一种芯片检测系统及其工作方法技术方案

本发明专利技术涉及芯片检测领域，具体涉及一种芯片检测系统及其工作方法。本发明专利技术提供了一种芯片检测系统，包括：相对设置的检测盒和盒盖，盒盖上设置有压紧机构，压紧机构适于沿长度方向伸缩以压紧芯片；盒盖周向设置有若干防撞机构；盒盖打开时，压紧机构展开，压紧机构顶推各防撞机构沿与压紧机构向外侧展开，以使防撞机构阻挡盒盖闭合；盒盖关闭时，压紧机构展开，压紧机构顶推各防撞机构，防撞机构外侧与检测盒内壁抵接，以使防撞机构收缩，直至压紧机构越过防撞机构。通过设置防撞机构，没有放入芯片时防撞机构会阻挡在检测盒和盒盖之间。通过将限位块挤入调节块内，并上抬，可以通过调节斜面将取料片从取料槽内翘起，方便人员撕下取料片。片。片。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片检测系统及其工作方法


[0001]本专利技术涉及芯片检测领域，具体涉及一种芯片检测系统及其工作方法。

技术介绍

[0002]芯片检测系统是用于对芯片是否存在制造质量而设计的一套专门的检测系统，其通常会设计一个检测电路，并在检测电路上安装一个检测机构，在检测时将芯片安装到检测机构上，并对电路通电，以检测芯片是否正常运作。
[0003]但是现有的芯片检测系统对于操作程序和步骤是有严格要求的，比如检测机构内部设置有多个检测单元，通过芯片与检测单元连接来实现对芯片的连接，来实现对芯片检测，在安装芯片时，需要一个限位机构将芯片与检测单元压紧，来确保连接可靠，但是限位机构在检测机构内部没有芯片时，若出现操作者误操作，限位机构很可能会压到检测单元上，从而将检测单元压坏。因此，设计一种芯片检测系统及其工作方法是必要的。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是提供一种芯片检测系统及其工作方法，以解决上述问题。
[0005]为了实现上述目的，本专利技术提供了一种芯片检测系统，包括：相对设置的检测盒和盒盖，所述检测盒内部具有检测平面，所述检测平面上具有若干检测单元，所述盒盖上设置有压紧机构，所述压紧机构适于沿长度方向伸缩以压紧芯片；所述盒盖周向设置有若干防撞机构，所述防撞机构位于所述盒盖底部，且所述防撞机构一侧与压紧机构抵接；所述防撞机构适于沿宽度方向伸缩，且所述防撞机构的伸缩方向与所述压紧机构的伸缩方向垂直；所述盒盖打开时，所述压紧机构展开，所述压紧机构顶推各所述防撞机构向外侧展开，以使所述防撞机构阻挡所述盒盖闭合；所述盒盖关闭时，所述压紧机构展开，所述压紧机构顶推各所述防撞机构，所述防撞机构外侧与所述检测盒内壁抵接，以使所述防撞机构收缩，直至所述压紧机构越过所述防撞机构。
[0006]进一步地，所述防撞机构包括定位架和设置在所述定位架内侧的伸缩组件，所述定位架与所述盒盖内壁连接，所述伸缩组件与定位架弹性连接，且所述伸缩组件适于沿长度方向伸缩；所述伸缩组件一端延伸至所述压紧机构下方；所述盒盖打开时，所述压紧机构展开，所述压紧机构顶推所述伸缩组件向外侧滑动，以使所述伸缩组件另一端凸出所述定位架外侧壁；所述盒盖关闭时，所述压紧机构展开，所述压紧机构顶推所述伸缩组件向外侧滑动，以使所述伸缩组件另一端与所述检测盒的内壁抵接，所述伸缩组件收缩，直至完全缩入定位架内，以使压紧机构越过所述伸缩组件。
[0007]进一步地，所述定位架内侧开设有伸缩槽，伸缩组件设置在所述伸缩槽内；所述伸缩槽两侧镜像开设有引导槽，所述伸缩组件两侧设置有引导块，所述引导块与所述引导槽相对应，所述引导块滑动设置在所述引导槽内；所述引导槽内还设置有一引导弹簧，所述引导弹簧一端与所述引导槽连接，另一端与所述引导块连接。
[0008]进一步地，所述伸缩组件包括限位块和调节块，所述调节块外侧壁上开设有活动槽，所述限位块内套在所述活动槽内，且所述限位块与所述调节块弹性连接；所述调节块设置所述定位架内侧。
[0009]进一步地，所述活动槽内设置有活动弹簧，所述活动弹簧一端与所述活动槽内底壁连接，另一端与所述限位块连接。
[0010]进一步地，所述调节块内侧壁上开设有调节斜面，所述调节斜面朝向所述压紧机构设置。
[0011]进一步地，所述定位架的内侧壁上还镜像开设有拓宽槽，所述拓宽槽位于所述引导槽内侧，所述拓宽槽与所述引导槽连通，且所述引导槽和所述拓宽槽之间设置有引导斜面；所述拓宽槽的宽度大于所述引导块的宽度。
[0012]进一步地，所述限位块顶部设置有圆弧棱。
[0013]进一步地，所述压紧机构包括旋钮、压紧台和升降杆，所述旋钮与盒盖转动连接，所述升降杆与所述旋钮同轴设置，所述压紧台与所述升降杆传动连接。
[0014]进一步地，所述压紧台底部开设有取料槽，所述取料槽内适于安装取料片；所述取料槽周向开设有若干配合槽，一个所述定位架对应一个所述配合槽。
[0015]进一步地，所述盒盖与所述检测盒一侧铰接，所述检测盒另一侧上开设有卡槽，所述盒盖对应的一侧上设置有限位卡板。
[0016]进一步地，所述限位卡板的中部与所述盒盖铰接，所述限位卡板的底部设置有卡接钩。
[0017]此外，本专利技术还提供了一种工作方法，包括如上文所示的芯片检测系统，盒盖打开时，旋钮驱动压紧台展开，压紧台展开至挤压调节斜面，调节块通过活动弹簧顶推限位块伸出定位架外侧，以使限位块卡在盒盖与检测盒之间；盒盖关闭时，旋钮驱动压紧台展开，压紧台展开至挤压调节斜面，调节块通过活动弹簧顶推限位块与检测盒的内壁抵接，活动弹簧被压缩，调节块缩入定位架内部，以使压紧台穿过调节块并压紧芯片；取料时，盒盖再次打开，取料片黏附芯片，限位块向内滑动，通过活动弹簧顶推调节块向内滑动，引导块沿引导槽滑动至引导斜面上，限位块外侧端向下摆动，以使限位块的内侧端带动调节块向上翘起，以使引导块沿引导斜面滑动至拓宽槽顶部，以使调节块的调节斜面铲入取料槽与取料片之间，从而将取料片铲起。
[0018]相对于现有技术，本专利技术具有以下有益效果：1、通过设置防撞机构，使得在没有放入芯片时，就操作压紧机构时，防撞机构会阻挡在检测盒和盒盖之间，防止压紧机构将检测单元损坏。2、在对芯片取片时，通过将限位块挤入调节块内，并上抬，可以通过调节斜面将取料片从取料槽内翘起，方便人员撕下取料片。
附图说明
[0019]下面结合附图和实施例对本专利技术进一步说明。
[0020]图1示出了本专利技术的芯片检测系统的立体图；图2示出了本专利技术的检测盒的立体图；图3示出了本专利技术的盒盖的立体图；图4示出了本专利技术的压紧机构的立体图；图5示出了本专利技术的防撞机构的立体图；图6示出了本专利技术的定位架的剖视图；图7示出了本专利技术的伸缩组件的第一状态示意图；图8示出了本专利技术的伸缩组件的第二状态示意图；图9示出了本专利技术的伸缩组件的第三状态示意图。
[0021]图中：1、检测盒；11、卡槽；2、盒盖；21、限位卡板；22、卡接钩；3、压紧机构；31、旋钮；32、压紧台；321、取料槽；33、升降杆；34、配合槽；4、防撞机构；41、定位架；411、伸缩槽；412、引导槽；413、拓宽槽；414、引导斜面；42、伸缩组件；421、限位块；422、调节块；423、活动槽；424、活动弹簧；425、调节斜面；43、引导块；44、引导弹簧；45、圆弧棱。
具体实施方式
[0022]现在结合附图对本专利技术作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本专利技术的基本结构，因此其仅显示与本专利技术有关的构成。
[0023]实施例一，如图1至9所示，本实施例提供了一种芯片检测系统，包括：相对设置的检测盒1和盒盖2，检测盒1适于检测芯片是否合格，盒盖2适于将芯片压紧在检测盒1上。具体来说，检测盒1本身能够安装到一个电路板上，电路板上具有检测电路，同时检测盒1内部开设有一个槽口，槽口内具有检测平面，检测平面与检测电路电连接，检测平面上具有若干检测单元。槽口的形状与芯片相对应，以使芯本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片检测系统，其特征在于，包括：相对设置的检测盒（1）和盒盖（2），所述检测盒（1）内部具有检测平面，所述检测平面上具有若干检测单元，所述盒盖（2）上设置有压紧机构（3），所述压紧机构（3）适于沿长度方向伸缩以压紧芯片；所述盒盖（2）周向设置有若干防撞机构（4），所述防撞机构（4）位于所述盒盖（2）底部，且所述防撞机构（4）一侧与压紧机构（3）抵接；所述防撞机构（4）适于沿宽度方向伸缩，且所述防撞机构（4）的伸缩方向与所述压紧机构（3）的伸缩方向垂直；所述盒盖（2）打开时，所述压紧机构（3）展开，所述压紧机构（3）顶推各所述防撞机构（4）向外侧展开，以使所述防撞机构（4）阻挡所述盒盖（2）闭合；所述盒盖（2）关闭时，所述压紧机构（3）展开，所述压紧机构（3）顶推各所述防撞机构（4），所述防撞机构（4）外侧与所述检测盒（1）内壁抵接，以使所述防撞机构（4）收缩，直至所述压紧机构（3）越过所述防撞机构（4）；所述防撞机构（4）包括定位架（41）和设置在所述定位架（41）内侧的伸缩组件（42），所述定位架（41）与所述盒盖（2）内壁连接，所述伸缩组件（42）与定位架（41）弹性连接，且所述伸缩组件（42）适于沿长度方向伸缩；所述伸缩组件（42）一端延伸至所压紧机构（3）下方；所述盒盖（2）打开时，所述压紧机构（3）展开，所述压紧机构（3）顶推所述伸缩组件（42）向外侧滑动，以使所述伸缩组件（42）另一端凸出所述定位架（41）外侧壁；所述盒盖（2）关闭时，所述压紧机构（3）展开，所述压紧机构（3）顶推所述伸缩组件（42）向外侧滑动，以使所述伸缩组件（42）另一端与所述检测盒（1）的内壁抵接，所述伸缩组件（42）收缩，直至完全缩入定位架（41）内，以使压紧机构（3）越过所述伸缩组件（42）。2.如权利要求1所述的芯片检测系统，其特征在于：所述定位架（41）内侧开设有伸缩槽（411），伸缩组件（42）设置在所述伸缩槽（411）内；所述伸缩槽（411）两侧镜像开设有引导槽（412），所述伸缩组件（42）两侧设置有引导块（43），所述引导块（43）与所述引导槽（412）相对应，所述引导块（43）滑动设置在所述引导槽（412）内；所述引导槽（412）内还设置有一引导弹簧（44），所述引导弹簧（44）一端与所述引导槽（412）连接，另一端与所述引导块（43）连接。3.如权利要求2所述的芯片检测系统，其特征在于：所述伸缩组件（42）包括限位块（421）和调节块（422），所述调节块（422）外侧壁上开设有活动槽（423），所述限位块（421）内套在所述活动槽（423）内，且所述限位块（421）与所述调节块（422）弹性连接；所述调节块（422）设置所述定位架（41）内侧。4.如权利要求3所述的芯片检测系统，其特征在于：所述活动槽（423）内设置有活动弹簧（424），所述活动弹簧（424）一端与所述活动槽（423）内底壁连接，另一端与所述限位...

【专利技术属性】
技术研发人员：金伟强，熊学飞，高波，
申请(专利权)人：苏州锐杰微科技集团有限公司，
类型：发明
国别省市：