【技术实现步骤摘要】
视野标定方法及标定用辅具
[0001]本专利技术涉及晶体制造
,尤其涉及一种视野标定方法及标定用辅具。
技术介绍
[0002]针对直拉法单晶硅棒的制备,为了获得高质量低缺陷的硅棒,需要实时测量硅棒直径和熔融硅液的液面高度。目前普遍利用工业相机拍摄硅棒的图像,根据图像分析计算得到真实硅棒直径和硅液高度,在制备单晶硅棒过程中会涉及到工业相机的画面视野调整,旨在使硅棒的图像能够完整、清晰地呈现于拍摄画面中。行业内在晶体发育的熔接阶段调整工业相机的视野,调节视野时以晶体炉内的导流筒为基准,熔接阶段下晶体炉内的高温熔融硅液为工业相机的视野调节提供光照。然而,导流筒的安装误差和形状会影响视野调节的准确性,难以获得理想的画面视野,而且在熔接阶段调节工业相机的视野会占用额外的工时,影响晶棒成型出件和交付的及时率。
技术实现思路
[0003]有鉴于此,有必要提供一种能够获得理想画面视野、且不受标定基准的形位误差而影响视野准确性的视野标定方法。
[0004]本专利技术提供的视野标定方法用于标定晶体制备设施中的工业相机的视野,视野标定方法包括:
[0005]步骤B、在坩埚托盘承载衔接件并且与对中件同轴的情况下,工业相机实时拍摄标定用辅具以获得跟踪影像;
[0006]步骤C、在跟踪影像中识别对中件的特征元素,确定特征元素在工业相机的画面视野中的位置;
[0007]步骤D、根据特征元素在工业相机的画面视野中的位置,确定对中件的像素轮廓的位态偏差;
[0008]步骤E、调节工业相机的 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种视野标定方法,该方法用于标定晶体制备设施中的工业相机(30)的视野,其特征在于,所述视野标定方法包括:在坩埚托盘(23)承载衔接件(11)且与对中件(12)同轴的情况下,工业相机(30)实时拍摄对中件(12)以获得跟踪影像;在跟踪影像中识别对中件(12)的特征元素,确定特征元素在工业相机(30)的画面视野中的位置;根据特征元素在工业相机(30)的画面视野中的位置,确定对中件(12)的像素轮廓的位态偏差;调节工业相机(30)的位姿,消除对中件(12)的像素轮廓的位态偏差以获得标准视野的跟踪影像;对中件(12)的像素轮廓的位态偏差包括:对中件(12)的像素轮廓在工业相机(30)的画面视野内的居中度偏差;及,对中件(12)的像素轮廓在工业相机(30)的画面视野内的角度偏差。2.根据权利要求1所述的视野标定方法,其特征在于,所述晶体制备设施还包括连接所述工业相机(30)的图像识别处理单元,在跟踪影像中识别对中件(12)的特征元素,确定特征元素在工业相机(30)的画面视野中的位置包括:图像识别处理单元获取跟踪影像,并且在工业相机(30)的画面视野内建立平面直角坐标系;图像识别处理单元识别跟踪影像中关于对中件(12)的特征元素,确定特征元素在平面直角坐标系的像素坐标;根据特征元素在平面直角坐标系的像素坐标,生成特征元素在平面直角坐标系的数学表达式;其中,工业相机(30)的画面视野为矩形视野,平面直角坐标系的第一轴平行于矩形视野长度方向,平面直角坐标系的第二轴平行于矩形视野宽度方向。3.根据权利要求2所述的视野标定方法,其特征在于,对中件(12)为柱状件,对中件(12)的外周壁为圆柱面,跟踪影像中关于对中件(12)的特征元素包括:对中件(12)远离衔接件(11)的一端所形成的第一椭圆弧曲线;以及,对中件(12)外周壁所形成的第一直线段和第二直线段;根据特征元素在工业相机(30)的画面视野中的位置,确定对中件(12)的像素轮廓的位态偏差包括:根据第一椭圆弧曲线的数学表达式,图像识别处理单元确定对中件(12)的像素轮廓在工业相机(30)的画面视野内的居中度偏差;根据第一直线段的数学表达式和第二直线段的数学表达式,图像识别处理单元确定对中件(12)的像素轮廓在工业相机(30)的画面视野内的角度偏差。4.根据权利要求3所述的视野标定方法,其特征在于,根据第一椭圆弧曲线的数学表达式,图像识别处理单元确定对中件(12)的像素轮廓在工业相机(30)的画面视野内的居中度偏差包括:图像识别处理单元求得第一椭圆弧曲线的椭圆中心坐标,并在跟踪影像上标记出对应椭圆中心坐标的目标像素点;
调节工业相机(30)的位姿,消除对中件(12)的像素轮廓的位态偏差以获得标准视野的跟踪影像包括:移动工业相机(30)并改变工业相机(30)的画面视野,以使平面直角坐标系的坐标原点移动至目标像素点。5.根据权利要求4所述的视野标定方法,其特征在于,根据第一直线段的数学表达式和第二直线段的数学表达式,图像识别处...
【专利技术属性】
技术研发人员:曹建伟,朱亮,高宇,叶钢飞,周铮超,
申请(专利权)人:浙江晶盛机电股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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