一种涂层厚度标准样板的制作与确定方法技术

技术编号:39185036 阅读:15 留言:0更新日期:2023-10-27 08:32
一种涂层厚度标准样板的制作方法包括如下步骤:S1:按照几何厚度梯度制备锌层薄膜样板与金属板,使得各几何厚度梯度下的锌层薄膜样板分为厚度一致的1#样板组和2#样板组;S2:对1#样板组的样板进行涂层重量的测量,形成薄膜重量数据集;S3:对2#样板组的样板进行几何厚度的测量,形成薄膜几何厚度数据集;S4:将2#样板压附于金属板,制成涂层标准样板,并基于薄膜重量数据集及薄膜几何厚度数据集进行线性拟合,得到涂层标准样板的涂层几何厚度与涂层重量的线性表达。本发明专利技术的一种涂层厚度标准样板的制作方法,通过建立涂层几何厚度与涂层重量线性关系,进而对标准样板进行定值,实现涂层标准样板国内制作和有效计量溯源。涂层标准样板国内制作和有效计量溯源。涂层标准样板国内制作和有效计量溯源。

【技术实现步骤摘要】
一种涂层厚度标准样板的制作与确定方法


[0001]本专利技术属于工业检测仪表
,具体涉及一种涂层厚度标准样板的制作与确定方法。

技术介绍

[0002]镀锌板材一直以来是宝钢主要盈利产品,主要包括家电板、汽车板等。涂层测厚仪作为涂层厚度控制的关键设备,它的精度的好坏关系到产品质量和锌锭使用量。目前涂层测厚仪的精度主要根据涂层标准样板进行校准,因此标准样板的质量关系到涂层测厚仪的精度。国内尚无一家公司能够提供涂层标准样板供涂层测厚仪校准,目前使用的都是随设备进口的标准板;同时国内检校机构对标准板校准精度不高,无法满足计量要求。
[0003]申请号为:CN 201010561145.0的专利技术申请,公开了“一种在线检测带钢表面无铬涂层厚度的方法”,包括以下步骤:选定两种不与无铬涂液反应的含有磷元素、钙元素、钛元素、钡元素或锶元素的水溶性化学物质;向无铬涂液加入步骤一选定的两种水溶性化学物质,搅拌均匀后制作标准样板;用离线式膜厚仪分别用射线激发两种水溶性化学物质得到特征谱线,拟合后得到测量厚度与厚度修正值的修正函数关系式;将特征谱线弱的水溶性化学物质加入无铬涂液中,然后通过修正函数得到实际厚度。
[0004]申请号为:CN201510073877.8的专利技术申请,公开了“一种金属薄板印刷涂层的湿膜厚度差分测量及均匀性评估方法”,包括如下步骤:(1)将涂布前的金属薄板置于可X向运动的测厚平台上,装有激光双测头的扫描测厚机构可沿Y向移动,实现金属薄板XOY平面内若干点云数据的采集;(2)将涂布后的该金属薄板置于测厚平台的相同位置,沿原路径扫描测量;(3)对同一金属薄板涂布前后的数据,按差分测量原理进行数据处理,以得到被测点处的涂层厚度;(4)对所测厚度数据按最小二乘原理和三次样条插值算法拟合,得到金属薄板表面涂层厚度的三维图形,以此评估整个金属薄板表面涂层厚度的均匀性。

技术实现思路

[0005]为解决以上问题,本专利技术提供了一种涂层厚度标准样板的制作与确定方法,其技术方案具体如下:
[0006]一种涂层厚度标准样板的制作方法,其特征在于包括如下步骤:
[0007]S1:按照几何厚度梯度制备锌层薄膜样板与金属板,使得各几何厚度梯度下的锌层薄膜样板分为厚度一致的1#样板组和2#样板组;
[0008]S2:对1#样板组的样板进行涂层重量的测量,形成薄膜重量数据集;
[0009]S3:对2#样板组的样板进行几何厚度的测量,形成薄膜几何厚度数据集;
[0010]S4:将2#样板压附于金属板,制成涂层标准样板,并基于薄膜重量数据集及薄膜几何厚度数据集进行线性拟合,得到涂层标准样板的涂层几何厚度与涂层重量的线性表达。
[0011]根据本专利技术的一种涂层厚度标准样板的制作方法,其特征在于:
[0012]通过控制涂层的厚度波动范围小于3%,以控制同一厚度梯度下的1#样板组与2#
样板组的厚度一致。
[0013]根据本专利技术的一种涂层厚度标准样板的制作方法,其特征在于:
[0014]对1#样板组的样板进行涂层重量的测量,具体按照如下步骤进行:
[0015]S21:以样板中心为圆心,刻取设定直径的薄膜圆片,并以此圆片为基准,分别沿该圆片横向和纵向的同轴位置,进行等圆片的刻取;
[0016]S22:将刻取的圆片分别黏附于金属板上,完成各圆片的涂层重量测量;
[0017]S23:基于完成的各圆片的涂层重量测量,计算相应样板的涂层重量。
[0018]根据本专利技术的一种涂层厚度标准样板的制作方法,其特征在于:
[0019]所述的基于完成的各圆片的涂层重量测量,计算相应样板的涂层重量,具体如下:
[0020][0021]其中,
[0022]CW
Sample
:样板的涂层重量,单位:g/m2;
[0023]CW
positionX
:各圆片的涂层厚度,单位:mm,其中,X=0、1、2、3、4;
[0024]a1:圆片1所占的比重;
[0025]a2:圆片2所占的比重;
[0026]a3:圆片3所占的比重;
[0027]a4:圆片4所占的比重。
[0028]根据本专利技术的一种涂层厚度标准样板的制作方法,其特征在于:
[0029]对2#样板组的样板的几何厚度的测量,按照相隔设定的距离建立的测点进行。
[0030]根据本专利技术的一种涂层厚度标准样板的制作方法,其特征在于:
[0031]按测厚仪样板架的尺寸进行样板尺寸及相应金属板尺寸的制备。
[0032]根据本专利技术的一种涂层厚度标准样板的制作方法,其特征在于:
[0033]用于黏附薄膜圆片的金属板的尺寸根据薄膜圆片的尺寸设置。
[0034]根据本专利技术的一种涂层厚度标准样板的制作方法,其特征在于:
[0035]锌层薄膜样板的薄膜纯度为99.99%。
[0036]根据本专利技术的一种涂层厚度标准样板的制作方法,其特征在于:
[0037]金属板的材质为CQ的碳钢,平行度公差小于等于0.5mm。
[0038]根据本专利技术的一种涂层厚度标准样板的制作方法,其特征在于:
[0039]步骤S1中,在锌层薄膜样板制备以后,1#样板组和2#样板组分组之前,还对锌层薄膜样板进行厚度均匀性的测量与筛选。
[0040]本专利技术的一种涂层厚度标准样板的制作方法,解决了国内此类标准样板无法提供的问题,可节省大量标准样板采购费;涉及的涂层重量和厚度确定方法,成功解决了国内标准样板无法计量溯源问题。
附图说明
[0041]图1为本专利技术的涂层标准样板制作步骤示意图;
[0042]图2为本专利技术实施例中的涂层厚度样板几何方向测量扫描区域示意图;
[0043]图3为本专利技术实施例中的涂层厚度样板圆片取样位置示意图;
[0044]图4为本专利技术实施例中的涂层标准样板示意图;
[0045]图5为本专利技术实施例中的涂层重量与几何厚度线性相关的示意图。
具体实施方式
[0046]下面,根据说明书附图和具体实施方式对本专利技术的一种涂层厚度标准样板的制作与确定方法作进一步具体说明。
[0047]如图1所示的一种涂层厚度标准样板的制作方法,包括如下步骤:
[0048]S1:按照几何厚度梯度制备锌层薄膜样板与金属板,使得各几何厚度梯度下的锌层薄膜样板分为厚度一致的1#样板组和2#样板组;
[0049]S2:对1#样板组的样板进行涂层重量的测量,形成薄膜重量数据集;
[0050]S3:对2#样板组的样板进行几何厚度的测量,形成薄膜几何厚度数据集;
[0051]S4:将2#样板压附于金属板,制成涂层标准样板,并基于薄膜重量数据集及薄膜几何厚度数据集进行线性拟合,得到涂层标准样板的涂层几何厚度与涂层重量的线性表达。
[0052]其中,
[0053]通过控制涂层的厚度波动范围小于3%本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种涂层厚度标准样板的制作方法,其特征在于包括如下步骤:S1:按照几何厚度梯度制备锌层薄膜样板与金属板,使得各几何厚度梯度下的锌层薄膜样板分为厚度一致的1#样板组和2#样板组;S2:对1#样板组的样板进行涂层重量的测量,形成薄膜重量数据集;S3:对2#样板组的样板进行几何厚度的测量,形成薄膜几何厚度数据集;S4:将2#样板压附于金属板,制成涂层标准样板,并基于薄膜重量数据集及薄膜几何厚度数据集进行线性拟合,得到涂层标准样板的涂层几何厚度与涂层重量的线性表达。2.根据权利要求1所述的一种涂层厚度标准样板的制作方法,其特征在于:通过控制涂层的厚度波动范围小于3%,以控制同一厚度梯度下的1#样板组与2#样板组的厚度一致。3.根据权利要求1所述的一种涂层厚度标准样板的制作方法,其特征在于:对1#样板组的样板进行涂层重量的测量,具体按照如下步骤进行:S21:以样板中心为圆心,刻取设定直径的薄膜圆片,并以此圆片为基准,分别沿该圆片横向和纵向的同轴位置,进行等圆片的刻取;S22:将刻取的圆片分别黏附于金属板上,完成各圆片的涂层重量测量;S23:基于完成的各圆片的涂层重量测量,计算相应样板的涂层重量。4.根据权利要求3所述的一种涂层厚度标准样板的制作方法,其特征在于:所述的基于完成的各圆片的涂层重量测量,计算相应样板的涂层重量,具...

【专利技术属性】
技术研发人员:孙进周意俊陈巍朱晶
申请(专利权)人:宝山钢铁股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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