测距修正装置、测距修正方法、测距修正程序以及测距装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及测距修正装置、测距修正方法、测距修正程序以及测距装置。图像处理装置(100)具有处理器(102)，修正通过由像素检测针对光的照射的来自物标的反射点的反射光来测定到反射点的距离的LiDAR装置(1)的测距结果。图像处理装置(100)具备：像素信息获取部(110)，对多个反射点获取关联信息，上述关联信息是与由对应的像素检测到的距离相关的信息；法线计算部(130)，对构成反射点的物标的部分面，计算斜率特征量，上述斜率特征量与相对于基准面的斜率的大小相关；以及距离修正部(150)，基于斜率特征量来修正到各反射点的距离。离。离。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】测距修正装置、测距修正方法、测距修正程序以及测距装置
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本申请以2021年2月17日在日本申请的日本专利申请第2021－23679号、以及2022年1月13日在日本申请的日本专利申请第2022－3820号为基础，通过参照将基础申请的内容整体上引用至本申请。


[0003]本说明书中的公开涉及通过检测针对光的照射的来自反射点的反射光来测定到反射点的距离的技术。

技术介绍

[0004]在专利文献1中，公开了对测距装置的测量结果进行修正的装置。该装置测量通过受光部接收到的光子数，并基于该光子数来修正由接收的光强度引起的游走误差。
[0005]专利文献1：国际公开第2017/42993号公报
[0006]然而，在检测反射光的测距装置中，可能产生与反射面的斜率相应的距离的检测误差。在专利文献1的技术中，无法修正与反射面的斜率相应的误差。

技术实现思路

[0007]公开的目的在于提供能够提高测距精度的测距修正装置、测距修正方法、测距修正程序以及测距装置。
[00本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种测距修正装置，是具有处理器(102)，修正通过由像素检测针对光的照射的来自物标的反射点的反射光来测定到上述反射点的距离的测距装置(1)的测距结果的测距修正装置，具备：获取部(110)，对多个上述反射点获取关联信息，上述关联信息是与由对应的像素检测到的上述距离相关的信息；特征量计算部(130、135)，对构成上述反射点的上述物标的部分面，计算斜率特征量，上述斜率特征量与相对于基准面(R)的斜率的大小相关；以及修正部(150)，基于上述斜率特征量来修正到各上述反射点的上述距离。2.根据权利要求1所述的测距修正装置，其中，上述特征量计算部计算上述反射点的法线方向作为上述斜率特征量。3.根据权利要求2所述的测距修正装置，其中，上述特征量计算部对各上述反射点，基于计算上述法线方向的关注反射点和上述关注反射点以外的多个参照反射点的三维位置信息，来计算上述法线方向。4.根据权利要求3所述的测距修正装置，其中，上述特征量计算部提取与上述关注反射点之间的点间距离在允许范围内的多个上述参照反射点，基于上述关注反射点以及多个上述参照反射点来计算上述关注反射点的上述法线方向。5.根据权利要求2～4中任一项所述的测距修正装置，其中，上述特征量计算部对各上述反射点，基于通过来自计算上述法线方向的关注反射点的上述反射光的检测而获取的检测波形信息和预先规定的上述距离与上述反射光的波形的关系信息，来计算上述关注反射点的上述法线方向。6.根据权利要求3～5中任一项所述的测距修正装置，其中，上述修正部基于上述关注反射点上的上述法线方向相对于对应像素的视线方向(DL)的斜率的大小，来决定上述距离的修正量。7.根据权利要求2～6中任一项所述的测距修正装置，其中，上述测距装置具备致动器(4)，上述致动器扫描所照射的上述光，上述特征量计算部基于各检测波形的形状的变化程度来计算上述反射点的上述法线方向，其中，上述各检测波形是通过以不同的扫描速度进行扫描后的来自同一上述反射点的上述反射光的检测而获取的每个上述扫描速度的检测波形。8.根据权利要求2～6中任一项所述的测距修正装置，其中，上述测距装置具备致动器(4)，上述致动器扫描所照射的上述光，上述特征量计算部基于各检测波形的形状的变化程度来计算上述反射点的上述法线方向，其中，上述各检测波形是按将与上述反射点对应的上述像素分割成与上述扫描速度对应的每个小像素来检测在中途变更了扫描速度的来自上述反射点的上述反射光而得到的检测波形。9.根据权利要求2～8中任一项所述的测距修正装置，其中，上述法线方向的计算可靠度越大，上述修正部越增大上述距离的修正量。10.根据权利要求2～9中任一项所述的测距修正装置，其中，到上述反射点的修正前的上述距离越大，上述修正部越增大上述距离的修正量。
11.根据权利要求1所述的测距修正装置，其中，上述测距装置具备致动器(4)，上述致动器扫描所照射的上述光，上述特征量计算部对各检测波形计算形状的变化程度来作为上述斜率特征量，其中，上述各检测波形是通过以不同的扫描速度进行扫描后的来自同一上述反射点的上述反射光的检测而获取的每个上述扫描速度的检测波形。12.根据权利要求1所述的测距修正装置，其中，上述测距装置具备致动器(4)，上述致动器扫描所照射的上述光，上述特征量计算部计算各检测波形的形状的变化程度来作为上述斜率特征量，其中，上述各检测波形是按将与上述反射点对应的上述像素分割成与上述扫描速度对应的每个小像素来检测在中途变更了扫描速度的来自上述反射点的上述反射光而得到的检测波形。13.一种测距修正方法，是为了修正通过由像素检测针对光的照射的来自物标的反射点的反射光来测定到上述反射点的距离的测距装置(1)的测距结果，而由处理器(102)执行的测距修正方法，包含：获取工序(S100、S110；S210、S220)，对多个上述反射点获取关联信息，上述关联信息是与由对应的像素检测到的上述距离相关的信息；特征量计算工序(S130、S131、S132；S133、S134；S135、S136；S230)，对构成上述反射点的上述物标的部分面，计算斜率特征量，上述斜率特征量与相对于基准面(R)的斜率的大小相关；以及修正工序(S150、S160、S170；S250、S260、S270)，基于上述斜率特征量来修正到各上述反射点的上述距离。14.根据权利要求13所述的测距修正方法，其中，在上述特征量计算工序中，...

【专利技术属性】
技术研发人员：吉田智成，
申请(专利权)人：株式会社电装，
类型：发明
国别省市：