通信芯片可靠性测试方法、装置和系统制造方法及图纸

本申请涉及一种通信芯片可靠性测试方法、装置和系统，通过获取待测通信芯片的原始时钟波形，并基于原始时钟波形按预设故障测试用例列表生成故障注入时钟波形，然后将故障注入时钟波形输入至待测通信芯片，获取待测通信芯片的输出信号，最终根据输出信号与预设输出信号进行比较，得到待测通信芯片的测试结果。本申请通过按照预设故障测试用例列表自动生成故障注入时钟波形，注入至待测通信芯片，实现对整个故障注入过程的自动化控制和监测、测试结果自动检查判断、测试数据自动分析等功能，提高了通信芯片的可靠性测试的便捷度和测试效率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
通信芯片可靠性测试方法、装置和系统


[0001]本申请涉及通信芯片
，特别是涉及一种通信芯片可靠性测试方法、装置和系统。

技术介绍

[0002]近年来，通信芯片广泛应用于移动通信、无线internet和无线数据传输业，即将成为21世纪初全球半导体芯片业最大的应用市场。其中，CAN通信芯片作为数据处理能力要求较高的通信芯片占有较大的应用比例。但与此同时，CAN通信芯片对时钟频率精度、稳定性能等都有较高的要求，通信过程中任何一种不稳定因素都可能会对通信的稳定性和功能造成一定的影响，因此检测和验证CAN通信芯片在异常时钟情况下的可靠性，对保证芯片的安全性和可靠性具有重要意义。
[0003]传统方式中，常采用时钟故障注入技术，通过在通信芯片电路中注入特定的时钟故障，检验芯片在异常状态下的运行能力。但目前时钟故障注入技术都是通过手动干扰芯片时钟信号，从而随机改变时钟信号的波形来实现时钟故障注入，导致通信芯片可靠性测试结果不够准确。

技术实现思路

[0004]基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够准确对通信芯片进行可靠性测试的通信芯片可靠性测试方法、装置和系统。
[0005]第一方面，本申请提供了一种通信芯片可靠性测试方法。所述方法包括：
[0006]获取待测通信芯片的原始时钟波形；
[0007]基于所述原始时钟波形按预设故障测试用例列表生成故障注入时钟波形；
[0008]将所述故障注入时钟波形输入至所述待测通信芯片，并获取所述待测通信芯片的输出信号；
[0009]根据所述输出信号与预设输出信号进行比较，得到所述待测通信芯片的测试结果。
[0010]在其中一个实施例中，所述预设故障测试用例列表包括至少一个故障测试用例；所述基于所述原始时钟波形按预设故障测试用例列表生成故障注入时钟波形，包括：
[0011]按用例顺序依次获取所述预设故障测试用例列表中的故障测试用例；
[0012]基于获取的所述故障测试用例的用例信息生成对应的故障注入时钟波形。
[0013]在其中一个实施例中，各所述故障测试用例的用例信息均包括故障测试类型、故障测试参数、以及故障测试参数值；所述基于获取的所述故障测试用例的用例信息生成对应的故障注入时钟波形，包括：
[0014]在所述故障测试用例的故障测试类型为稳态测试类型的情况下，基于获取的所述故障测试用例的故障测试参数以及故障测试参数值，生成对应的稳态故障注入时钟波形；
[0015]在所述故障测试用例的故障测试类型为毛刺测试类型的情况下，基于获取的所述
故障测试用例的故障测试参数以及故障测试参数值，生成对应的毛刺故障注入时钟波形。
[0016]在其中一个实施例中，在所述故障测试用例的故障测试类型为稳态测试类型的情况下，所述故障测试用例的故障测试参数包括时钟波形的幅值与频率中的至少一种；
[0017]在所述故障测试用例的故障测试类型为毛刺测试类型的情况下，所述故障测试用例的故障测试参数包括时钟波形的幅值、频率、占空比与相位中的至少一种。
[0018]在其中一个实施例中，所述将所述故障注入时钟波形输入至所述待测通信芯片，并获取所述待测通信芯片的输出信号，包括：
[0019]将各所述故障测试用例的故障注入时钟波形输入至所述待测通信芯片，并获取各所述故障测试用例对应地所述待测通信芯片的输出信号；
[0020]所述根据所述输出信号与预设输出信号进行比较，得到所述待测通信芯片的测试结果，包括：
[0021]根据各所述故障测试用例对应地所述待测通信芯片的输出信号与预设输出信号进行比较，获得各所述故障测试用例对应的比较结果；
[0022]基于各所述故障测试用例对应的比较结果进行统计，得到所述待测通信芯片的测试结果。
[0023]在其中一个实施例中，所述将所述故障注入时钟波形输入至所述待测通信芯片，并获取所述待测通信芯片的输出信号，包括：
[0024]将所述故障注入时钟波形按预设循环次数输入至所述待测通信芯片，并获取各所述预设循环次数对应的所述待测通信芯片的输出信号；
[0025]所述根据所述输出信号与预设输出信号进行比较，得到所述待测通信芯片的测试结果，包括：
[0026]根据各所述预设循环次数对应的所述待测通信芯片的输出信号与预设输出信号进行比较，获得各所述预设循环次数对应的比较结果；
[0027]基于各所述预设循环次数对应的比较结果进行统计，得到所述待测通信芯片的测试结果。
[0028]第二方面，本申请还提供了一种通信芯片可靠性测试装置。所述装置包括：
[0029]原始时钟波形获取模块，用于获取待测通信芯片的原始时钟波形；
[0030]故障注入时钟波形生成模块，用于基于所述原始时钟波形按预设故障测试用例列表生成故障注入时钟波形；
[0031]故障注入时钟波形注入模块，用于将所述故障注入时钟波形输入至所述待测通信芯片，并获取所述待测通信芯片的输出信号；
[0032]输出信号比较模块，用于根据所述输出信号与预设输出信号进行比较，得到所述待测通信芯片的测试结果。
[0033]第三方面，本申请还提供了一种通信芯片可靠性测试系统。所述系统包括时钟检测模块、时钟故障设置模块、故障注入模块、故障注入控制模块与故障注入检测模块，所述时钟检测模块连接待测通信芯片与所述时钟故障设置模块，所述时钟故障设置模块连接所述故障注入模块与所述故障注入控制模块，所述故障注入控制模块连接所述故障注入模块与所述故障注入检测模块，所述故障注入模块与所述故障注入检测模块均连接所述待测通信芯片；
[0034]所述时钟检测模块用于获取所述待测通信芯片的原始时钟波形；
[0035]所述故障注入控制模块用于控制所述时钟故障设置模块基于所述原始时钟波形按预设故障测试用例列表生成故障注入时钟波形，并控制所述故障注入模块将所述故障注入时钟波形输入至所述待测通信芯片，还用于控制所述故障注入检测模块获取所述待测通信芯片的输出信号；
[0036]所述故障注入控制模块还用于根据所述输出信号与预设输出信号进行比较，得到所述待测通信芯片的测试结果。
[0037]在其中一个实施例中，所述时钟检测模块为示波器。
[0038]在其中一个实施例中，所述故障注入模块为信号发生器。
[0039]上述通信芯片可靠性测试方法、装置和系统，通过获取待测通信芯片的原始时钟波形，并基于原始时钟波形按预设故障测试用例列表生成故障注入时钟波形，然后将故障注入时钟波形输入至待测通信芯片，获取待测通信芯片的输出信号，最终根据输出信号与预设输出信号进行比较，得到待测通信芯片的测试结果。本申请通过按照预设故障测试用例列表自动生成故障注入时钟波形，注入至待测通信芯片，实现对整个故障注入过程的自动化控制和监测、测试结果自动检查判断、测试数据自动分析等功能，提高了通信芯片的可靠性测试的便捷度和测试效率。
附图说明
[0040]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种通信芯片可靠性测试方法，其特征在于，所述方法包括：获取待测通信芯片的原始时钟波形；基于所述原始时钟波形按预设故障测试用例列表生成故障注入时钟波形；将所述故障注入时钟波形输入至所述待测通信芯片，并获取所述待测通信芯片的输出信号；根据所述输出信号与预设输出信号进行比较，得到所述待测通信芯片的测试结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设故障测试用例列表包括至少一个故障测试用例；所述基于所述原始时钟波形按预设故障测试用例列表生成故障注入时钟波形，包括：按用例顺序依次获取所述预设故障测试用例列表中的故障测试用例；基于获取的所述故障测试用例的用例信息生成对应的故障注入时钟波形。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，各所述故障测试用例的用例信息均包括故障测试类型、故障测试参数、以及故障测试参数值；所述基于获取的所述故障测试用例的用例信息生成对应的故障注入时钟波形，包括：在所述故障测试用例的故障测试类型为稳态测试类型的情况下，基于获取的所述故障测试用例的故障测试参数以及故障测试参数值，生成对应的稳态故障注入时钟波形；在所述故障测试用例的故障测试类型为毛刺测试类型的情况下，基于获取的所述故障测试用例的故障测试参数以及故障测试参数值，生成对应的毛刺故障注入时钟波形。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述故障测试用例的故障测试类型为稳态测试类型的情况下，所述故障测试用例的故障测试参数包括时钟波形的幅值与频率中的至少一种；在所述故障测试用例的故障测试类型为毛刺测试类型的情况下，所述故障测试用例的故障测试参数包括时钟波形的幅值、频率、占空比与相位中的至少一种。5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述将所述故障注入时钟波形输入至所述待测通信芯片，并获取所述待测通信芯片的输出信号，包括：将各所述故障测试用例的故障注入时钟波形输入至所述待测通信芯片，并获取各所述故障测试用例对应地所述待测通信芯片的输出信号；所述根据所述输出信号与预设输出信号进行比较，得到所述待测通信芯片的测试结果，包括：根据各所述故障测试用例对应地所述待测通信芯片的输出信号与预设输出信号进行比较，获得各所述故障测试用例对应的比较结果；基于各所述故障测试用例对应的比较结果进行统计，得到所述待测通信芯片的测试结果。6.根据权利要求1

【专利技术属性】
技术研发人员：曲晨冰，王乃晔，侯波，王力纬，孙宸，恩云飞，黄云，路国光，
申请(专利权)人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所工业和信息化部电子第五研究所中国赛宝实验室，
类型：发明
国别省市：