一种玻璃绝缘子缺陷识别方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

本申请公开了一种玻璃绝缘子缺陷识别方法、装置、设备及介质，方法包括以下步骤：基于第一视角获取玻璃绝缘子的第一图像；其中，第一视角为玻璃绝缘子的俯视角，玻璃绝缘子包括绝缘体，绝缘体的顶部呈环形阵列分布有多个支撑部；提取第一图像中对应多个支撑部的第一轮廓信息；对第一轮廓信息进行检测，以识别第一图像中是否存在第一类缺陷信息；其中，第一类缺陷信息为支撑部水平偏移；输出识别结果，本申请具有提高了对玻璃绝缘子的缺陷识别精度、提高了缺陷识别效率的优点。提高了缺陷识别效率的优点。提高了缺陷识别效率的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种玻璃绝缘子缺陷识别方法、装置、设备及介质


[0001]本申请涉及图像数据处理
，尤其涉及一种玻璃绝缘子缺陷识别方法、装置、设备及介质。

技术介绍

[0002]绝缘子主要是用来将导线固定在电杆并使导线与电杆绝缘的器件，绝缘子是高压输电线路的关键部件之一，其性能优劣直接影响到整条输电线路的运行安全。其中，玻璃绝缘子主体由玻璃制成，用在线路中最广泛的是钢化玻璃绝缘子。
[0003]根据使用场景的不同，玻璃绝缘子结构形式较多，其中一款结构特殊的玻璃绝缘子，其包括绝缘体，绝缘体外壁设置有多圈环形凸起，环形凸起之间则用于固定导线，绝缘体的一端开口，且开口端面均布有多个呈环形阵列布置的支撑部，支撑部一般呈锥形台结构，使得绝缘体固定于对应位置后，支撑部作为接触部位可起到多点支撑作用，为保证支撑受力均匀，支撑部应当均匀分布无偏移，而目前该结构的玻璃绝缘子制造后，可能会存在支撑部因形变而偏移的质量缺陷，因此还需经过质检工序，合格后才能成为合格成品，而目前主要通过人工目视的方法检测其偏移缺陷，由于绝缘体上的支撑部数量较多且体积较小，人工目视难以判断其偏移情况，检测识别难度大，且误差大，识别准确率较低，效率也较低。

技术实现思路

[0004]本申请的主要目的在于提供一种玻璃绝缘子缺陷识别方法、装置、设备及介质，旨在解决现有玻璃绝缘子上多个支撑部的缺陷识别准确率较低的技术问题。
[0005]为实现上述目的，本申请提供一种玻璃绝缘子缺陷识别方法，包括以下步骤：基于第一视角获取玻璃绝缘子的第一图像；其中，第一视角为玻璃绝缘子的俯视角，玻璃绝缘子包括绝缘体，绝缘体的顶部呈环形阵列分布有多个支撑部；提取第一图像中对应多个支撑部的第一轮廓信息；对第一轮廓信息进行检测，以识别第一图像中是否存在第一类缺陷信息；其中，第一类缺陷信息为支撑部水平偏移；输出识别结果。
[0006]可选地，所述对第一轮廓信息进行检测，以识别第一图像中是否存在第一类缺陷信息，包括：在第一图像中基于玻璃绝缘子中心构建基准圆；其中，基准圆是基于标准位置的支撑部中心与玻璃绝缘子中心之间的间距为半径构建的圆；根据第一轮廓信息，在对应每个支撑部中心构建中心点；识别多个中心点是否在基准圆上；若至少有一个中心点不在基准圆上，则识别为第一图像中存在第一类缺陷信息。
[0007]可选地，若识别到多个中心点均在基准圆上，还包括以下步骤：连接每个相邻中心点，以获得多个测量线段；
分别计算多个测量线段的长度值；将多个测量线段的长度值分别与第一阈值比较；其中，第一阈值为两个标准位置的支撑部之间的间距值；若至少有一个测量线段的长度值与第一阈值不相等，则识别为第一图像中存在第一类缺陷信息，若多个测量线段的长度值均与第一阈值相等，则识别为第一图像中不存在第一类缺陷信息。
[0008]可选地，所述对第一轮廓信息进行检测，以识别第一图像中是否存在第一类缺陷信息的步骤之后，还包括以下步骤：基于第二视角获取玻璃绝缘子的多张第二图像；其中，第二视角为玻璃绝缘子的正面视角，多张第二图像为基于第二视角采集的玻璃绝缘子绕中心轴线旋转不同角度的图像；分别提取多张第二图像中的第二轮廓信息；对第二轮廓信息进行检测，以识别第二图像中是否存在第二类缺陷信息；其中，第二类缺陷信息为支撑部偏高或偏低。
[0009]可选地，所述对第二轮廓信息进行检测，以识别第二图像中是否存在第二类缺陷信息，包括：提取第二轮廓信息中对应多个支撑部的顶面以及环形凸起；其中，环形凸起绕设于绝缘体外壁；分别计算多个支撑部的顶面与环形凸起之间的实测间距值；将多个实测间距值分别与第二阈值比较；其中，第二阈值为标准高度的支撑部与环形凸起之间的间距值；若至少有一个实测间距值与第二阈值不相等，则识别为第二图像中存在第二类缺陷信息，若多个实测间距值均与第二阈值相等，则识别为第二图像中不存在第二类缺陷信息。
[0010]可选地，所述分别计算多个支撑部的顶面与环形凸起之间的实测间距值，包括：分别计算多个支撑部的顶面与最邻近的环形凸起之间的实测间距值。
[0011]可选地，所述基于第一视角获取玻璃绝缘子的第一图像，包括：基于第一视角获取玻璃绝缘子的原始图像；对原始图像灰度处理，以获得灰度图像；对灰度图像进行降噪处理；对降噪处理后的灰度图像进行阈值分割，以获得黑白分明的第一图像。
[0012]为实现上述目的，本申请还提供一种玻璃绝缘子缺陷识别装置，包括：图像获取模块，用于基于第一视角获取玻璃绝缘子的第一图像；其中，第一视角为玻璃绝缘子的俯视角，玻璃绝缘子包括绝缘体，绝缘体的顶部呈环形阵列分布有多个支撑部；特征提取模块，用于提取第一图像中对应多个支撑部的第一轮廓信息；缺陷识别模块，用于对第一轮廓信息进行检测，以识别第一图像中是否存在第一类缺陷信息；其中，第一类缺陷信息为支撑部水平偏移；输出模块，用于输出识别结果。
[0013]为实现上述目的，本申请还提供一种计算机设备，该计算机设备包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序，实现上述的方法。
[0014]为实现上述目的，本申请还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，处理器执行所述计算机程序，实现上述的方法。
[0015]本申请所能实现的有益效果如下：本申请基于俯视角获取玻璃绝缘子的第一图像，因此第一图像可直观显示绝缘体顶部的全部支撑部轮廓，通过提取第一图像中对应多个支撑部的第一轮廓信息，再对第一轮廓信息进行检测，从而识别第一图像中是否存在水平偏移的缺陷信息，本申请利用机器视觉图像识别技术，可准确识别玻璃绝缘子中支撑部的缺陷情况，相比人工识别，提高了准确率，同时提高了工作效率。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本申请具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。在所有附图中，类似的元件或部分一般由类似的附图标记标识。附图中，各元件或部分并不一定按照实际的比例绘制。
[0017]图1为本申请的实施例中一种玻璃绝缘子缺陷识别方法的流程示意图；图2为本申请的实施例中玻璃绝缘子的结构示意图；图3为本申请的实施例中基于第一图像构建基准圆识别是否存在第一类缺陷信息时的原理示意图；图4为本申请的实施例中基于第一图像构建测量线段识别是否存在第一类缺陷信息时的原理示意图；图5为本申请的实施例中基于第二图像识别是否存在第二类缺陷信息时的原理示意图。
[0018]附图标记：110
‑
绝缘体，120
‑
支撑部，130
‑
环形凸起。
[0019]本申请目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0020]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种玻璃绝缘子缺陷识别方法，其特征在于，包括以下步骤：基于第一视角获取玻璃绝缘子的第一图像；其中，所述第一视角为所述玻璃绝缘子的俯视角，所述玻璃绝缘子包括绝缘体，所述绝缘体的顶部呈环形阵列分布有多个支撑部；提取所述第一图像中对应多个所述支撑部的第一轮廓信息；对所述第一轮廓信息进行检测，以识别所述第一图像中是否存在第一类缺陷信息；其中，所述第一类缺陷信息为所述支撑部水平偏移；输出识别结果。2.如权利要求1所述的一种玻璃绝缘子缺陷识别方法，其特征在于，所述对所述第一轮廓信息进行检测，以识别所述第一图像中是否存在第一类缺陷信息，包括：在所述第一图像中基于所述玻璃绝缘子中心构建基准圆；其中，所述基准圆是基于标准位置的支撑部中心与所述玻璃绝缘子中心之间的间距为半径构建的圆；根据所述第一轮廓信息，在对应每个所述支撑部中心构建中心点；识别多个所述中心点是否在所述基准圆上；若至少有一个所述中心点不在所述基准圆上，则识别为所述第一图像中存在第一类缺陷信息。3.如权利要求2所述的一种玻璃绝缘子缺陷识别方法，其特征在于，若识别到多个所述中心点均在所述基准圆上，还包括以下步骤：连接每个相邻所述中心点，以获得多个测量线段；分别计算多个所述测量线段的长度值；将多个所述测量线段的长度值分别与第一阈值比较；其中，所述第一阈值为两个标准位置的支撑部之间的间距值；若至少有一个所述测量线段的长度值与所述第一阈值不相等，则识别为所述第一图像中存在所述第一类缺陷信息，若多个所述测量线段的长度值均与所述第一阈值相等，则识别为所述第一图像中不存在所述第一类缺陷信息。4.如权利要求1
‑
3中任一项所述的一种玻璃绝缘子缺陷识别方法，其特征在于，所述对所述第一轮廓信息进行检测，以识别所述第一图像中是否存在第一类缺陷信息的步骤之后，还包括以下步骤：基于第二视角获取所述玻璃绝缘子的多张第二图像；其中，所述第二视角为所述玻璃绝缘子的正面视角，多张所述第二图像为基于所述第二视角采集的所述玻璃绝缘子绕中心轴线旋转不同角度的图像；分别提取多张所述第二图像中的第二轮廓信息；对所述第二轮廓信息进行检测，以识别所述第二图像中是否存在第二类缺陷信息；其中，所述第二类缺陷信息为支撑部偏高或偏低。5.如权利要求4...

【专利技术属性】
技术研发人员：张世贵，
申请(专利权)人：中江立江电子有限公司，
类型：发明
国别省市：