ESD检测方法及装置、芯片制造方法及图纸

技术编号:41263010 阅读:27 留言:0更新日期:2024-05-11 09:20
本发明专利技术公开了一种ESD检测方法及装置、芯片,该方法包括:在MIPI接口退出高速数据传输状态时,分别获取时钟通路高速使能信号和数据通路高速使能信号发生电平改变的时间;根据所述时钟通路高速使能信号和所述数据通路高速使能信号发生电平改变的时间的相对关系,确定是否发生了ESD。通过本发明专利技术方案,可以对发生的ESD进行实时、准确地检测,进而保证电子产品或芯片或元件等的正常运行。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及静电放电检测,具体地涉及一种esd检测方法及装置,还涉及一种芯片。


技术介绍

1、静电是一种客观存在的自然现象,产生的方式有多种,比如接触、摩擦、电器间感应等。静电的特点是长时间积聚、高电压、低电量、小电流和作用时间短。摩擦起电和人体静电是电子工业中的两大危害,常常造成电子电器产品运行不稳定,甚至损坏。

2、esd(electro-static discharge,静电放电)对电子产品造成的破坏和损伤有突发性损伤和潜在性损伤两种。所谓突发性损伤,指的是器件被严重损坏,功能丧失,这种损伤通常能够在生产过程中的质量检测中能够发现。而潜在性损伤指的是器件部分被损,功能尚未丧失,且在生产过程的检测中不能发现,但在使用当中会使产品变得不稳定,时好时坏,因而对产品质量构成更大的危害。这两种损伤中,潜在性损伤占据的比例更大,因此如何更有效地检测esd是否发生,对电子产品或芯片或元件等的质量及正常运行有着极其重要的作用。

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【技术保护点】

1.一种ESD检测方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述时钟通路高速使能信号和所述数据通路高速使能信号发生电平改变的时间的相对关系,确定是否发生了ESD包括:

3.一种ESD检测装置,其特征在于,所述装置包括:与MIPI接口的数据通路和时钟通路信号连接的采样模块;

4.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,

5.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述ESD检测信号发生电平跳变为由低电平跳变为高电平,或者由高电平跳变为低电平。

6.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述采样...

【技术特征摘要】

1.一种esd检测方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述时钟通路高速使能信号和所述数据通路高速使能信号发生电平改变的时间的相对关系,确定是否发生了esd包括:

3.一种esd检测装置,其特征在于,所述装置包括:与mipi接口的数据通路和时钟通路信号连接的采样模块;

4.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,

5.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述esd检测信号发生电平跳变为由低电平跳变为高电平,或者由高电平跳变为低电平。

6.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述采样模块包括:延时单元、以及状态锁存单元;

7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述状态锁存单元包括第一d触发器,所述第一d触发器的输入端输入所述延时后的数据通路高速使能信号,所述第一d触发器的时钟端输入所述时钟通路高速使能信号,所述第一d触发...

【专利技术属性】
技术研发人员:汪瀚王富中
申请(专利权)人:格科微电子上海有限公司
类型:发明
国别省市:

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