硬盘掉电测试方法、系统及介质技术方案

本申请公开了硬盘掉电测试方法、系统及介质，方法包括：对待测硬盘进行逻辑分区，得到第一分区和第二分区；向第一分区的至少一部分区域填充预设的样本数据，并向第二分区发送测试指令；对待测硬盘进行异常掉电；当待测硬盘通过异常掉电，将样本数据拷贝至第二分区，并对待测硬盘进行异常掉电；当确定样本数据拷贝成功并且待测硬盘通过异常掉电，对第一分区进行数据填充操作，直至满足预设的结束条件。根据本申请的技术方案，能够在硬盘填充数据的情况下对硬盘进行测试，更加贴近硬盘的应用场景，实现对硬盘的全面掉电测试。实现对硬盘的全面掉电测试。实现对硬盘的全面掉电测试。

【技术实现步骤摘要】
硬盘掉电测试方法、系统及介质


[0001]本申请涉及数据处理
，尤其是一种硬盘掉电测试方法、系统及介质。

技术介绍

[0002]SSD(Solid
‑
state Storage Device，固态硬盘)是一种主要以非易失性闪存作为永久性存储器的计算机存储设备，随着计算机的发展，对数据存储要求高速度、低时延、低功耗、防抗震等。在实际用户使用过程中，难以避免存在在对硬盘进行读写过程中非安全异常掉电操作。当发生异常掉电时，缓冲区中的数据可能并没有真正写入到nand flash或磁道中，异常掉电会造成硬盘中数据丢失，影响用户正常使用。因此，硬盘对于异常掉电操作时的数据安全指标是硬盘的重要测试评估指标，也是必测项。现在技术对硬盘在使用过程中进行异常掉电测试基本上为手动操作，对整个SSD或者整个存储芯片进行异常掉电测试，并没有考虑到硬盘存储有一定数据的情况，使得硬盘异常掉电测试的过程过于局限，不能很好的贴合硬盘的应用场景，难以尽早发现待测固态硬盘所存在的故障隐患，进而影响了用户的使用体验。

技术实现思路

[0003]本申请实施例提供了一种硬盘掉电测试方法、系统及介质，能够在硬盘填充数据的情况下对硬盘进行测试，更加贴近硬盘的应用场景，实现对硬盘的全面掉电测试。
[0004]第一方面，本申请实施例提供了一种硬盘掉电测试方法，所述方法包括：
[0005]对待测硬盘进行逻辑分区，得到第一分区和第二分区；
[0006]向所述第一分区的至少一部分区域填充预设的样本数据，并向所述第二分区发送测试指令；
[0007]对所述待测硬盘进行异常掉电；
[0008]当所述待测硬盘通过异常掉电，将所述样本数据拷贝至所述第二分区，并对所述待测硬盘进行异常掉电；
[0009]当确定所述样本数据拷贝成功并且所述待测硬盘通过异常掉电，对所述第一分区进行数据填充操作，直至满足预设的结束条件。
[0010]在一些实施例中，所述向所述第一分区的至少一部分区域填充预设的样本数据，包括：
[0011]获取所述第一分区的第一区块地址，其中，所述第一区块地址为所述第一分区的逻辑区块地址；
[0012]根据所述样本数据确定第一写入地址，其中，所述第一写入地址为所述样本数据所指向的数据块的物理地址；
[0013]当所述第一区块地址与所述第一写入地址匹配，根据所述第一写入地址将所述样本数据填充至所述第一分区的数据块中。
[0014]在一些实施例中，所述将所述样本数据拷贝至所述第二分区，包括：
[0015]获取所述样本数据的数据容量以及所述第二分区的第二区块地址，其中，所述第二区块地址为所述第二分区的逻辑区块地址；
[0016]当所述数据容量小于所述第二分区的容量，将所述第一写入地址与所述第二区块地址进行匹配；
[0017]当所述第一写入地址与所述第二区块地址匹配，根据所述第一写入地址将所述样本数据拷贝至所述第二分区的数据块中。
[0018]在一些实施例中，所述对所述第一分区进行数据填充操作，包括：
[0019]获取预设的测试数据的测试容量；
[0020]对所述第一分区进行容量测试，确定所述第一分区的剩余容量以及已填充容量；
[0021]当所述测试容量小于所述剩余容量，将所述测试数据填充至所述第一分区。
[0022]在一些实施例中，所述将所述测试数据填充至所述第一分区，包括：
[0023]获取所述测试数据的第二写入地址；
[0024]根据所述剩余容量确定所述第一分区的写入地址区间；
[0025]当所述写入地址区间中的地址与所述第二写入地址匹配，根据所述第二写入地址将所述测试数据填充至所述第一分区的数据块中。
[0026]在一些实施例中，在所述对所述第一分区进行数据填充操作之后，还包括：
[0027]对所述待测硬盘进行异常掉电，并对所述第二分区进行格式化；
[0028]当所述待测硬盘通过异常掉电，将所述样本数据以及所述测试数据拷贝至格式化后的第二分区，并对所述待测硬盘进行异常掉电。
[0029]在一些实施例中，在所述对待测硬盘进行逻辑分区之前，还包括：
[0030]对所述待测硬盘进行格式化。
[0031]在一些实施例中，所述对待测硬盘进行逻辑分区，得到第一分区和第二分区，包括：
[0032]获取所述待测硬盘的实际容量；
[0033]基于预设的分区规则对所述待测硬盘的实际容量进行逻辑分区，得到第一分区和第二分区，其中，所述第一分区的容量大于等于所述第二分区的容量。
[0034]第二方面，本申请实施例还提供了一种硬盘掉电测试系统，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如第一方面所述的硬盘掉电测试方法。
[0035]第三方面，本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于执行如第一方面所述的硬盘掉电测试方法。
[0036]本申请实施例至少有如下有益效果：首先，对待测硬盘进行逻辑分区，得到第一分区和第二分区，从而便于后续对待测硬盘的分区测试，再向第一分区的至少一部分区域填充预设的样本数据，并向第二分区发送测试指令，从而能够模拟硬盘的实际使用场景，对待测硬盘进行异常掉电，实现在实际应用场景下对硬盘的断电测试，当待测硬盘通过异常掉电，将样本数据拷贝至第二分区，并对待测硬盘进行异常掉电，从而能够通过掉电测试验证待测硬盘在掉电情况下的工作表现，更加贴近硬盘的使用场景，当确定样本数据拷贝成功并且待测硬盘通过异常掉电，对第一分区进行数据填充操作，直至满足预设的结束条件，从
而实现对硬盘使用场景下的全面测试，以避免硬盘数据出现丢失。
[0037]本专利技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点可通过在说明书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
[0038]图1是本专利技术一个实施例提供的硬盘掉电测试方法的流程图；
[0039]图2是图1中步骤S102的具体方法的流程图；
[0040]图3是图1中步骤S104的具体方法的流程图；
[0041]图4是图1中步骤S105的具体方法的流程图；
[0042]图5是本专利技术另一个实施例提供的硬盘掉电测试方法的流程图；
[0043]图6是本专利技术另一个实施例提供的硬盘掉电测试方法的流程图；
[0044]图7是图1中步骤S101的具体方法的流程图；
[0045]图8是本专利技术一个实施例提供的硬盘掉电测试系统的结构示意图。
具体实施方式
[0046]为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本申请本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种硬盘掉电测试方法，其特征在于，所述方法包括：对待测硬盘进行逻辑分区，得到第一分区和第二分区；向所述第一分区的至少一部分区域填充预设的样本数据，并向所述第二分区发送测试指令；对所述待测硬盘进行异常掉电；当所述待测硬盘通过异常掉电，将所述样本数据拷贝至所述第二分区，并对所述待测硬盘进行异常掉电；当确定所述样本数据拷贝成功并且所述待测硬盘通过异常掉电，对所述第一分区进行数据填充操作，直至满足预设的结束条件。2.根据权利要求1所述的硬盘掉电测试方法，其特征在于，所述向所述第一分区的至少一部分区域填充预设的样本数据，包括：获取所述第一分区的第一区块地址，其中，所述第一区块地址为所述第一分区的逻辑区块地址；根据所述样本数据确定第一写入地址，其中，所述第一写入地址为所述样本数据所指向的数据块的物理地址；当所述第一区块地址与所述第一写入地址匹配，根据所述第一写入地址将所述样本数据填充至所述第一分区的数据块中。3.根据权利要求2所述的硬盘掉电测试方法，其特征在于，所述将所述样本数据拷贝至所述第二分区，包括：获取所述样本数据的数据容量以及所述第二分区的第二区块地址，其中，所述第二区块地址为所述第二分区的逻辑区块地址；当所述数据容量小于所述第二分区的容量，将所述第一写入地址与所述第二区块地址进行匹配；当所述第一写入地址与所述第二区块地址匹配，根据所述第一写入地址将所述样本数据拷贝至所述第二分区的数据块中。4.根据权利要求1所述的硬盘掉电测试方法，其特征在于，所述对所述第一分区进行数据填充操作，包括：获取预设的测试数据的测试容量；对所述第一分区进行容量测试，确定所述第一分区的剩余容量以及已填充容量...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢登煌，
申请(专利权)人：深圳市晶存科技有限公司，
类型：发明
国别省市：