一种芯片测试调试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术属于芯片测试设备技术领域，尤其为一种芯片测试调试装置，包括若干组真空管，还包括设置在所述真空管一侧的连接组件；所述连接组件包括设置在所述真空管一侧的长板以及固定在所述长板顶部的第二固定板和滑动连接在所述长板内部的移动块，所述移动块的顶部两组均开设有第一螺纹槽组，所述第一连接板的顶部开设有若干组第二螺纹槽组，第一螺纹槽组与所述第二螺纹槽组通过第一固定螺母固定连接，通过设置的连接组件，装置根据生产需求进行加装真空管，装置可根据不同批次的芯片，调节真空管的数量，真空管的位置可进行调节，通过设置的放置工装组件，可对芯片的位置进行调节，从而适应后续的上料和下料步骤。从而适应后续的上料和下料步骤。从而适应后续的上料和下料步骤。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试调试装置


[0001]本技术属于芯片测试设备
，具体涉及一种芯片测试调试装置。

技术介绍

[0002]随着以触控识别为代表的生物识别技术的飞速发展，电子设备几乎都配备触控识别功能，一般采用电容式或电阻式来实现触控识别，触控芯片测试用于芯片的按压测试；
[0003]经查公开(公告)号：CN208206681U公开了一种触控芯片的批量按压测试装置，此技术公开了“包括装置本体，所述装置本体包括底座，所述底座分为定位层、吸附层和控制层，所述定位层、所述吸附层和所述控制层由上而下依次排列，所述定位层内设有若干定位槽，所述定位槽的深度与待测芯片的厚度相当等
技术实现思路
；仿手指按压在待测芯片的表面，模拟人的手指进行按压动作，仿手指底部内侧的压力传感器实时监测实际压力值等技术效果”；
[0004]虽然该设计能够模拟人的手指进行按压动作，仿手指底部内侧的压力传感器实时监测实际压力值，并且批量进行检测，但是在实际的使用过程中，在对不同批次的芯片进行批量检测时，装置不方便加装多余真空管用于固定芯片，无法根据使用需求灵活调整单次测试的芯片数量，实用性较差；
[0005]为解决上述问题，本申请中提出一种芯片测试调试装置。

技术实现思路

[0006]为解决上述
技术介绍
中提出的问题。本技术提供了一种芯片测试调试装置，具有根据生产需求进行加装真空管，装置可根据不同批次的芯片，调节真空管的数量，可以根据使用需求灵活调整单次测试的芯片数量的特点。
[0007]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种芯片测试调试装置，包括若干组真空管，还包括设置在所述真空管一侧的连接组件；
[0008]所述连接组件包括设置在所述真空管一侧的长板以及固定在所述长板顶部的第二固定板和滑动连接在所述长板内部的移动块，所述移动块的顶部两组均开设有第一螺纹槽组。
[0009]作为本技术一种芯片测试调试装置优选的，第一螺纹槽组上方设置有第一连接板，所述第一连接板的顶部开设有若干组第二螺纹槽组，第一螺纹槽组与所述第二螺纹槽组通过第一固定螺母固定连接，所述第二固定板的顶部两侧开设有第三螺纹槽组，所述第二固定板的顶部开设有若干个组第四螺纹槽组，第三螺纹槽组与第四螺纹槽组通过第二固定螺母固定连接，所述长板的表面开设有两组条形槽，所述条形槽内部滑动连接有旋转滑动栓头，所述移动块的顶部开设有与所述旋转滑动栓头相适配的第一通孔，所述真空管的的外表面固定有移动板，所述移动板靠近所述长板一端开设有与所述旋转滑动栓头相适配的第二通孔，所述旋转滑动栓头的顶部外表面开设有螺纹，所述旋转滑动栓头的顶部螺纹连接有栓头螺纹帽。
[0010]作为本技术一种芯片测试调试装置优选的，所述移动块远离所述真空管的一侧固定有伸缩杆，所述长板远离所述真空管的顶部一端固定有伸缩座，所述伸缩杆远离所述移动块的一端固定在所述伸缩座的内部。
[0011]作为本技术一种芯片测试调试装置优选的，其中一组所述长板的底部固定连接有顶升电机，所述顶升电机的底部固定连接有减速电机，所述减速电机的底部固定连接有安装主架。
[0012]作为本技术一种芯片测试调试装置优选的，还包括设置在所述真空管底部的放置工装组件，所述放置工装组件包括设置在所述真空管底部的底架以及固定在所述底架顶部的电动转盘和转动连接在所述电动转盘输出端的旋转盘。
[0013]作为本技术一种芯片测试调试装置优选的，所述旋转盘的顶部环形阵列开设有若干组工装槽。
[0014]作为本技术一种芯片测试调试装置优选的，所述底架的输入轴连接有伺服电机，所述安装主架的外壁固定在所述底架的内壁上。
[0015]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0016]通过设置的连接组件，装置根据生产需求进行加装真空管，装置可根据不同批次的芯片，调节真空管的数量，可以根据使用需求灵活调整单次测试的芯片数量，真空管的位置可进行调节，通过设置的放置工装组件，可对芯片的位置进行调节，从而适应后续的上料和下料步骤。
附图说明
[0017]附图用来提供对本技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本技术的实施例一起用于解释本技术，并不构成对本技术的限制。在附图中：
[0018]图1为本技术的结构示意图；
[0019]图2为本技术中连接组件的结构示意图；
[0020]图3为本技术中连接组件的部分结构示意图；
[0021]图4为本技术中旋转滑动栓头的结构示意图；
[0022]图5为本技术中放置工装组件的部分结构示意图；
[0023]图中：
[0024]1、真空管；
[0025]2、连接组件；21、长板；22、条形槽；23、移动板；24、移动块；25、安装主架；26、旋转滑动栓头；27、栓头螺纹帽；28、伸缩座；29、伸缩杆；201、第一连接板；202、第一固定螺母；203、第二固定板；204、第二固定螺母；205、顶升电机；206、减速电机；
[0026]3、放置工装组件；31、旋转盘；32、工装槽；33、伺服电机；34、电动转盘；35、底架。
具体实施方式
[0027]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0028]实施例1
[0029]如图1所示；
[0030]一种芯片测试调试装置，包括若干组真空管1。
[0031]本实施方案中：经查公开(公告)号：CN208206681U公开了一种触控芯片的批量按压测试装置，此专利中公开了本申请文件中所提出的真空管，本申请文件中的真空管1采用此现有技术中同样的技术手段，此技术手段在此不一一赘述，详情参阅下文公开技术；为解决此现有技术中存在的技术问题，如上文
技术介绍
公开的“虽然该设计能够模拟人的手指进行按压动作，仿手指底部内侧的压力传感器实时监测实际压力值，并且批量进行检测，但是在实际的使用过程中，在对不同批次的芯片进行批量检测时，装置不方便加装多余真空管用于固定芯片，无法根据使用需求灵活调整单次测试的芯片数量，实用性较差”，结合实际使用而言，此问题显然是现实存在且比较难以解决的问题，鉴此，为解决此技术问题，在此基础加上了连接组件2和放置工装组件3。
[0032]如图1和图5所示；
[0033]结合上述内容，为了适配多组测试装置，还包括设置在真空管1一侧的连接组件2；连接组件2包括设置在真空管1一侧的长板21以及固定在长板21顶部的第二固定板203和滑动连接在长板21内部的移动块24，移动块24的顶部两组均开设有第一螺纹槽组，第一螺纹槽组上方设置有第一连接板201，第一连接板201的顶部开设有若干组第二螺纹槽本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试调试装置，包括若干组真空管(1)，其特征在于：还包括设置在所述真空管(1)一侧的连接组件(2)；所述连接组件(2)包括设置在所述真空管(1)一侧的长板(21)以及固定在所述长板(21)顶部的第二固定板(203)和滑动连接在所述长板(21)内部的移动块(24)；所述移动块(24)的顶部两组均开设有第一螺纹槽组，第一螺纹槽组上方设置有第一连接板(201)，所述第一连接板(201)的顶部开设有若干组第二螺纹槽组，第一螺纹槽组与所述第二螺纹槽组通过第一固定螺母(202)固定连接，所述第二固定板(203)的顶部两侧开设有第三螺纹槽组，所述第二固定板(203)的顶部开设有若干个组第四螺纹槽组，第三螺纹槽组与第四螺纹槽组通过第二固定螺母(204)固定连接，所述长板(21)的表面开设有两组条形槽(22)，所述条形槽(22)内部滑动连接有旋转滑动栓头(26)，所述移动块(24)的顶部开设有与所述旋转滑动栓头(26)相适配的第一通孔，所述真空管(1)的外表面固定有移动板(23)，所述移动板(23)靠近所述长板(21)一端开设有与所述旋转滑动栓头(26)相适配的第二通孔，所述旋转滑动栓头(26)的顶部外表面开设有螺纹，所述旋转滑动栓头(26)的顶部螺纹连接有栓头螺...

【专利技术属性】
技术研发人员：秦健，张强，陈华平，周毅，王成涛，
申请(专利权)人：深圳海关玩具检测技术中心，
类型：新型
国别省市：