电磁波检测装置以及信息获取系统制造方法及图纸

电磁波检测装置(10)具有第一行进部(16)、第二行进部(17)、第一检测部(19)、以及第二检测部(20)。第一行进部(16)使入射至基准面(ss)的电磁波按每个像素(px)向特定的方向行进。第二行进部(17)具有第一面(s1)、第二面(s2)、第三面(s3)、第四面(s4)、第五面(s5)、以及第六面(s6)。第一面(s1)使从第一方向入射的电磁波向第二方向行进且使向第三方向行进的电磁波向第四方向行进。第二面(s2)分离向第二方向(d2)行进的电磁波而使其向第三方向(d3)以及第五方向(d5)行进。第一检测部(19)检测从第三面(s3)射出的电磁波。第二检测部(20)检测从第六面(s6)射出的电磁波。面(s6)射出的电磁波。面(s6)射出的电磁波。

【技术实现步骤摘要】
电磁波检测装置以及信息获取系统
[0001]相关申请的相互参照
[0002]本申请是申请号为201980029650X、申请日为2019年5月8日、专利技术名称为“电磁波检测装置以及信息获取系统”的专利申请的分案申请。
[0003]本申请主张2018年5月15日在日本申请专利的日本特愿2018
‑
94103号的优先权，并将该在先申请的全部内容引入本申请用于参照。


[0004]本专利技术涉及一种电磁波检测装置以及信息获取系统。

技术介绍

[0005]已知有一种装置，该装置具有如DMD(Digital Micro mirror Device：数字微镜器件)那样的对入射至每个像素的电磁波的行进方向进行切换的元件。例如，已知一种装置，该装置使物体的像暂时一次成像在DMD表面，使在该DMD表面上一次成像的像进一步通过透镜而在CCD表面上二次成像(参照专利文献1)。
[0006]现有技术文献
[0007]专利文献
[0008]专利文献1：日本专利3507865号公报

技术实现思路

[0009]第一观点的电磁波检测装置具有：
[0010]第一行进部，沿着基准面配置有多个像素，使入射至所述基准面的电磁波按每个所述像素向特定的方向行进；
[0011]第二行进部，包括：第一面，使从第一方向入射的电磁波向第二方向行进且使向第三方向行进的电磁波向第四方向行进；第二面，分离向所述第二方向行进的电磁波而使其向所述第三方向以及第五方向行进；第三面，将向所述第四方向行进的电磁波射出；第四面，将向所述第五方向行进的电磁波向所述基准面射出且使从所述基准面再次入射的电磁波向第六方向行进；第五面，使向所述第六方向行进的电磁波向第七方向行进；以及第六面，将向所述第七方向行进的电磁波射出；
[0012]第一检测部，检测从所述第三面射出的电磁波；以及
[0013]第二检测部，检测从所述第六面射出的电磁波。
[0014]另外，第二观点的信息获取系统包括：
[0015]电磁波检测装置，具有：第一行进部，沿着基准面配置有多个像素，使入射至所述基准面的电磁波按每个所述像素向特定的方向行进；第二行进部，包括：第一面，使从第一方向入射的电磁波向第二方向行进且使向第三方向行进的电磁波向第四方向行进；第二面，分离向所述第二方向行进的电磁波而使其向所述第三方向以及第五方向行进；第三面，将向所述第四方向行进的电磁波射出；第四面，将向所述第五方向行进的电磁波向所述基
准面射出且使从所述基准面再次入射的电磁波向第六方向行进；第五面，使向所述第六方向行进的电磁波向第七方向行进；以及第六面，将向所述第七方向行进的电磁波射出；第一检测部，检测从所述第三面射出的电磁波；以及第二检测部，检测从所述第六面射出的电磁波；以及
[0016]控制部，基于由所述第一检测部以及所述第二检测部检测的电磁波的检测结果来获取与周围相关的信息。
附图说明
[0017]图1是表示包含第一实施方式的电磁波检测装置的信息获取系统的概略结构的结构图。
[0018]图2是表示图1的电磁波检测装置的概略结构的结构图。
[0019]图3是表示用于说明图1的发射部、第二检测部、以及控制部构成的测距传感器进行的测距的原理的电磁波的发射时期和检测时期的时序图。
[0020]图4是表示第二实施方式的电磁波检测装置的概略结构的结构图。
[0021]图5是表示第二实施方式的电磁波检测装置的变形例的概略结构的结构图。
[0022]图6是表示第三实施方式的电磁波检测装置的概略结构的结构图。
[0023]图7是表示第四实施方式的电磁波检测装置的概略结构的结构图。
[0024]图8是表示第四实施方式的电磁波检测装置的变形例的概略结构的结构图。
[0025]图9是表示第五实施方式的电磁波检测装置的概略结构的结构图。
[0026]图10是表示第六实施方式的电磁波检测装置的概略结构的结构图。
[0027]图11是表示第六实施方式的电磁波检测装置的变形例的概略结构的结构图。
[0028]图12是表示第七实施方式的电磁波检测装置的概略结构的结构图。
[0029]图13是表示第八实施方式的电磁波检测装置的概略结构的结构图。
[0030]图14是表示第八实施方式的电磁波检测装置的变形例的概略结构的结构图。
[0031]图15是表示第一实施方式的电磁波检测装置的变形例的概略结构的结构图。
具体实施方式
[0032]以下，参照附图对应用了本专利技术的电磁波检测装置的实施方式进行说明。电磁波检测装置配置有：一次成像光学系统，使入射的电磁波成像；以及分离面，分离透过一次成像光学系统的电磁波，电磁波检测装置能够分别检测出分离出的电磁波。在这样的电磁波检测装置中，由于需要在一次成像光学系统的像侧配置分离面，因此需要加长一次成像光学系统的后焦距。但是，若加长后焦距，则由于一次成像光学系统的设计上的限制，成像性能、亮度、以及视角等的成像特性将变差，因此期望缩短后焦距长度。为了缩短后焦距长度，考虑使一次成像光学系统的主轴与分离面所成的角度接近90
°
。但是，若使该角度接近90
°
，则可能会产生检测在分离面上反射的电磁波的检测部与一次成像光学系统的干扰。实际的制造有可能变得困难。因此，应用了本专利技术的电磁波检测装置通过设置使透过了一次成像光学系统的电磁波向分离面行进并且使通过分离面的分离而行进的电磁波向检测部行进的面，从而能够缩短后焦距长度。通过缩短后焦距长度，能够确保一次成像光学系统的成像性能、亮度、以及视角等良好的成像特性。
[0033]如图1所示，包括本公开的第一实施方式的电磁波检测装置10的信息获取系统11构成为包括：电磁波检测装置10、发射部12、扫描部13、以及控制部14。
[0034]在之后的图中，连结各功能块的虚线表示控制信号或者通信的信息的流动。虚线所示的通信可以是有线通信，也可以是无线通信。另外，从各功能块伸出的实线表示波束状的电磁波。
[0035]如图2所示，电磁波检测装置10具有第一成像部15、第一行进部16、第二行进部17、第二成像部18、第一检测部19、以及第二检测部20。
[0036]第一成像部15例如包括透镜以及反射镜中的至少一种。第一成像部15使在电磁波检测装置10中从第一方向d1入射的成为被拍摄体的对象ob的电磁波的像向第二行进部17的第一面s1行进，并使其在远离第一面s1的位置处成像。例如，第一方向d1与第一成像部15的主轴平行，包含从物体面朝向第一成像部15的方向且从第一成像部15朝向像面的方向。
[0037]第一行进部16设置于入射至第二行进部17的第一面s1并从第四面s4射出的电磁波的路径上。而且，第一行进部16可以设置在从第一成像部15离开规定的距离的对象ob的一次成像位置或该一次成像位置附近。
[0038]在第一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电磁波检测装置，具有：第一行进部，沿着基准面配置有多个像素，使入射至所述基准面的电磁波按每个所述像素向特定的方向行进；第二行进部，包括：第一面，使从第一方向入射的电磁波向第二方向行进且使向第三方向行进的电磁波向第四方向行进；第二面，分离向所述第二方向行进的电磁波而使其向所述第三方向以及第五方向行进；第三面，将向所述第四方向行进的电磁波射出；第四面，将向所述第五方向行进的电磁波向所述基准面射出且使从所述基准面再次入射的电磁波向第六方向行进；第五面，使向所述第六方向行进的电磁波向第七方向行进；以及第六面，将向所述第七方向行进的电磁波射出；第一检测部，检测从所述第三面射出的电磁波；以及第二检测部，检测从所述第六面射出的电磁波，所述第二行进部包括第一棱镜、第二棱镜、以及第三棱镜，所述第三棱镜配置在所述第一棱镜与所述第二棱镜之间，所述第一面包含所述第一棱镜中的表面，所述第三面包含所述第一棱镜中的与所述表面不同的表面，所述第四面包含所述第二棱镜中的表面，所述第五面包...

【专利技术属性】
技术研发人员：竹内绘梨，
申请(专利权)人：京瓷株式会社，
类型：发明
国别省市：