一种测量高功率大型反射面天线EIRP的方法技术

本发明专利技术公开了一种测量高功率大型反射面天线EIRP的方法，涉及反射面天线性能测量的技术领域。本发明专利技术首先在待测天线辐射近场区的不同距离处，测量待测天线近区功率密度的大小；然后依据待测反射面天线的口面场分布函数，计算不同距离处轴向近区功率密度修正因子；由测量的不同距离处近区功率密度和轴向近区功率密度修正因子，计算待测天线EIRP的大小；最后对不同距离处测量的EIRP进行算术平均，确定高功率大型反射面天线EIRP的大小。本发明专利技术的方法简单可行，具有推广和应用价值。具有推广和应用价值。具有推广和应用价值。

【技术实现步骤摘要】
一种测量高功率大型反射面天线EIRP的方法


[0001]本专利技术涉及反射面天线性能测量的
，特别适用于高功率大型反射面天线EIRP(equivalent isotropic radiatedpower，等效全向辐射功率)的测量。

技术介绍

[0002]随着雷达技术、深空探测技术和卫星通信侦察干扰技术的快速发展，高功率大型反射面天线获得了广泛的应用。高功率大型反射面天线的EIRP表征了地面站天线系统的发射能力，它等于天线的发射功率与发射增益的乘积(用分贝表示就是天线发射功率与发射增益之和)，EIRP是地面站天线系统重要技术指标之一，精确测量地面站天线EIRP是非常重要的。地面站天线EIRP测量的传统方法有：远场间接法和远场直接法。所谓远场间接法就是分别测量天线的发射功率和发射增益，从确定EIRP的方法；远场直接法就是通过测量标准增益天线接收的待测天线发射的信号功率电平，利用远场功率传输方程计算地面站天线EIRP的方法。远场法测量天线的首要条件是：发射天线和接收天线之间的距离满足远场测试距离条件，即R≥2D2/λ(R发射天线和接收天线之间的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测量高功率大型反射面天线EIRP的方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)测量不同距离处的近区功率密度，具体方式为：在待测天线近场区内，依次在不同距离处设置标准增益喇叭，标准增益喇叭到待测天线口面的距离R满足在距离R
i
处，调整待测天线与标准增益喇叭轴线对准且极化匹配，用频谱分析仪测量标准增益喇叭接收的信号功率电平，用P
m
(R
i
)表示，单位为dBm；用下式计算不同距离处的近区功率密度：式中：PD(R
i
)—待测天线在距离R
i
处的近区功率密度，dBW/m2；l—工作波长，m；P
m
(R
i
)—待测天线在距离R
i
处频谱分析仪测量的信号功率电平，dBm；L
RF
—标准增益喇叭与频谱分析仪之间射频电缆损耗，dB；G
SGH
—标准增益喇叭的增益，dBi；N—正整数，N≥3；(2)计算轴向近区功率密度修正因子，具体方式为：根据待测天线的口面场分布函数、测试距离和天线口径，利用下式计算待测天线的轴向近区功率密度修正因子：式中：PDCF(R
i
)—待测天线在距离R
i
处的轴向近区功率密度修正因子；f(x)—待测天线的口面场分布函数；β
i
—距离因子，x—对待测天线口面半径进行归一化的变量j—虚数单位；(3)计算待测天线EIRP，具体方式为：由测量的不同距离处的近区功率密度及相应的轴向近区功率密度修正因子，利用下式计算待测天线的EIRP：式中：
EIRP—待测天线的等效全向辐射功率，dBW；A—待测天线口面面积，m2；完成高功率大型反射面天线EIRP的测量。2.根据权利要求1所述的一种测量高功率大型反射面天线EIRP的方法，其特征在于，步骤(1)中测量不同距离处的近区功率密度方法为：在室外天线测...

【专利技术属性】
技术研发人员：秦顺友，张世龙，伍洋，李振生，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第五十四研究所，
类型：发明
国别省市：