【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及静电放电检测，具体地涉及一种esd检测方法及装置，还涉及一种芯片。
技术介绍
1、静电是一种客观存在的自然现象，产生的方式有多种，比如接触、摩擦、电器间感应等。静电的特点是长时间积聚、高电压、低电量、小电流和作用时间短。摩擦起电和人体静电是电子工业中的两大危害，常常造成电子电器产品运行不稳定，甚至损坏。
2、esd(electro-static discharge，静电放电)对电子产品造成的破坏和损伤有突发性损伤和潜在性损伤两种。所谓突发性损伤，指的是器件被严重损坏，功能丧失，这种损伤通常能够在生产过程中的质量检测中能够发现。而潜在性损伤指的是器件部分被损，功能尚未丧失，且在生产过程的检测中不能发现，但在使用当中会使产品变得不稳定，时好时坏，因而对产品质量构成更大的危害。这两种损伤中，潜在性损伤占据的比例更大，因此如何更有效地检测esd是否发生，对电子产品或芯片或元件等的质量及正常运行有着极其重要的作用。
3、显示驱动芯片是许多电子产品比如手机等移动终端的关键芯片，在现有技术中，一般通过周期性读取芯片内部标志寄存器或者te(tearing effect，撕裂效应)信号的方法来判断esd是否发生。这种检测方法主要存在以下两个问题：一是因为检测周期是固定的，不能使芯片在esd发生时及时做出反应；二是可能出现esd发生而内部标志寄存器或者te信号没有损坏的情况，产生漏检。
技术实现思路
1、本专利技术实施例提供一种esd检测方法及装置、芯片，以解决现
2、一方面，本专利技术实施例提供一种esd检测方法，所述方法包括：
3、在mipi接口退出高速数据传输状态时，分别获取时钟通路高速使能信号和数据通路高速使能信号发生电平改变的时间；
4、根据所述时钟通路高速使能信号和所述数据通路高速使能信号发生电平改变的时间的相对关系，确定是否发生了esd。
5、可选地，所述根据所述时钟通路高速使能信号和所述数据通路高速使能信号发生电平改变的时间的相对关系，确定是否发生了esd包括：
6、如果所述时钟通路高速使能信号发生电平改变的时间超前或者等同所述数据通路高速使能信号发生电平改变的时间，则确定发生了esd；
7、如果所述时钟通路高速使能信号发生电平改变的时间滞后所述数据通路高速使能信号发生电平改变的时间、并且两者的间隔时间小于第一时间，则确定发生了esd。
8、另一方面，本专利技术实施例还提供一种esd检测装置，所述装置包括：与mipi接口的数据通路和时钟通路信号连接的采样模块；所述采样模块，用于在mipi接口退出高速数据传输状态时，分别获取时钟通路高速使能信号和数据通路高速使能信号发生电平改变的时间，输出esd检测信号。
9、可选地，所述采样模块用于在所述时钟通路高速使能信号发生电平改变的时间超前、等同、或者滞后所述数据通路高速使能信号发生电平改变的时间并且两者的间隔时间小于第一时间的情况下，使输出的esd检测信号发生电平跳变。
10、可选地，所述esd检测信号发生电平跳变为由低电平跳变为高电平，或者由高电平跳变为低电平。
11、可选地，所述采样模块包括：延时单元、以及状态锁存单元；
12、所述延时单元，用于输入所述数据通路高速使能信号，在mipi接口退出高速数据传输状态时对所述数据通路高速使能信号进行延时，产生延时后的数据通路高速使能信号，并且延时时间小于所述第一时间；
13、所述状态锁存单元，用于利用所述时钟通路高速使能信号的跳变沿，对所述延时后的数据通路高速使能信号进行采样锁存，输出所述esd检测信号。
14、可选地，所述状态锁存单元包括第一d触发器，所述第一d触发器的输入端输入所述延时后的数据通路高速使能信号，所述第一d触发器的时钟端输入所述时钟通路高速使能信号，所述第一d触发器的输出端输出所述esd检测信号。
15、可选地，所述采样模块还包括：脉冲产生单元；所述脉冲产生单元用于输入所述时钟通路高速使能信号和所述延时后的数据通路高速使能信号，并在检测到所述时钟通路高速使能信号提前于所述延时后的数据通路高速使能信号发生跳变时，向所述状态锁存单元输出脉冲信号；
16、所述状态锁存单元在接收到所述脉冲信号时，改变所述esd检测信号的电平。
17、可选地，所述脉冲产生单元包括或门。
18、可选地，所述脉冲产生单元包括非门和与门；所述非门输入所述时钟通路高速使能信号；所述与门的一个输入端与所述延时单元的输出端连接，所述与门的另一个输入端与所述非门的输出端连接。
19、可选地，所述状态锁存单元包括第二d触发器，所述第二d触发器的输入端接高电平或低电平，所述第二d触发器的时钟端与所述与门的输出端连接，所述第二d触发器的输出端输出所述esd检测信号。
20、可选地，所述延时时间可调。
21、另一方面，本专利技术实施例还提供一种芯片，所述芯片包括上面所述的esd检测装置。
22、与现有技术相比，本专利技术实施例的技术方案具有以下有益效果：
23、本专利技术实施例提供的esd检测方法及装置，利用mipi(mobile industryprocessor interface，移动产业处理器接口)接口模块会通过管脚受到esd干扰的特性，在mipi接口退出高速数据传输状态时，获取时钟通路高速使能信号发生电平改变的时间和数据通路高速使能信号发生电平改变的时间，根据所述时钟通路高速使能信号和所述数据通路高速使能信号发生电平改变的时间的相对关系，确定是否发生了esd。利用本专利技术方案，可以及时、准确判断esd是否发生，进而可以使相应电子产品或芯片或元件等及时做出应对esd的措施。
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1.一种ESD检测方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述时钟通路高速使能信号和所述数据通路高速使能信号发生电平改变的时间的相对关系，确定是否发生了ESD包括：
3.一种ESD检测装置，其特征在于，所述装置包括：与MIPI接口的数据通路和时钟通路信号连接的采样模块；
4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，
5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述ESD检测信号发生电平跳变为由低电平跳变为高电平，或者由高电平跳变为低电平。
6.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述采样模块包括：延时单元、以及状态锁存单元；
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述状态锁存单元包括第一D触发器，所述第一D触发器的输入端输入所述延时后的数据通路高速使能信号，所述第一D触发器的时钟端输入所述时钟通路高速使能信号，所述第一D触发器的输出端输出所述ESD检测信号。
8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述采样模块还包括：脉冲产生单元；
9.
10.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述脉冲产生单元包括非门和与门；所述非门输入所述时钟通路高速使能信号；所述与门的一个输入端与所述延时单元的输出端连接，所述与门的另一个输入端与所述非门的输出端连接。
11.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，所述状态锁存单元包括第二D触发器，所述第二D触发器的输入端接高电平或低电平，所述第二D触发器的时钟端与所述与门的输出端连接，所述第二D触发器的输出端输出所述ESD检测信号。
12.根据权利要求6至11任一项所述的装置，其特征在于，所述延时时间可调。
13.一种芯片，其特征在于，所述芯片包括如权利要求3至12中任一项所述的ESD检测装置。
...【技术特征摘要】
1.一种esd检测方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述时钟通路高速使能信号和所述数据通路高速使能信号发生电平改变的时间的相对关系，确定是否发生了esd包括：
3.一种esd检测装置，其特征在于，所述装置包括：与mipi接口的数据通路和时钟通路信号连接的采样模块；
4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，
5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述esd检测信号发生电平跳变为由低电平跳变为高电平，或者由高电平跳变为低电平。
6.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述采样模块包括：延时单元、以及状态锁存单元；
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述状态锁存单元包括第一d触发器，所述第一d触发器的输入端输入所述延时后的数据通路高速使能信号，所述第一d触发器的时钟端输入所述时钟通路高速使能信号，所述第一d触发...
【专利技术属性】
技术研发人员：汪瀚，王富中，
申请(专利权)人：格科微电子上海有限公司，
类型：发明
国别省市：
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