闪存芯片的测试方法、测试装置和测试设备制造方法及图纸

本申请公开了一种闪存芯片的测试方法、测试装置和测试设备，测试方法包括步骤：将闪存芯片放置在与测试系统连接的测试座内；启动测试系统的第一测试程序和第二测试程序通过测试座分别对闪存芯片进行测试并读取测试数据，将读取的测试数据直接保存到测试系统中；其中，所述第一测试程序和第二测试程序对闪存芯片的不同特性进行测试读取不同特性对应的测试数据。本申请将原来需要写入到闪存芯片中的多个测试程序进行集成，形成测试系统，多个测试程序可同时连接多个闪存芯片，选择需要测试的项目(可多选)，配置完成后可以对选择的测试项逐个进行测试，并在每项测试完成后自动读取测试数据，减少对人力需求的高度依赖。减少对人力需求的高度依赖。减少对人力需求的高度依赖。

【技术实现步骤摘要】
闪存芯片的测试方法、测试装置和测试设备


[0001]本申请涉及测试
，尤其涉及一种闪存芯片的测试方法、测试装置和测试设备。

技术介绍

[0002]Nand Flash从芯片供应商出货至各销售渠道，等级差异很大，另外以次充好的现象比比皆是，Nand Flash的检测设备一般只有大型企业才具备，而且设备体积庞大，操作复杂，测试效率低，不具有便携性。对于企业而言，需要采购大量的测试设备来测试购买的Nand Flash芯片的品质。
[0003]为了解闪存芯片的坏块、读干扰以及擦写寿命等特性，需要对闪存芯片进行测试，目前的测试方法主要是将单个测试座将闪存芯片连接到电脑，写入测试程序，再重新上电进行测试，每项测试完成后需要读取测试数据，再写入下一个测试程序，重复这个过程直至完成全部测试并读取到全部测试数据，导致时效差，完整的测试流程需要对存储设备逐个多次写入测试程序，耗费人力且效率较低；且无法实时监测到当前测试进度和状况，只能等测试结束再读取数据后才能了解到测试异常现象。

技术实现思路

[0004]本申请的目的是提供一种闪存芯片的测试方法、测试装置和测试设备，可以实现多个闪存芯片的同时测试，在每项测试完成后自动读取测试数据，减少对人力需求的高度依赖，大大提高测试效率。
[0005]本申请公开了一种闪存芯片的测试方法，包括:
[0006]将闪存芯片放置在与测试系统连接的测试座内；以及
[0007]启动测试系统的第一测试程序和第二测试程序通过测试座分别对闪存芯片进行测试并读取测试数据，将读取的测试数据直接保存到测试系统中；
[0008]其中，所述第一测试程序和第二测试程序对闪存芯片的不同特性进行测试读取不同特性对应的测试数据。
[0009]可选的，所述将闪存芯片放置在与测试系统连接的测试座内的步骤包括：
[0010]将至少两个闪存芯片放置在与测试系统连接的至少两个测试座内；
[0011]其中，两个闪存芯片分别为第一闪存芯片和第二闪存芯片；
[0012]所述启动测试系统的第一测试程序和第二测试程序通过测试座分别对闪存芯片进行测试并读取测试数据，将读取的测试数据直接保存到测试系统中的步骤包括：
[0013]启动测试系统的第一测试程序和第二测试程序通过第一闪存芯片对应的测试座对第一闪存芯片进行测试并读取测试数据；
[0014]启动测试系统的第一测试程序和第二测试程序通过第二闪存芯片对应的测试座对第二闪存芯片进行测试并读取测试数据；
[0015]将所有读取的测试数据直接保存到测试系统。
[0016]可选的，所述将闪存芯片放置在与测试系统连接的测试座内的步骤包括：
[0017]将至少两个闪存芯片放置在与测试系统连接的至少两个测试座内；
[0018]其中，两个闪存芯片分别为第一闪存芯片和第二闪存芯片；
[0019]所述启动测试系统的第一测试程序和第二测试程序通过测试座分别对闪存芯片进行测试并读取测试数据，将读取的测试数据直接保存到测试系统中的步骤包括：
[0020]启动测试系统的第一测试程序通过第一闪存芯片对应的测试座对第一闪存芯片进行测试并读取测试数据，启动第二测试程序通过第二闪存芯片对应的测试座对第二闪存芯片进行测试并读取测试数据；
[0021]启动测试系统的第一测试程序通过第二闪存芯片对应的测试座对第二闪存芯片进行测试并读取测试数据，启动第二测试程序通过第一闪存芯片对应的测试座对第一闪存芯片进行测试并读取测试数据；
[0022]将所有读取的测试数据直接保存到测试系统。
[0023]可选的，所述将闪存芯片放置在与测试系统连接的测试座内的步骤包括：
[0024]将至少两个闪存芯片放置在与测试系统连接的至少两个测试座内；
[0025]其中，两个闪存芯片分别为第一闪存芯片和第二闪存芯片；
[0026]所述启动测试系统的第一测试程序和第二测试程序通过测试座分别对闪存芯片进行测试并读取测试数据，将读取的测试数据直接保存到测试系统中的步骤包括：
[0027]启动测试系统的第一测试程序通过第一闪存芯片和第二闪存芯片对应的两个测试座分别对第一闪存芯片和第二闪存芯片进行测试并读取测试数据，同时启动第二测试程序通过第一闪存芯片和第二闪存芯片对应的两个测试座分别对第一闪存芯片和第二闪存芯片进行测试并读取测试数据；
[0028]将所有读取的测试数据直接保存到测试系统。
[0029]可选的，所述启动测试系统的第一测试程序和第二测试程序通过测试座分别对闪存芯片进行测试并读取测试数据，将读取的测试数据直接保存到测试系统中的步骤后还包括步骤：
[0030]启动测试系统的第三测试程序对两个闪存芯片中的任意一个或两个闪存芯片测试并读取测试数据；
[0031]其中，所述第一测试程序是对闪存芯片的坏块进行测试，所述第二测试程序是对闪存芯片的读干扰进行测试，所述第三测试程序是对闪存芯片的擦写寿命进行测试。
[0032]可选的，所述将闪存芯片放置在与测试系统连接的测试座内的步骤包括：
[0033]将多个闪存芯片放置在与测试系统连接的多两个测试座内；
[0034]所述启动测试系统的第一测试程序和第二测试程序通过测试座分别对闪存芯片进行测试并读取测试数据，将读取的测试数据直接保存到测试系统中的步骤包括：
[0035]启动测试系统的包括第一测试程序和第二测试程序在内的多个测试程序通过多个闪存芯片对应的多个测试座对多个闪存芯片进行测试并读取测试数据，将所有读取的测试数据直接保存到测试系统；
[0036]检测每个闪存芯片测试的特性数据，当对应的闪存芯片存在未读取的测试数据时，启动未读取的测试数据时对应的测试程序通过测试座对该闪存芯片读取之前未进行测试的测试数据，直至闪存芯片所有的测试数据测试完成。
[0037]可选的，所述检测每个闪存芯片测试的特性数据，当对应的闪存芯片存在未读取的测试数据时，启动未读取的测试数据时对应的测试程序通过测试座对该闪存芯片读取之前未进行测试的测试数据，直至闪存芯片所有的测试数据测试完成的步骤后还包括步骤：
[0038]更换已完成全部测试，且所有测试数据均被测试系统读取的闪存芯片，重新执行检测每个闪存芯片测试的特性数据，当对应的闪存芯片存在未读取的测试数据时，启动未读取的测试数据时对应的测试程序通过测试座对该闪存芯片读取之前未进行测试的测试数据，直至闪存芯片所有的测试数据测试完成的步骤。
[0039]本申请还公开了一种测试装置，使用如上任一所述的测试方法对闪存芯片进行测试，所述测试装置包括测试系统和测试座，所述测试系统包括多个与测试座连接的测试端口，所述测试系统内设有多个测试程序模块和数据储存模块，每个所述测试端口的一端与所述测试座电连接，另一端与多个所述测试程序模块连接；所述测试程序模块通过测试端口发送测试指令至所述测试座，所述测试座实现对闪存芯片的测试，并将测试数据反馈至所述数据储存模块。<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种闪存芯片的测试方法，其特征在于，包括:将闪存芯片放置在与测试系统连接的测试座内；以及启动测试系统的第一测试程序和第二测试程序通过测试座分别对闪存芯片进行测试并读取测试数据，将读取的测试数据直接保存到测试系统中；其中，所述第一测试程序和第二测试程序对闪存芯片的不同特性进行测试读取不同特性对应的测试数据。2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述将闪存芯片放置在与测试系统连接的测试座内的步骤包括：将至少两个闪存芯片放置在与测试系统连接的至少两个测试座内；其中，两个闪存芯片分别为第一闪存芯片和第二闪存芯片；所述启动测试系统的第一测试程序和第二测试程序通过测试座分别对闪存芯片进行测试并读取测试数据，将读取的测试数据直接保存到测试系统中的步骤包括：启动测试系统的第一测试程序和第二测试程序通过第一闪存芯片对应的测试座对第一闪存芯片进行测试并读取测试数据；启动测试系统的第一测试程序和第二测试程序通过第二闪存芯片对应的测试座对第二闪存芯片进行测试并读取测试数据；将所有读取的测试数据直接保存到测试系统。3.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述将闪存芯片放置在与测试系统连接的测试座内的步骤包括：将至少两个闪存芯片放置在与测试系统连接的至少两个测试座内；其中，两个闪存芯片分别为第一闪存芯片和第二闪存芯片；所述启动测试系统的第一测试程序和第二测试程序通过测试座分别对闪存芯片进行测试并读取测试数据，将读取的测试数据直接保存到测试系统中的步骤包括：启动测试系统的第一测试程序通过第一闪存芯片对应的测试座对第一闪存芯片进行测试并读取测试数据，启动第二测试程序通过第二闪存芯片对应的测试座对第二闪存芯片进行测试并读取测试数据；启动测试系统的第一测试程序通过第二闪存芯片对应的测试座对第二闪存芯片进行测试并读取测试数据，启动第二测试程序通过第一闪存芯片对应的测试座对第一闪存芯片进行测试并读取测试数据；将所有读取的测试数据直接保存到测试系统。4.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述将闪存芯片放置在与测试系统连接的测试座内的步骤包括：将至少两个闪存芯片放置在与测试系统连接的至少两个测试座内；其中，两个闪存芯片分别为第一闪存芯片和第二闪存芯片；所述启动测试系统的第一测试程序和第二测试程序通过测试座分别对闪存芯片进行测试并读取测试数据，将读取的测试数据直接保存到测试系统中的步骤包括：启动测试系统的第一测试程序通过第一闪存芯片和第二闪存芯片对应的两个测试座分别对第一闪存芯片和第二闪存芯片进行测试并读取测试数据，同时启动第二测试程序通过第一闪存芯片和第二闪存芯片对应的两个测试座分别对第一闪存芯片和第二闪存芯片
进行测试并读取测试数据；将所有读取的测试数据直接保存到测试系统。5.如权利要求2
‑
4任意一项所述的测试方法，其特征在于，所述启动测试系统的第一测试程序和第二测试程序通过测试座分别对闪存芯片进行测试并读取测试数据，将读取的测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：唐熠，黄善勇，卢颖福，
申请(专利权)人：深圳市时创意电子有限公司，
类型：发明
国别省市：