一种射频芯片三温手动测试系统技术方案

本实用新型专利技术提供了一种射频芯片三温手动测试系统，包括测试组件，所述测试组件包括夹具密封板、芯片治具、夹具密封罩、连接板、支撑架、排气口、两个导轨、进气口、滑动座、升降气缸、推动气缸、射频输出及控制接口和底座；两个所述导轨对称固定连接于所述底座的上表面。本实用新型专利技术通过推动气缸推动滑动座，可以将射频芯片放置于芯片治具内，通过升降气缸带动夹具密封罩向下移动，即可将射频芯片密封至夹具密封罩内，通过夹具密封罩隔绝外部的空气，可以解决低温测试时射频芯片结霜的问题，而且节约了测试时间，提高了测试效率，避免的人员在高低温和严重噪音的环境工作，同时操作简单，降低人员劳动强度。低人员劳动强度。低人员劳动强度。

【技术实现步骤摘要】
一种射频芯片三温手动测试系统


[0001]本技术涉及一种测试系统，具体为射频芯片三温手动测试系统，属于射频芯片三温测试


技术介绍

[0002]随着汽车电子的快速发展，车规级芯片也有强制高低温实验要求，同时国军标对航空航天以及军工器件的三温测试提出了明确的要求，并要求企业严格执行，但高低温环境测试一直是企业生产的瓶颈，特别是低温测试，打开温箱更换器件设备内部结霜淋露，测试时芯片发热形成水导致芯片短路，留下的水渍影响产品外观清洁困难，设备结霜影响降温同时容易损坏设备，器件拿出测试又符合测试要求，所以成为企业生产的大难题；同时高低温实验设备噪音大，人员在高低温环境下工作对身体伤害比较大，严重影响职业健康。
[0003]目前射频芯片的三温测试主要有两种形式存在：
[0004]形式一，将测试产品连接到夹具上，全部放入高低温设备内，依次测试常温、低温，最后测试高温，完成后将设备恢复到常温，取出已测试产品，该方式符合高低温测试规范，但效率非常低，同时引出大量的测试电缆，操作非常复杂，温箱升降温过程浪费大量时间，测试附件需求量大成本高本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种射频芯片三温手动测试系统，包括测试组件（101），其特征在于：所述测试组件（101）包括夹具密封板（11）、芯片治具（12）、夹具密封罩（13）、连接板（15）、支撑架（16）、排气口（17）、两个导轨（18）、进气口（19）、滑动座（20）、升降气缸（21）、推动气缸（23）、射频输出及控制接口（26）和底座（27）；两个所述导轨（18）对称固定连接于所述底座（27）的上表面，所述滑动座（20）的下表面滑动连接于两个所述导轨（18）的上表面，所述夹具密封板（11）安装于所述滑动座（20）的上表面，所述芯片治具（12）安装于所述夹具密封板（11）的上表面中心，所述推动气缸（23）安装于所述底座（27）的上表面，所述进气口（19）开设于所述夹具密封罩（13）的上表面，所述排气口（17）开设于所述夹具密封罩（13）的一侧，所述升降气缸（21）安装于所述支撑架（16）的顶部，所述连接板（15）的下表面固定连接于所述夹具密封罩（13）的上表面和所述升降气缸（21）的气缸轴，所述射频输出及控制接口（26）安装于所述夹具密封板（11）的后表面，所述测试组件（101）还包括导向套（14）、压紧头（22）、弹簧（24）和滑动杆（25）；所述导向套（14）嵌接于所述夹具密封罩（13）的内部，所述滑动杆（25）滑动连接于所述导向套（14）的内侧壁，所述压紧头（22）固定连接于所述滑动杆（25）的底部。2.根据权利要求1所述的一种射频芯片三温手动测试系统，其特征在于：所述弹簧（24）套接于所述滑动杆（25）的外侧壁，所述弹簧（24）的一端固定连接于所述导向套（14）的内侧壁，所述弹簧（24）的另一端固定连接于所述滑动杆（...

【专利技术属性】
技术研发人员：王国华，李泽林，
申请(专利权)人：成都华轺科技有限公司，
类型：新型
国别省市：