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本发明公开了一种天线辐射单元阵面微波性能测试装置与方法，所述装置包括：测试平台，用于支撑整个装置；设置在所述测试平台上的自动移载机构、微波测试仪器、测试执行机构、物料缓存平台、主控系统；装夹及周转测试产品的载具；所述自动移载机构其与所述主控...
该专利属于上海无线电设备研究所所有，仅供学习研究参考，未经过上海无线电设备研究所授权不得商用。

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