闪存存储芯片测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开一种闪存存储芯片测试装置，包括：多个SOC测试模块，用于分别搭载闪存存储芯片进行测试；主单片机，与多个SOC测试模块通信连接，用于发送测试指令；测试数据采集模块，用于采集测试数据；测试数据处理模块，与测试数据采集模块和主单片机分别通信连接，用于对测试数据进行处理并发送至主单片机；供电控制模块，与多个SOC测试模块分别连接，用于根据每一个SOC测试模块的测试情况对其进行供电控制。本实用新型专利技术闪存存储芯片测试装置中，当任一SOC测试模块出现测试异常/故障的测试情况时，供电控制模块可对应对该SOC测试模块断电关停，从而进行针对性检修以排除故障，其它SOC测试模块则照常测试，降低对整体测试进度的影响，提高了测试效率。提高了测试效率。提高了测试效率。

【技术实现步骤摘要】
闪存存储芯片测试装置


[0001]本技术涉及芯片测试
，特别涉及一种闪存存储芯片测试装置。

技术介绍

[0002]随着当今半导体技术的快速发展，在半导体晶体管尺寸越来越小，芯片功能日益复杂的趋势下，测试已成为产品落地生产前的关键一环。而伴随着更严格的可接受质量水平(AQL)认证推出，测试的方法也在不断推陈出新。
[0003]闪存存储芯片生产过程中，通常需要进行SLT(System Level Test)系统级测试，以提高芯片出厂的良品率与质量水平。目前，SLT测试装置通过采用多测试平台的方式以对闪存存储芯片进行批量测试，然而，当任一测试平台出现测试异常/故障时，需要整机关停以进行检修，影响整体测试进度，测试效率低。

技术实现思路

[0004]本技术的主要目的是提出一种闪存存储芯片测试装置，旨在解决目前闪存存储芯片SLT测试的测试效率低的技术问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提出一种闪存存储芯片测试装置，该闪存存储芯片测试装置包括：
[0006]多个SOC测试模块，用于分别搭载闪存存储芯片并对所述闪存存储芯片进行测试；
[0007]主单片机，与多个所述SOC测试模块通信连接，用于向多个所述SOC测试模块发送测试指令；
[0008]测试数据采集模块，用于采集多个所述SOC测试模块的测试数据；
[0009]测试数据处理模块，与所述测试数据采集模块和所述主单片机分别通信连接，用于对所述测试数据进行处理并发送至所述主单片机；
[0010]供电控制模块，与多个所述SOC测试模块分别连接，用于根据每一个所述SOC测试模块的测试情况对其进行供电控制。
[0011]在一些实施例中，所述主单片机采用SPI总线与多个所述SOC测试模块通信连接。
[0012]在一些实施例中，所述测试数据采集模块包括：
[0013]多个采样电阻，每一个所述采样电阻分别连接于一个所述SOC测试模块的测试电路中且与所述测试数据处理模块通信连接。
[0014]在一些实施例中，所述测试数据处理模块包括：
[0015]运放模块，与所述测试数据采集模块通信连接，用于接收所述测试数据并将其运算放大；
[0016]控制单片机，与所述运放模块和所述主单片机通信连接，用于对经所述运放模块运算放大的测试数据进行转换处理并发送至所述主单片机。
[0017]在一些实施例中，所述控制单片机采用UART串口与所述主单片机通信连接。
[0018]在一些实施例中，所述供电控制模块包括：
[0019]继电器模块，与所述控制单片机通信连接并用于外接电源；
[0020]多路供电模块，与所述继电器模块和多个所述SOC测试模块分别连接；
[0021]其中，所述主单片机还用于向所述控制单片机发送供电控制指令，所述控制单片机转发所述供电控制指令至所述继电器模块，所述继电器模块根据所述供电控制指令以向所述多路供电模块下发操作指令，所述多路供电模块根据所述操作指令以对所述SOC测试模块进行通电或断电操作。
[0022]在一些实施例中，所述继电器模块采用IO接口与所述控制单片机通信连接。
[0023]在一些实施例中，所述闪存存储芯片测试装置还包括：
[0024]上位机，所述上位机与所述主单片机通信连接。
[0025]在一些实施例中，所述闪存存储芯片测试装置还包括：
[0026]多个副单片机，设于所述主单片机与多个所述SOC测试模块之间，多个所述SOC测试模块分为若干SOC测试模块组，所述主单片机与每一所述SOC测试模块组之间通过一个所述副单片机通信连接。
[0027]本技术闪存存储芯片测试装置测试时，通过主单片机向多个SOC测试模块发送测试指令，每一SOC测试模块根据测试指令以对其所搭载的闪存存储芯片进行测试，并且同时通过测试数据采集模块采集多个SOC测试模块的测试数据，并发送至测试数据处理模块经其进行处理后再发送至主单片机，以反馈SOC测试模块及其上闪存存储芯片的测试情况。其中，当任一SOC测试模块出现测试异常/故障的测试情况时，供电控制模块可对应对该SOC测试模块断电关停，从而进行针对性检修以排除故障，其它SOC测试模块则照常测试，降低对整体测试进度的影响，提高了测试效率。
附图说明
[0028]图1为本技术一实施例中闪存存储芯片测试装置的结构示意图；
[0029]图2为本技术另一实施例中闪存存储芯片测试装置的结构示意图。
具体实施方式
[0030]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的方案进行清楚完整的描述，显然，所描述的实施例仅是本技术中的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0031]需要说明，本技术实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
[0032]还需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件上时，它可以直接在另一个元件上或者可能同时存在居中元件。当一个元件被称为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接另一个元件或者可能同时存在居中元件。
[0033]另外，在本技术中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方
案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本技术要求的保护范围之内。
[0034]本技术提出一种闪存存储芯片测试装置，参照图1，该闪存存储芯片测试装置包括：
[0035]多个SOC测试模块100，用于分别搭载闪存存储芯片并对闪存存储芯片进行测试；
[0036]主单片机200，与多个SOC测试模块100通信连接，用于向多个SOC测试模块100发送测试指令；
[0037]测试数据采集模块300，用于采集多个SOC测试模块100的测试数据；
[0038]测试数据处理模块400，与测试数据采集模块300和主单片机200分别通信连接，用于对测试数据进行处理并发送至主单片机200；
[0039]供电控制模块500，与多个SOC测试模块100分别连接，用于根据每一个SOC测试模块100的测试情况对其进行供电控制。
[0040]本实施例所涉及的闪存存储芯片测试装置主要用于对闪存存储芯片进行系统级兼容性测试，即SLT测试，以在模拟终端使用场景中对闪存存储芯片本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种闪存存储芯片测试装置，其特征在于，包括：多个SOC测试模块，用于分别搭载闪存存储芯片并对所述闪存存储芯片进行测试；主单片机，与多个所述SOC测试模块通信连接，用于向多个所述SOC测试模块发送测试指令；测试数据采集模块，用于采集多个所述SOC测试模块的测试数据；测试数据处理模块，与所述测试数据采集模块和所述主单片机分别通信连接，用于对所述测试数据进行处理并发送至所述主单片机；供电控制模块，与多个所述SOC测试模块分别连接，用于根据每一个所述SOC测试模块的测试情况对其进行供电控制。2.根据权利要求1所述的闪存存储芯片测试装置，其特征在于，所述主单片机采用SPI总线与多个所述SOC测试模块通信连接。3.根据权利要求1所述的闪存存储芯片测试装置，其特征在于，所述测试数据采集模块包括：多个采样电阻，每一个所述采样电阻分别连接于一个所述SOC测试模块的测试电路中且与所述测试数据处理模块通信连接。4.根据权利要求1所述的闪存存储芯片测试装置，其特征在于，所述测试数据处理模块包括：运放模块，与所述测试数据采集模块通信连接，用于接收所述测试数据并将其运算放大；控制单片机，与所述运放模块和所述主单片机通信连接，用于对经所述运放模块运算放大的测试数据进行转换处理并...

【专利技术属性】
技术研发人员：覃义平，
申请(专利权)人：联和存储科技江苏有限公司，
类型：新型
国别省市：