一种IGBT模组的双脉冲测试电路制造技术

本实用新型专利技术提供一种IGBT模组的双脉冲测试电路，涉及电力电子学技术领域，包括：IGBT模组包括并联的第一模组和第二模组，第一模组和第二模组分别包括并联的多个测试单元；则双脉冲测试电路包括：第一开关组，包括多个第一开关模块，分别连接第一模组的各测试单元；第二开关组，包括多个第二开关模块，分别连接第二模组的各测试单元；直流电源的正极分别连接第一开关和第二开关，直流电源的负极连接第三开关；第四开关连接第三开关第二开关和第五开关；负载电感连接第六开关和第七开关，第六开关连接第一开关，第七开关连接第三开关，负载电感分别连接各第一开关模块和各第二开关模块。有益效果是提高测试效率的同时，提供测试的一致性。的一致性。的一致性。

【技术实现步骤摘要】
一种IGBT模组的双脉冲测试电路


[0001]本技术涉及功率半导体器件测试
，尤其涉及一种IGBT模组的双脉冲测试电路。

技术介绍

[0002]功率半导体器件在实际系统应用中，其开关过程中出现的过电流和过电压对功率半导体器件的开关特性影响比较大，故双脉冲测试是对处于桥臂中的功率半导体器件开关过程中过电流和过电压常见的测试方法。
[0003]对于多单元的IGBT模组而言，其换流回路对应有许多个，按照每个换流回路涉及的单元需要逐个搭建测试回路，过程繁琐且效率较低，不利于大规模化测试。

技术实现思路

[0004]针对现有技术中存在的问题，本技术提供一种IGBT模组的双脉冲测试电路，所述IGBT模组包括并联的第一模组和第二模组，所述第一模组和所述第二模组分别包括并联的多个测试单元；则所述双脉冲测试电路包括：
[0005]第一开关组，包括多个第一开关模块，分别对应连接所述第一模组的各所述测试单元的输出端；
[0006]第二开关组，包括多个第二开关模块，分别对应连接所述第二模组的各所述测试单元的输出端；
[0007]直流电源，所述直流电源的正极分别连接第一开关的一端和第二开关的一端，所述直流电源的负极连接第三开关的一端；
[0008]第四开关，所述第四开关的一端连接所述第三开关的另一端，所述第四开关的另一端分别连接第二开关的另一端和第五开关的一端；
[0009]负载电感，所述负载电感的一端连接第六开关的一端和第七开关的一端，所述第六开关的另一端连接所述第一开关的另一端，所述第七开关的另一端连接所述第三开关的另一端，所述负载电感的另一端分别连接各所述第一开关模块的一端和各所述第二开关模块的一端；
[0010]所述第五开关的另一端连接所述IGBT模组的第一测试端DCN；
[0011]所述第六开关的另一端连接所述IGBT模组的第二测试端DC+；
[0012]所述第七开关的另一端连接所述IGBT模组的第三测试端DC
‑
。
[0013]优选的，还包括第一放电单元，包括：
[0014]第八开关，所述第八开关一端连接所述第一开关的另一端，所述第八开关的另一端连接第一电阻的一端，所述第一电阻的另一端连接所述第二开关的另一端；
[0015]正母线电容，所述正母线电容的正极连接所述第八开关的一端，所述正母线电容的负极连接所述第一电阻的另一端。
[0016]优选的，还包括第二放电单元，包括：
[0017]第九开关，所述第九开关一端连接所述第三开关的另一端，所述第九开关的另一端连接第二电阻的一端，所述第二电阻的另一端连接所述第二开关的另一端；
[0018]负母线电容，所述负母线电容的正极连接所述第九开关的一端，所述负母线电容的负极连接所述第二电阻的另一端。
[0019]优选的，所述第一模组和所述第二模组均包括三个所述测试单元，所述第一模组的所述测试单元与所述第二模组的所述测试单元呈对称分布；
[0020]所述第一模组的所述测试单元包括：
[0021]IGBT管，所述IGBT管的集电极连接串联二极管的阳极和并联二极管的阴极，所述IGBT管的发射极连接所述并联二极管的阳极，所述并联二极管的阴极作为所述IGBT模组的第二测试端DC+，所述IGBT管的发射极作为所述IGBT模组的第一测试端DCN，所述IGBT管的集电极作为所述第一模组的所述测试单元的输出端；
[0022]所述第二模组的所述测试单元包括：
[0023]IGBT管，所述IGBT管的集电极连接并联二极管的阴极，所述IGBT管的发射极连接所述并联二极管的阳极和所述串联二极管的阴极，所述并联二极管的阳极作为所述IGBT模组的第三测试端DC
‑
，所述IGBT管的集电极作为所述IGBT模组的第一测试端DCN，所述IGBT管的发射极作为所述第二模组的所述测试单元的输出端。
[0024]优选的，所述第一开关模块的另一端连接于所述第一模组的所述测试单元的所述IGBT管和所述并联二极管之间。
[0025]优选的，所述第二开关模块的另一端连接于所述第二模组的所述测试单元的所述IGBT管各所述并联二极管之间。
[0026]优选的，所述负载电感为绕线电感。
[0027]优选的，所述正母线电容为薄膜电容。
[0028]优选的，所述负母线电容为薄膜电容。
[0029]上述技术方案具有如下优点或有益效果：
[0030]1)设计系统化双脉冲测试电路，通过第一至第七开关、多个第一开关模块和多个第二开关模块和负载电感组成不同的测试回路，切换开关的状态，可以方便的实现对IGBT模组中第一模组和第二模组的对应的测试单元进行双脉冲测试，提高测试效率的同时，提高测试的一致性；
[0031]2)双脉冲测试电路中还设置第一放电单元和第二放电单元，用于测试完成后对正母线电容和负母线电容中的残余电荷的释放；
[0032]3)双脉冲测试电路中使用的所有开关均为继电器，控制简单，安全可靠。
附图说明
[0033]图1为本技术的较佳的实施例中，一种IGBT模组的双脉冲测试电路的电气原理图；
[0034]图2为本技术的较佳的实施例中，对IGBT模组的测试单元进行双脉冲测试时，对应的双脉冲测试电路的开关状态列表。
具体实施方式
[0035]下面结合附图和具体实施例对本技术进行详细说明。本技术并不限定于该实施方式，只要符合本技术的主旨，则其他实施方式也可以属于本技术的范畴。
[0036]本技术的较佳的实施例中，基于现有技术中存在的上述问题，现提供一种IGBT模组的双脉冲测试电路，IGBT模组1包括并联的第一模组11和第二模组12，第一模组11和第二模组12分别包括并联的多个测试单元；如图1所示，则双脉冲测试电路2包括：
[0037]第一开关组21，包括多个第一开关模块22，分别对应连接第一模组11的各测试单元的输出端；
[0038]第二开关组23，包括多个第二开关模块24，分别对应连接第二模组11的各测试单元的输出端；
[0039]直流电源DC，直流电源DC的正极分别连接第一开关S1的一端和第二开关S2的一端，直流电源DC的负极连接第三开关S3的一端；
[0040]第四开关S4，第四开关S4的一端连接第三开关S3的另一端，第四开关S4的另一端分别连接第二开关S2的另一端和第五开关S5的一端；
[0041]负载电感L，负载电感L的一端连接第六开关S6的一端和第六开关S6的一端，第六开关S6的另一端连接第一开关S1的另一端，第七开关S7的另一端连接第三开关S3的另一端，负载电感L的另一端分别连接各第一开关模块的一端和各第二开关模块的一端；
[0042]第五开关S5的另一端连接IGBT模组1的第一测试端DCN；
[0043]第六开关S6的另一端连接IGBT模组1的第二测试本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种IGBT模组的双脉冲测试电路，其特征在于，所述IGBT模组包括并联的第一模组和第二模组，所述第一模组和所述第二模组分别包括并联的多个测试单元；则所述双脉冲测试电路包括：第一开关组，包括多个第一开关模块，分别对应连接所述第一模组的各所述测试单元的输出端；第二开关组，包括多个第二开关模块，分别对应连接所述第二模组的各所述测试单元的输出端；直流电源，所述直流电源的正极分别连接第一开关的一端和第二开关的一端，所述直流电源的负极连接第三开关的一端；第四开关，所述第四开关的一端连接所述第三开关的另一端，所述第四开关的另一端分别连接第二开关的另一端和第五开关的一端；负载电感，所述负载电感的一端连接第六开关的一端和第七开关的一端，所述第六开关的另一端连接所述第一开关的另一端，所述第七开关的另一端连接所述第三开关的另一端，所述负载电感的另一端分别连接各所述第一开关模块的一端和各所述第二开关模块的一端；所述第五开关的另一端连接所述IGBT模组的第一测试端；所述第六开关的另一端连接所述IGBT模组的第二测试端；所述第七开关的另一端连接所述IGBT模组的第三测试端。2.根据权利要求1所述的双脉冲测试电路，其特征在于，还包括第一放电单元，包括：第八开关，所述第八开关一端连接所述第一开关的另一端，所述第八开关的另一端连接第一电阻的一端，所述第一电阻的另一端连接所述第二开关的另一端；正母线电容，所述正母线电容的正极连接所述第八开关的一端，所述正母线电容的负极连接所述第一电阻的另一端。3.根据权利要求1所述的双脉冲测试电路，其特征在于，还包括第二放电单元，包括：第九开关，所述第九开关一端连接所述第三开关的另一端，所述第九开关的另一端连接第二电阻的一端，所述第二电阻的另一端连接所述第二开关的另一端；负母线电容，所述负母线电容的正极连接所述第九开关...

【专利技术属性】
技术研发人员：梅逸君，
申请(专利权)人：嘉兴斯达微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：