【技术实现步骤摘要】
硅材料加工工艺
[0001]本申请涉及硅材料
,更具体地说,它涉及硅材料加工工艺。
技术介绍
[0002]随着科技的发展,硅材料行业的需求也在不断增加。由于硅材料具有单方向导电性、热敏特性、光电特性以及掺杂特性等优良性能,可以生长为大尺寸高纯度晶体,故而被广泛应用于电子和电子产品、电力、航空航天、能源、汽车、通信等多个领域。
[0003]硅材料上的孔可以用于安装相应的支架、支撑结构或者固定装置,也可以用于制作过滤器、反应器等器械。目前硅材料的打孔技术,常导致截面刀痕粗糙,破碎层、损伤层深,残余应力大,碎片、崩边、断根等问题,增大了研磨、抛光等工序加工量,既浪费材料又降低了加工效率和成品率;且由于切屑和新切断面表面能的作用,切屑和表面会产生强烈的吸附作用,切屑不易剥离而被切削液带走,同时还阻碍了切削速度,出现孔斜、孔径误差较大的不良现象;尤其是在硅材料上面打阶梯孔,加工难度增大,打孔效果更加不理想。因此,亟需解决现有硅材料的打孔效果较差的问题,进一步扩大硅材料的应用市场。
技术实现思路
[0004 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】 【专利技术属性】
1.硅材料加工工艺,其特征在于,包括以下步骤:S1、检查原材料外观有无破损划痕,采用切削液#3对原材料进行粗磨加工,对粗磨后的硅材料平面进行测量是否合格;S2、采用切削液#1对硅材料进行第一次研磨,并对研磨后的硅材料进行厚度测量是否合格;S3、采用切削液#1对硅材料进行外径加工,测量硅材料加工后的外径是否合格;S4、采用切削液#2对硅材料进行键孔打孔,随后进行超声波清洗,并对硅材料的键孔进行测量;S5、采用切削液#2对硅材料进行打孔加工,打孔完成的硅材料进行超声清洗,对打孔后的材料进行非接触式孔测量;S6、用酸液对硅材料进行酸性孔蚀刻,蚀刻后对硅材料表面进行外观检查有无破碎划痕;S7、采用切削液#1对硅材料进行第二次研磨,研磨后进行超声波清洗,并对硅材料进行接触式厚度测量;S8、采用切削液#1对硅材料进行第三次研磨,研磨后进行超声波清洗,并对硅材料进行接触式厚度测量;S9、采用切削液#1对硅材料进行外段径加工,对硅材料进行超声波清洗,对硅材料进行接触式外段径测量;S10、采用切削液#1对硅材料进行第四次研磨后,分别采用去离子水和清洗剂进行超声波清洗,并对硅材料进行非接触式形状测量;S11、对硅材料进行接触式整体测量,并将成品放入包装袋中并注入去离子水封口打包出库。2.根据权利要求1所述的硅材料加工工艺,其特征在于,所述切削液#1由质量比为1000:1
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5的去离子水和Hysol X切削油混合而得。3.根据权利要求1所述的硅材料加工工艺,其特征在于,所述切削液#2由质量比为1000:2
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7的去离子水和M COOL S
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3900切削油混合而得。4.根据权利要求1所述的硅材料加工工艺,其特征在于,所述切削液#3由质量比为3
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4:1: 0.5
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技术研发人员:辛长林,王宇,陈浩,崔金石,
申请(专利权)人:安徽高芯众科半导体有限公司,
类型:发明
国别省市:
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