一种改良型射频芯片三温手动测试设备制造技术

本技术提供了一种改良型射频芯片三温手动测试设备，包括主体组件，所述主体组件包括密封箱、箱门、观察窗、把手、锁扣、进气阀和排气阀；所述主体组件的内部设置有运动组件。本技术通过进气阀和排气阀向密封箱内送入干燥空气，降低密封箱内部空气湿度，避免密封罩低温传到密封罩外壁后结霜，解决长时间低温导致的密封罩及测试夹具结霜问题，通过密封罩对测试夹具进行密封，通过进气管和排气管通入高温或低温气体，完成对射频芯片的三温测试，解决了小批量多品种射频芯片高低温测试困难的问题，降低了测试成本，提高了测试效率，减少能源消耗，降低测试人员劳动强度以及对测试人员的技能要求，简化三温测试过程。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测试设备，特别涉及一种改良型射频芯片三温手动测试设备，属于射频芯片三温测试。

技术介绍

1、随着汽车电子的快速发展，车规级芯片也有强制高低温实验要求，同时航空航天以及特殊领域器件的三温测试提出了明确的要求，并要求企业严格执行，但高低温环境测试一直是企业生产的瓶颈，特别是低温测试，打开温箱更换器件设备内部结霜淋露，测试时芯片发热形成水导致芯片短路，留下的水渍影响产品外观清洁困难，设备结霜影响降温同时容易损坏设备，器件拿出测试又符合测试要求，所以成为企业生产的大难题；同时高低温实验设备噪音大，人员在高低温环境下工作对身体伤害比较大，严重影响职业健康。

2、目前射频芯片的三温测试主要有两种形式存在：

3、形式一，将测试产品连接到夹具上，全部放入高低温设备内，依次测试常温、低温，最后测试高温，完成后将设备恢复到常温，取出已测试产品，该方式符合高低温测试规范，但效率非常低，同时引出大量的测试电缆，操作非常复杂，温箱升降温过程浪费大量时间，测试附件需求量大成本高；

4、形式二，人员将产品拿出温箱测试，由于产品拿出高低温本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种改良型射频芯片三温手动测试设备，包括主体组件（10），其特征在于：所述主体组件（10）包括密封箱（13）、箱门（14）、观察窗（15）、把手（16）、锁扣（17）、进气阀（18）和排气阀（19）；

2.根据权利要求1所述的一种改良型射频芯片三温手动测试设备，其特征在于：所述主体组件（10）还包括电气控制箱（11）和电源开关（12）；

3.根据权利要求1所述的一种改良型射频芯片三温手动测试设备，其特征在于：所述运动组件（20）包括驱动气缸（21）、升降支座（22）、导向杆（23）、密封罩（24）、工作台（25）、测试夹具（26）、进气管（27）和排气管（28...

【技术特征摘要】

1.一种改良型射频芯片三温手动测试设备，包括主体组件（10），其特征在于：所述主体组件（10）包括密封箱（13）、箱门（14）、观察窗（15）、把手（16）、锁扣（17）、进气阀（18）和排气阀（19）；

2.根据权利要求1所述的一种改良型射频芯片三温手动测试设备，其特征在于：所述主体组件（10）还包括电气控制箱（11）和电源开关（12）；

3.根据权利要求1所述的一种改良型射频芯片三温手动测试设备，其特征在于：所述运动组件（20）包括驱动气缸（21）、升降支座（22）、导向杆（23）、密封罩（24）、工作台（25）、测试夹具（26）、进气管（27）和排气管（28）；

4.根据权利要求3所述的一种改良型射频芯片三温手动测试设备，其特征在于：所述驱动气缸（21）的活塞杆底端与所述升降支座（22）固定连接。

5.根据权利要求4所述的一...

【专利技术属性】
技术研发人员：王国华，李泽林，
申请(专利权)人：成都华轺科技有限公司，
类型：新型
国别省市：