电磁波检测装置以及信息获取系统制造方法及图纸

电磁波检测装置(10)具有：分离部(16)、第一检测部(17)、切换部(18)、以及第二检测部(20)。分离部(16)将入射的电磁波以沿第一方向(d1)以及第二方向(d2)的方式进行分离。第一检测部(17)检测沿第一方向(d1)行进的电磁波。切换部(18)具有多个切换元件(se)。切换元件(se)能够将沿第二方向(d2)行进的电磁波的行进方向切换为第三方向(d3)以及第四方向(d4)。第二检测部(20)检测沿第三方向(d3)行进的电磁波。检测部(20)检测沿第三方向(d3)行进的电磁波。检测部(20)检测沿第三方向(d3)行进的电磁波。

【技术实现步骤摘要】
电磁波检测装置以及信息获取系统
[0001]本申请是申请号为CN2018800340419、申请日为2018年5月16日、专利技术名称为“电磁波检测装置以及信息获取系统”的专利申请的分案申请。
[0002]关联申请的相互参照
[0003]本申请要求2017年5月25在日本申请的日本特愿2017
‑
103942的优先权，并将在先申请的全部内容引入于此以用于参照。


[0004]本专利技术涉及一种电磁波检测装置以及信息获取系统。

技术介绍

[0005]近年来，开发了一种根据通过检测电磁波的多个检测器检测出的检测结果来获得与周围相关的信息的装置。例如，已知一种使用激光雷达来测量用红外相机拍摄的图像中的物体位置的装置。(参考专利文献1)。
[0006]现有技术文献
[0007]专利文献
[0008]专利文献1：日本特开2011
‑
220732号公报。

技术实现思路

[0009]第一观点的电磁波检测装置包括：
[0010]分离部，将入射的电磁波以沿第一方向以及第二方向行进的方式进行分离；
[0011]第一检测部，检测沿所述第一方向行进的所述电磁波；
[0012]切换部，具有多个切换元件，所述多个切换元件能够将沿所述第二方向行进的电磁波的行进方向切换到第三方向以及第四方向；以及
[0013]第二检测部，检测沿所述第三方向行进的所述电磁波。
[0014]另外，第二观点的信息获取系统包括：电磁波检测装置以及控制部，
[0015]所述电磁波检测装置包括：
[0016]分离部，将入射的电磁波以沿第一方向以及第二方向行进的方式进行分离；第一检测部，检测沿所述第一方向行进的所述电磁波；切换部，具有多个切换元件，所述多个切换元件能够将沿所述第二方向行进的电磁波的行进方向切换到第三方向以及第四方向；以及第二检测部，检测沿所述第三方向行进的所述电磁波，
[0017]所述控制部基于所述第一检测部以及所述第二检测部对电磁波的检测结果，来获取与所述电磁波检测装置的周围有关的信息。
附图说明
[0018]图1是示出包含第一实施方式的电磁波检测装置的信息获取系统的概略结构的结构图。
[0019]图2是用于说明图1的电磁波检测装置的切换部中的切换元件在第一状态和第二状态下的电磁波的行进方向的信息获取系统的状态图。
[0020]图3是示出用于说明图1的照射部、第二检测部以及控制部所构成的测距传感器的测距的原理的电磁波的发射时刻和检测时刻的时序图。
[0021]图4是示出第二实施方式的电磁波检测装置的概略结构的结构图。
[0022]图5是用于说明在第二实施方式中通过切换元件来切换电磁波的行进方向的状态的电磁波检测装置的状态图。
[0023]图6是示出第一实施方式的电磁波检测装置的变形例的概略结构的结构图。
具体实施方式
[0024]以下，参照附图对应用了本专利技术的电磁波检测装置的实施方式进行说明。在由检测电磁波的多个检测器检测电磁波的结构中，各检测器的检测轴不同。因此，即使各检测器将同一区域作为对象进行检测，检测结果中的坐标系在各检测器中也是不同的。因此，减小各检测器的检测结果中的坐标系的差异是有益的。但是，通过校正来减小该差异是不可能的，或者是困难的。因此，应用了本专利技术的电磁波检测装置通过构成为能够减小各检测器中的检测轴的差异，从而能够减小各检测器的检测结果中的坐标系的差异。
[0025]如图1所示，包含本公开的第一实施方式的电磁波检测装置10的信息获取系统11包括电磁波检测装置10、照射部12、反射部13、以及控制部14。
[0026]在以后的图中，连结各功能块的虚线表示控制信号或者通信信息的流动。虚线所示的通信可以是有线通信，也可以是无线通信。另外，从各功能块突出的实线表示波束状的电磁波。
[0027]电磁波检测装置10具有：前级光学系统15、分离部16、第一检测部17、切换部18、第一后级光学系统19、以及第二检测部20。
[0028]前级光学系统15包括例如透镜以及反射镜(mirror)中的至少一个，使作为被拍摄体的对象ob的像成像。
[0029]分离部16设置在前级光学系统15和一次成像位置之间，该一次成像位置是前级光学系统15对从前级光学系统15远离规定的位置的对象ob的像的成像位置。分离部16将入射的电磁波以沿第一方向d1以及第二方向d2行进的方式进行分离。
[0030]在第一实施方式中，分离部16使入射的电磁波的一部分沿第一方向d1反射，并使电磁波的另外一部分沿第二方向d2透过。分离部16可以使入射的电磁波的一部分沿第一方向d1透过，并使电磁波的另外一部分沿第二方向d2透过。另外，分离部16可以使入射的电磁波的一部分沿第一方向d1折射，并使电磁波的另外一部分沿第二方向d2折射。分离部16例如是半反射镜、分光镜、二向色镜、冷镜、热镜、超表面(Metasurface)、偏向元件、以及棱镜等。
[0031]第一检测部17设置在从分离部16沿第一方向d1行进的电磁波的路径上。进一步地，第一检测部17设置在成像位置或者该成像位置附近，该成像位置是通过前级光学系统15对从前级光学系统15远离规定的位置的对象ob的像的、从分离部16开始的第一方向d1上的成像位置。第一检测部17检测从分离部16沿第一方向d1行进的电磁波。
[0032]另外，第一检测部17可以相对于分离部16配置为，从分离部16沿第一方向d1行进
的电磁波的第一行进轴与第一检测部17的第一检测轴平行。第一行进轴是从分离部16沿第一方向d1行进的、呈发射状扩展并传播的电磁波的中心轴。在第一实施方式中，第一行进轴是将前级光学系统15的光轴延伸至分离部16，并且在分离部16中以与第一方向d1平行的方式被折弯的轴。第一检测轴是通过第一检测部17的检测面的中心，并与该检测面垂直的轴。
[0033]进一步地，第一检测部17可以配置为使第一行进轴以及第一检测轴的间隔为第一间隔阈值以下。另外，第一检测部17可以配置为使第一行进轴以及第一检测轴一致。在第一实施方式中，第一检测部17配置为使第一行进轴以及第一检测轴一致。
[0034]另外，第一检测部17可以相对于分离部16配置为，第一行进轴与第一检测部17的检测面所成的第一角度为第一角度阈值以下或者规定的角度。在第一实施方式中，如上所述，第一检测部17配置为使第一角度为90
°
。
[0035]在第一实施方式中，第一检测部17是无源传感器。在第一实施方式中，进一步具体来说，第一检测部17包括元件阵列。例如，第一检测部17包括图像传感器或者图像阵列等拍摄元件，拍摄在检测面成像的电磁波的图像，并生成与拍摄的对象ob相当的图像信息。
[0036]需要说明的是，在第一实施方式中，进一步具体来说，第一检测部17拍摄可见光的图像。在第一实施方式中，第一检测部17将生成本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电磁波检测装置，包括：照射部，照射波束状的电磁波；反射部，变更从所述照射部照射的电磁波的照射方向，从而变更对象的照射区域，分离部，将入射的电磁波以沿第一方向以及第二方向行进的方式进行分离；第一检测部，检测沿所述第一方向行进的电磁波；切换部，具有多个切换元件，所述多个切换元件能够切换至使沿所述第二方向行进的电磁波沿第三方向行进的第一状态以及沿第四方向行进的第二状态中的任意一个状态；以及第二检测部，检测沿所述第三方向行进的电磁波，所述切换部根据通过所述反射部照射的电磁波的基于所述反射部的照射区域的变更，将所述切换元件切换至所述第一状态，将其他所述切换元件切换至所述第二状态，所述切换部将所述电磁波在所述照射区域反射的反射波的、成像区域中的至少一部分切换元件切换至所述第一状态，将包含位于所述成像区域以外的区域的切换元件的其他切换元件切换至所述第二状态。2.如权利要求1所述的电磁波检测装置，其特征在于，所述第...

【专利技术属性】
技术研发人员：内田绘梨，冈田浩希，
申请(专利权)人：京瓷株式会社，
类型：发明
国别省市：