左至右分为待测产品区域、合格产品区域和不合格产品区域，每个物料存放区域均可叠放四套载具；
[0053]所述定位柱安装在物料搁板上，在每个物料存放区域均设有一组，每组数量为四个，用于载具的定位，每组的定位柱间距采用不等距设计，可避免载具位置反装和错位；
[0054]所述物料检测系统安装在物料搁板上，在每个物料存放区域均设有一套，每套系统从上到下设有与载具高度相匹配的四个位置传感器，用于对载具的放置层数进行检测。
[0055]另一方面，本专利技术还提供了一种天线辐射单元阵面微波性能测试方法，采用上述的天线辐射单元阵面微波性能测试装置，所述方法包括：
[0056]步骤1：所述天线辐射单元阵面由多个天线辐射单元按一定阵列安装在载具中，并通过通过载具压板进行压紧；
[0057]步骤2：所述载具叠放在物料缓存平台的待测产品区域；
[0058]步骤3：所述自动移载本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种天线辐射单元阵面微波性能测试装置，其特征在于，包括：测试平台(3)，用于支撑整个装置；设置在所述测试平台(3)上的自动移载机构(1)、微波测试仪器(2)、测试执行机构(4)、物料缓存平台(5)、主控系统(6)及载具(7)；所述自动移载机构(1)与所述主控系统(6)连接，用于所述载具(7)的放置或取出；所述微波测试仪器(3)用于实现微波信号发射、接收及测试分析；所述测试执行机构(4)用于对所述载具(7)进行装夹固定，并执行测试运动；所述物料缓存平台(5)用于对所述载具(7)进行分区域放置，并对载具(7)的叠放数量进行自动检测；所述主控系统(6)用于对整个装置的运动和测试进行集成控制；所述载具(7)用于安装固定天线辐射单元阵面(8)，所述载具(7)上设有与所述自动移载机构(1)、所述测试执行机构(4)及所述物料缓存平台(5)匹配的装夹定位接口。2.如权利要求1所述的天线辐射单元阵面微波性能测试装置，其特征在于，所述自动移载机构(1)包括：六轴机器人(15)，其安装在所述测试平台(3)上，用于实现所述载具(7)上下料所需的运动；夹持支座(12)，其设置在所述六轴机器人(15)的末端，所述夹持支座(12)为框架结构；双滑块电缸(13)，其设置在所述夹持支座(12)内，所述双滑块电缸(13)的两端各设有一滑块；载具夹爪(11)，其设置有两个，两个所述载具夹爪(11)分别与两个所述滑块连接，以在所述双滑块电缸(13)的驱动下实现抓取或松开所述载具(7)；扫码枪(14)，其设置在所述夹持支座的侧壁，以读取所述载具(7)的信息。3.如权利要求2所述的天线辐射单元阵面微波性能测试装置，其特征在于，所述测试执行机构(4)包括：XZ两轴模组(41)、测试插拔机构(42)、测试基座(43)、载具压紧机构(44)，所述测试基座(43)安装在所述测试平台上，用于支撑整个所述测试执行机构(4)；所述XZ两轴模组(41)安装在所述测试基座(43)上，用于测试所述插拔机构(42)沿XZ方向移动至各测试位置；所述测试插拔机构(42)安装在所述XZ两轴模组(41)上，用于实现测试插拔动作；所述载具压紧机构(44)设有两组，分别用于对所述载具(7)的上方和下方对进行顶紧。4.如权利要求3所述的天线辐射单元阵面微波性能测试装置，其特征在于，所述测试基座(43)上设有测试窗口(431)、载具到位检测系统(432)及测试定位销孔(433)，所述测试窗口(431)为按测试面设计的缺口，以保证测试的准确性；所述载具到位检测系统(432)采用光电传感器检测所述载具(7)的安装到位情况；所述测试定位销孔(433)用于所述载具(7)在测试状态下的定位。5.如权利要求4所述的天线辐射单元阵面微波性能测试装置，其特征在于，所述测试插拔机构(42)包括：连接板(421)、测试电推杆(422)、移动架(423)、导柱(424)、测试插头(425)、滑动块(426)、缓冲弹簧(427)、插头支座(428)及测试线缆(429)，所述连接板(421)安装在所述XZ两轴模组(41)的X轴移动块(411)上；所述测试电推杆(422)的固定部分与所述连接板(421)相连，所述测试电推杆(422)的移动部分与所述移动架(423)相连，在所述测试电推杆(422)驱动下所述移动架(423)可进
行前后移动；所述导柱(424)设有两个，均安装在所述移动架(423)的安装孔内；所述滑动块(426)穿设在导柱(424)上，可沿所述导柱(424)滑动；所述缓冲弹簧(427)设有两个，穿设在所述导柱(424)上，所述缓冲弹簧(427)的一端与所述滑动块(426)相连，所述缓冲弹簧(427)的另一端与所述移动架(423)内侧面相连；所述插头支座(428)与所述滑动块(426)相连，用于所述安装测试插头(425)；所述测试线缆(429)的一端与所述测试插头(425)相连，所述测试线缆(429)的另一端与所述微波测试仪器(2)相连，用于微波信号传输。6.如权利要求5所述的天线辐射单元阵面微波性能测试装置，其特征在于，所述载具压紧机构(44)包括：压紧电推杆(441)、压紧支撑座(442)及推压杆(443)；所述压紧支撑座(442)安装在所述测试基座(43)上；所述压紧电推杆(441)的固定部分安装在所述压紧支撑座(442)上，所述压紧电推杆(441)的移动部分与所述推压杆(443)相连，所述压紧电推杆(441)驱动所述推压杆(443)运动，实现对所述载具(7)的顶紧或松开。7.如权利要求6所述的天线辐射单元阵面微波性能测试装置，其特征在于，所述载具包括：二维码块(71)、载具基板(72)、夹持定位销(73)...

【专利技术属性】
技术研发人员：曾照勇，刘剑，田晓青，陈伟雄，张敏，蒋海峰，
申请(专利权)人：上海无线电设备研究所，
类型：发明
国别省市：