一种PCB板的测试机构制造技术

本实用新型专利技术公开了一种PCB板的测试机构，涉及PCB板测试技术领域。该测试机构包括探针组件及支撑板，所述探针组件包括固定基板，所述固定基板开设有多个固定孔，每个所述固定孔内均设置有一个测试探针，且所述测试探针的两端均伸出所述固定基板，所述固定基板由弹性材料制成；所述支撑板与所述固定基板固定连接。该PCB板的测试机构能够在保证固定基板不开裂的前提下，匹配尺寸较大的测试探针，以保证测试性能稳定，且不容易损坏测试探针，使用寿命长。长。长。

【技术实现步骤摘要】
一种PCB板的测试机构


[0001]本技术涉及PCB板测试
，尤其涉及一种PCB板的测试机构。

技术介绍

[0002]随着电子技术的迅猛发展，其功能也日益强大，这就要求其具有稳定的性能。PCB板是重要的电子部件，是电子元件的支撑体，其电性能的好坏直接影响到电子产品功能的稳定性。因此，在PCB板的生产过程中，需要对其进行电性能方面的测试。
[0003]现有技术中，通常在基板上设置探针，利用探针抵接PCB板的电子元件以测试电子元件的电性能。然而，当PCB板的电子元件较小较密时，对应的进行测试的基板上的探针之间的间隙也会很小，导致基板在探针与探针之间的部位强度不足而容易开裂。而若要防止基板开裂，则需要选择小尺寸的探针，从而增大探针与探针之间的间隙，而小尺寸的探针在测试时，又会因接触面积小而导致接触性差和导通电阻增高等问题，影响测试的准确性。
[0004]针对上述问题，需要开发一种PCB板的测试机构，以解决上述问题。

技术实现思路

[0005]本技术的目的在于提出一种PCB板的测试机构，能够在保证固定基板不开裂的前提下，匹配尺寸较大的测试探针，以保证测试性能稳定，且不容易损坏测试探针，使用寿命长。
[0006]为达此目的，本技术采用以下技术方案：
[0007]一种PCB板的测试机构，包括：
[0008]探针组件，所述探针组件包括固定基板，所述固定基板开设有多个固定孔，每个所述固定孔内均设置有一个测试探针，且所述测试探针的两端均伸出所述固定基板，所述固定基板由弹性材料制成；
[0009]支撑板，所述支撑板与所述固定基板固定连接。
[0010]优选地，所述固定孔的孔径小于所述测试探针的外径。
[0011]优选地，多个所述固定孔呈阵列排布。
[0012]优选地，所述支撑板朝向所述固定基板的一侧设置有金属走线，所述金属走线与若干个所述测试探针抵接以对所述测试探针供电。
[0013]优选地，所述支撑板设置有多条所述金属走线，每条所述金属走线均抵接部分所述测试探针。
[0014]优选地，所述固定基板与所述支撑板通过胶粘接固定。
[0015]优选地，所述测试机构还包括底座与定位组件，所述支撑板沿竖直方向滑动设置于所述底座，所述定位组件设置于所述底座上，所述定位组件被配置为对PCB板进行定位。
[0016]优选地，所述定位组件包括两个滑动设置于所述底座上的定位件，两个所述定位件能够相互靠近或远离。
[0017]优选地，所述支撑板设置有导向柱，所述底座开设有导向孔，所述导向柱插入所述
导向孔内。
[0018]优选地，所述支撑板设置有限位柱，所述限位柱被配置为与所述底座抵接。
[0019]本技术的有益效果：
[0020]本技术提供了一种PCB板的测试机构。该测试机构中，测试探针贯穿固定基板，使测试探针能够抵接PCB板的电子元件以对电子元件进行测试，由于固定基板是由弹性材料制成的，故能够开设间隔很小的孔来固定测试探针，既能够保持固定基板不开裂，又能够匹配尺寸较大的测试探针以保证测试探针与电子元件接触稳定且接触面积充足。
[0021]该测试机构能够在保证固定基板不开裂的前提下，匹配尺寸较大的测试探针，以保证测试性能稳定，且不容易损坏测试探针，使用寿命长。
附图说明
[0022]图1是本技术提供的PCB板的测试机构的结构示意图；
[0023]图2是本技术提供的探针组件的结构示意图；
[0024]图3是本技术提供的支撑板与金属走线的结构示意图。
[0025]图中：
[0026]100、PCB板；101、电子元件；
[0027]1、探针组件；2、支撑板；3、金属走线；4、底座；5、定位组件；
[0028]11、固定基板；12、测试探针；21、导向柱；22、限位柱；41、导向孔；51、定位件；52、锁定螺钉。
具体实施方式
[0029]下面详细描述本技术的实施例，实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。
[0030]在本技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。其中，术语“第一位置”和“第二位置”为两个不同的位置。
[0031]除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0032]除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一特征和第二特征直接接触，也可以包括第一特征和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在
第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
[0033]下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本技术的技术方案。
[0034]现有技术中，通常在基板上设置探针，利用探针抵接PCB板的电子元件以测试电子元件的电性能。然而，当PCB板的电子元件较小较密时，对应的进行测试的基板上的探针之间的间隙也会很小，导致基板在探针与探针之间的部位强度不足而容易开裂。而若要防止基板开裂，则需要选择小尺寸的探针来增大探针与探针之间的间隙，而小尺寸的探针在测试时，又会因接触面积小而导致接触性差和导通电阻增高等问题，影响测试的准确性。而且小尺寸的探针在使用时也较容易断裂，影响使用寿命。
[0035]本实施例提供了一种PCB板的测试机构，如图1和图2所示，该测试机构包括探针组件1及支撑板2，探针组件1包括固定基板11，固定基板11开设有多个固定孔，每个固定孔内均设置有一个测试探针12，且测试探针12的两端均伸出固定基板11，固定基板11由弹性材料制成，支撑板2与固定基板11固定连接。
[0036]该测试机构中，测试探针12贯穿固定基板11，使测试探针12能够抵接PCB板100的电子元件101以对电子元件101进行测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种PCB板的测试机构，其特征在于，包括：探针组件(1)，所述探针组件(1)包括固定基板(11)，所述固定基板(11)开设有多个固定孔，每个所述固定孔内均设置有一个测试探针(12)，且所述测试探针(12)的两端均伸出所述固定基板(11)，所述固定基板(11)由弹性材料制成；支撑板(2)，所述支撑板(2)与所述固定基板(11)固定连接。2.根据权利要求1所述的PCB板的测试机构，其特征在于，所述固定孔的孔径小于所述测试探针(12)的外径。3.根据权利要求1所述的PCB板的测试机构，其特征在于，多个所述固定孔呈阵列排布。4.根据权利要求1所述的PCB板的测试机构，其特征在于，所述支撑板(2)朝向所述固定基板(11)的一侧设置有金属走线(3)，所述金属走线(3)与若干个所述测试探针(12)抵接以对所述测试探针(12)供电。5.根据权利要求4所述的PCB板的测试机构，其特征在于，所述支撑板(2)设置有多条所述金属走线(3)，每条所述金属走线(3)均抵接部分所述测试探...

【专利技术属性】
技术研发人员：周世权，吕长荣，嵇长友，袁江天，李俊青，
申请(专利权)人：立讯智造科技常熟有限公司，
类型：新型
国别省市：