图像传感芯片用检测设备制造技术

本实用新型专利技术提供一种图像传感芯片用检测设备，测试模块包括设于承载平台的测试治具以及位于所述测试治具上方的第一相机；其中，传输模块传送所述图像传感芯片至所述测试治具以进行图像功能测试的同时，所述第一相机对所述图像传感芯片进行至少一面的外观检测。通过将图像功能测试及自动光学检测集成于一台检测设备，以共享上料模块、下料模块、传输模块、传拣模块、承载平台及控制模块等，从而有效降低设备成本。而且，所述检测设备大大节省车间占用面积，节省运营成本。人工对若干图像传感芯片进行上料前擦拭，仅需要一次上料至检测设备以完成图像功能测试及自动光学检测，以及一次下料，从而节省搬运时间，并简化检测流程。并简化检测流程。并简化检测流程。

【技术实现步骤摘要】
图像传感芯片用检测设备


[0001]本技术涉及图像传感芯片
，具体涉及一种图像传感芯片用检测设备。

技术介绍

[0002]互补金属氧化物半导体（Complementary Metal
‑
Oxide
‑
Semiconductor，CMOS）传感器是利用感光二极管进行光电转换，将图像转换为数字数据的一种图像传感芯片。CMOS传感器主要分为前照式（Frontside Illumination，FSI）图像传感芯片和背照式（Backside Illumination，BSI）图像传感芯片。
[0003]当图像传感芯片被生产出来后，需要对其进行测试，以确保产品的质
[0004]量。其中，图像功能测试设备涵盖了电子、机械、光学、计算机软硬件等方面的知识，涉及图像处理、PC应用、模式识别、信号处理、人工智能、机电一体化等多个领域，在图像传感芯片的生产中发挥着非常重要的作用。自动光学检测技术（Automatic Optical Inspection，AOI）综合采用自动控制、图像分析处理、电子计算机应用等多种技术，基于光学原理对生产中遇到的外观图像，比如焊接缺陷进行检测和处理，是一种能快速、准确检测出制造缺陷的方法，避免生产过程中的巨大损失。
[0005]随着科技的发展，图像功能测试设备及AOI设备均作极其重要的检测手段，在图像传感芯片的生产中都起到了不可替代的作用。即便如此，在图像传感芯片的从业人员日渐增多，且市场逐步扩大的前提下，图像功能测试设备及AOI设备分开售卖及运营的现状由来已久，目前尚未有检测设备综合上述两种功能。
[0006]此外，现有的图像传感芯片需先后流经两台设备以分别进行图像功能测试及自动光学检测。具体的，将待测的图像传感芯片擦拭干净，上料到图像功能测试设备以进行图像功能测试并分等级，然后下料。人员将测试合格的图像传感芯片再次擦拭干净，上料到自动光学检测设备以将图像传感芯片的脏污和锡球面异常检测出，对产品进行分等级、并拼成整盘，然后下料。
[0007]因此，上述方案存在以下缺陷：
[0008]图像功能测试设备及AOI设备的测试设备成本较高，尤其是占地面积大不利于生产线部署，且测试效率低等；
[0009]图像功能测试设备及AOI设备之间需要人员上下料，不仅需要投入大量人力，而且，图像传感芯片在不同设备间移动的过程会耗费许多工时，而且，搬运过程存在颗粒污染等隐患，不利于质量管控。
[0010]由此可见，图像传感芯片亟需推出新的检测设备，来解决上述问题。

技术实现思路

[0011]基于以上考虑，本技术提供一种图像传感芯片用检测设备，将图像功能测试及自动光学检测集成于一体。
[0012]本技术提供一种图像传感芯片用检测设备，包括：测试模块及传输模块，所述测试模块包括设于承载平台的测试治具以及位于所述测试治具上方的第一相机；其中，所述传输模块传送所述图像传感芯片至所述测试治具以进行图像功能测试的同时，所述第一相机对所述图像传感芯片进行至少一面的外观检测。
[0013]优选的，第一相机抓取至少一所述图像传感芯片的位置及外观图像。
[0014]优选的，至少一测试治具以放置所述传输模块单次传送的至少一所述图像传感芯片。
[0015]优选的，所述外观检测包括正面和/或至少一侧面检测，所述测试治具设有遮光盖，所述遮光盖开启时以进行所述正面和/或至少一侧面检测以及闭合时以进行所述图像功能测试。
[0016]优选的，所述第一相机对至少一所述图像传感芯片进行正面和/或侧面检测。
[0017]优选的，所述图像传感芯片的感光面朝向或背向所述第一相机。
[0018]优选的，所述测试模块包括沿所述传输模块的传送路径设置的第二相机以对至少一所述图像传感芯片进行背面和/或至少另一侧面检测。
[0019]优选的，所述传输模块吸取或抓取所述图像传感芯片。
[0020]通过第一相机同时抓取所述图像传感芯片的位置及外观图像，图像功能测试及自动光学检测集成于一台检测设备，共享上料模块、下料模块、传输模块、传拣模块、承载平台及控制模块等，从而有效降低设备成本。
[0021]进一步地，人工对若干图像传感芯片进行上料前擦拭，仅需要一次上料至检测设备以完成图像功能测试及自动光学检测，以及一次下料，从而节省搬运时间，并简化检测流程。
[0022]进一步地，所述检测设备兼具图像功能测试及自动光学检测，大大节省车间占用面积，节省运营成本。
附图说明
[0023]通过参照附图阅读以下所作的对非限制性实施例的详细描述，本技术的其它特征、目的和优点将会变得更明显。
[0024]图1示出本技术实施例的一种图像传感芯片用检测设备的结构示意图；
[0025]图2示出本技术实施例的一种图像传感芯片用检测方法的流程示意图。
[0026]在图中，贯穿不同的示图，相同或类似的附图标记表示相同或相似的装置（模块）或步骤。
实施方式
[0027]为使本技术的内容更加清楚易懂，以下结合说明书附图，对本技术的内容作进一步说明。当然本技术并不局限于该具体实施例，本领域内的技术人员所熟知的一般替换也涵盖在本技术的保护范围内。
[0028]需要说明的是，在下述的具体实施方式中，在详述本技术的实施方式时，为了清楚地表示本技术的结构以便于说明，特对附图中的结构不依照一般比例绘图，并进行了局部放大、变形及简化处理，因此，应避免以此作为对本技术的限定来加以理解。
[0029]本技术的图像传感芯片用检测设备包括测试模块及传输模块，所述测试模块包括设于承载平台的测试治具以及位于所述测试治具上方的第一相机；其中，所述传输模块传送所述图像传感芯片至所述测试治具以进行图像功能测试的同时，所述第一相机对所述图像传感芯片进行至少一面的外观检测。
[0030]通过对所述图像传感芯片进行图像功能测试的同时，对所述图像传感芯片进行外观检测。本技术采用一台检测设备，将图像功能测试及自动光学检测集成于一体，以共享上料模块、下料模块、传输模块、传拣模块、承载平台及控制模块等，从而有效降低设备成本。
[0031]如图1所示，图1示出本技术实施例的一种图像传感芯片用检测设备的结构示意图。所述检测设备包括上料工位、检测工位、传拣工位及下料工位。
[0032]传输模块将位于上料工位的若干待检测的图像传感芯片传送至检测工位，所述传输模块单次传送至少一所述图像传感芯片。比如，通过并排设置的若干吸嘴机构或抓取机构以吸取或抓取若干所述图像传感芯片，以提高搬运效率。
[0033]所述传输模块沿传送路径传送待检测的图像传感芯片至检测工位。传送过程中，所述吸嘴机构吸取所述图像传感芯片的正面或所述抓取机构抓取所述图像传感芯片的正面。
[0034]测试模块包括设于承载平台的测试治具以及位于所述测试治具上方的第一相机本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种图像传感芯片用检测设备，其特征在于，包括：测试模块及传输模块，所述测试模块包括设于承载平台的测试治具以及位于所述测试治具上方的第一相机；其中，所述传输模块传送所述图像传感芯片至所述测试治具以进行图像功能测试的同时，所述第一相机对所述图像传感芯片进行至少一面的外观检测。2.如权利要求1所述的检测设备，其特征在于，第一相机抓取至少一所述图像传感芯片的位置及外观图像。3.如权利要求1所述的检测设备，其特征在于，至少一测试治具以放置所述传输模块单次传送的至少一所述图像传感芯片。4.如权利要求3所述的检测设备，其特征在于，所述外观检测包括正面和/或至少一侧面...

【专利技术属性】
技术研发人员：李建明，卢群，周松，
申请(专利权)人：格科微电子上海有限公司，
类型：新型
国别省市：