一种平衡轴支架检具及检测方法技术

技术编号:38944618 阅读:15 留言:0更新日期:2023-09-25 09:41
本发明专利技术提供一种平衡轴支架检具及检测方法,上述的平衡轴支架检具包括:第一基座、通孔检测组件、螺纹孔检测组件和百分表座;第一基座设有第一承载台、第二承载台和定位台,第一承载台用于承载平衡轴支架;第二承载台设于第一承载台的一侧,定位台设置于第二承载台两侧;通孔检测组件与平衡轴支架的第二检测孔同侧布设于第一承载台的一侧;螺纹孔检测组件与平衡轴支架的第一螺纹孔同侧布设于第一承载台的一侧,螺纹孔检测组件用于与第一基座相配合,以检测第一螺纹孔的位置度、对称度和对于基准孔的垂直度。该平衡轴支架检具提高了对批量生产的平衡轴支架的检测效率,并降低了检测的成本。的成本。的成本。

【技术实现步骤摘要】
一种平衡轴支架检具及检测方法


[0001]本专利技术涉及悬架类零件的综合检具领域,具体涉及一种平衡轴支架检具及检测方法。

技术介绍

[0002]平衡轴支架属于商用车底盘系统平衡悬架的组成关键零件,本平衡轴支架用于出口,其零件要求严格,尺寸精度高,质量目标要求为30ppm,不良率为“零”;用户只对零件产品进行抽检,只要发生不良,该批次零件进行退货处理,并要求100%进行库存排查,消除不良;如果出现类似的情况,那对企业的形象及经济效益影响是巨大的;
[0003]针对平衡轴支架的检测内容主要是包括对位置度、垂直度和对称度的要求。通常的位置度、垂直度和对称度检测的方法有三坐标检测、万能检测法、综合检具。但三坐标检测和万能检测法效率低,检测成本高,可以用于样件调试及抽检,但不能适用于批量生产的零件的全体检测。
[0004]因此,为解决批量生产的平衡轴支架难以进行全体检测的技术问题,本专利技术提供了一种新的针对平衡轴支架的综合检具及相应的检测方法。

技术实现思路

[0005]基于上述表述,本专利技术提供了一种平衡轴支架检具及检测方法,以解决针对批量生产的平衡轴支架的检测效率低以及检测成本高的问题。
[0006]本专利技术解决上述技术问题的技术方案如下:
[0007]第一方面,一种平衡轴支架检具,包括:第一基座、通孔检测组件、螺纹孔检测组件和百分表座;
[0008]所述第一基座设有第一承载台、第二承载台和定位台,所述第一承载台用于承载平衡轴支架;所述定位台设置于所述第二承载台两侧;所述定位台与所述百分表座相配合,用于检测所述平衡轴支架的F面与基准孔的垂直度;
[0009]所述通孔检测组件与所述平衡轴支架的第二检测孔同侧布设于所述第一承载台的一侧,所述通孔检测组件用于与所述第一基座相配合,以检测所述第二检测孔的位置度;
[0010]所述螺纹孔检测组件与所述平衡轴支架的第一螺纹孔同侧布设于所述第一承载台的一侧,所述螺纹孔检测组件用于与所述第一基座相配合,以检测所述第一螺纹孔的位置度、对称度和对于所述基准孔的垂直度。
[0011]在上述技术方案的基础上,本专利技术还可以做如下改进。
[0012]进一步的,所述第一承载台包括:定位柱和承载座;
[0013]所述定位柱垂直设于所述承载座上,所述定位柱的尺寸与所述基准孔的尺寸相适配;
[0014]所述承载座设置于所述第一承载台上,所述承载座的上表面与所述定位柱相连接,所述上表面的面积大于所述定位柱的横截面积,所述上表面用于与所述平衡轴支架相
抵接。
[0015]进一步的,所述第二承载台包括:定位孔和定位孔座;
[0016]所述定位孔垂直穿设于所述第二承载台,所述定位孔座设有通孔,所述通孔与所述定位孔相对应。
[0017]进一步的,所述定位台包括:第一检测销、第一通孔和基准销;
[0018]所述第一通孔垂直设于所述定位台靠近所述第一承载台的一侧,所述第一检测销用于与所述第一通孔相配合,以对第二螺纹孔的位置度进行检测;
[0019]所述基准销垂直设于所述定位台靠近所述第二承载台的一侧,所述基准销用于与所述百分表座相配合,以检测所述平衡轴支架F面与所述基准孔的垂直度。
[0020]进一步的,所述平衡轴支架检具还包括:滑动测量底座;所述滑动测量底座设置于所述第二承载台上,所述滑动测量底座用于与所述第一基座相配合,以对所述平衡轴支架定位及对第一检测孔的位置度进行测量。
[0021]进一步的,所述滑动测量组件包括:第二基座、定位检测板和滑轨;
[0022]所述定位检测板垂直设置于所述第二基座的靠近所述第一承载台的一端;所述滑轨沿朝向所述第一承接台的方向固定设于所述第二承载台,所述第二基座与所述滑轨相连接;
[0023]所述定位检测板用于对所述第一检测孔的位置度的检测。
[0024]进一步的,所述通孔检测组件包括:第三基座和第三检测销;
[0025]所述第三基座设有侧板和底板;两个所述侧板分别垂直设置于所述底板的两端,所述平衡轴支架的底部设于两个所述侧板之间;
[0026]所述侧板设有第三通孔;所述第三通孔的尺寸与所述第三检测销的尺寸相适配,所述第三通孔与第三检测销相配合用于对所述第二检测孔的位置度进行检测。
[0027]进一步的,所述螺纹孔检测组件包括:第四基座、杠杆百分表、第四检测销和对称度测量销;
[0028]所述第四基座垂直设于所述第一基座上,所述对称度测量销垂直设于所述第四基座远离所述第一基座的一端;
[0029]所述第四检测销可插入所述第一螺纹孔,所述第四检测销用于检测所述第一螺纹孔的位置度;
[0030]所述杠杆百分表与所述对称度测量销相连接,所述杠杆百分表用于与所述对称测量销以及所述第四检测销相配合,以对所述第一螺纹孔的对称度和垂直度进行检测。
[0031]进一步的,所述百分表座包括:百分表、第一表杆、第二表杆、表座和调节螺钉;
[0032]所述第一表杆垂直设置于所述表座一侧,所述第二表杆垂直设于所述第一表杆,所述调节螺钉设于所述第二表杆靠近所述第一表杆的一端,所述百分表垂直设于所述第二表杆远离所述第一表杆的一端。
[0033]第二方面,本专利技术还提供一种运用如第一方面中任一项所述的平衡轴支架检具对平衡轴支架进行检测的检测方法,包括:
[0034]将平衡轴支架置于第一基座上,所述第一基座与所述百分表座配合,检测所述平衡轴支架的F面与基准孔的垂直度;
[0035]将通孔检测组件与所述第一基座配合,检测所述平衡轴支架的第二检测孔的位置
度;
[0036]将螺纹孔检测组件的对称度测量销前推,所述螺纹孔检测组件的第四检测销与所述对称度测量销配合,所述杠杆百分表的测头与所述第四检测销的表面相接触,旋转所述对称度测量销,所述对称度测量销带动所述第四检测销旋转,检测所述第一螺纹孔对于所述基准孔的对称度和垂直度。
[0037]与现有技术相比,本申请的技术方案具有以下有益技术效果:
[0038]本专利技术提供了一种平衡轴支架检具及检测方法,通过设计具有第一承载台、第二承载台和定位台的第一基座用来实现承载以及检测平衡轴支架的功能,第一承载台便主要用于承载平衡轴支架,第二承载台设于第一承载台的一侧,用于承载滑动测量组件,定位台设置于第二承载台的两侧,定位台可以与百分表座相配合,检测平衡轴支架的F面与基准孔的垂直度,螺纹孔检测组件与第一基座相配合,检测第一螺纹孔的位置度、对称度和对于基准孔的垂直度。相较于现有技术,该平衡轴支架检具及检测方法1,能够实现针对批量生产的平衡轴支架的快速、高效的检测,同时降低检测成本。
附图说明
[0039]图1为本专利技术实施例提供的平衡轴支架检具的结构示意图之一;
[0040]图2为本专利技术实施例提供的平衡轴支架检具的结构示意图之二;
[0041]图3为本专利技术实施例提供的平衡轴支架检具的结构示意图之三;...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种平衡轴支架检具,其特征在于,包括:第一基座、通孔检测组件、螺纹孔检测组件和百分表座;所述第一基座设有第一承载台、第二承载台和定位台,所述第一承载台用于承载平衡轴支架;所述第二承载台设于所述第一承载台的一侧,所述定位台设置于所述第二承载台两侧;所述定位台与所述百分表座相配合,用于检测所述平衡轴支架的F面与基准孔的垂直度;所述通孔检测组件与所述平衡轴支架的第二检测孔同侧布设于所述第一承载台的一侧,所述通孔检测组件用于与所述第一基座相配合,以检测所述第二检测孔的位置度;所述螺纹孔检测组件与所述平衡轴支架的第一螺纹孔同侧布设于所述第一承载台的一侧,所述螺纹孔检测组件用于与所述第一基座相配合,以检测所述第一螺纹孔的位置度、对称度和对于所述基准孔的垂直度。2.根据权利要求1所述的平衡轴支架检具,其特征在于,所述第一承载台包括:定位柱和承载座;所述定位柱垂直设于所述承载座上,所述定位柱的尺寸与所述基准孔的尺寸相适配;所述承载座设置于所述第一承载台上,所述承载座的上表面与所述定位柱相连接,所述上表面的面积大于所述定位柱的横截面积,所述上表面用于与所述平衡轴支架相抵接。3.根据权利要求1所述的平衡轴支架检具,其特征在于,所述第二承载台包括:定位孔和定位孔座;所述定位孔垂直穿设于所述第二承载台,所述定位孔座设有通孔,所述通孔与所述定位孔相对应。4.根据权利要求1所述的平衡轴支架检具,其特征在于,所述定位台包括:第一检测销、第一通孔和基准销;所述第一通孔垂直设于所述定位台靠近所述第一承载台的一侧,所述第一检测销用于与所述第一通孔相配合,以对第二螺纹孔的位置度进行检测;所述基准销垂直设于所述定位台靠近所述第二承载台的一侧,所述基准销用于与所述百分表座相配合,以检测所述平衡轴支架的F面与所述基准孔的垂直度。5.根据权利要求1所述的平衡轴支架检具,其特征在于,所述平衡轴支架检具还包括滑动测量组件;所述滑动测量组件设置于所述第二承载台上,所述滑动测量底座用于与所述第一基座相配合,以对所述平衡轴支架定位及对所述平衡轴支架对的第一检测孔的位置度进行测量。6.根据权利要求5所述的平衡轴支架检具,其特征在于,所述滑动测量组件包括:第二基座、定位检测板和滑轨...

【专利技术属性】
技术研发人员:朱仕海熊亘何鹏程陈红艳
申请(专利权)人:东风汽车底盘系统有限公司
类型:发明
国别省市:

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