一种点样的漏点检测方法、系统、存储介质和电子设备技术方案

本申请提供一种点样的漏点检测方法，包括：获取所述点样的原始采样图像，裁剪所述原始采样图像得到点样芯片图像；对所述点样芯片图像进行图像增强；判断图像增强后的所述点样芯片图像是否通过灰度分析；若否，确认所述点样存在漏点情况；若是，对所述点样进行计量。本申对点样芯片图像进行灰度分析，进行样品点的灰度值对比，确定点样前后的差异，从而确定该样品靶点是否点样成功，提高了点样检测成功率，通过图像对齐避免运动误差积累对核酸点样图像分析的干扰，降低漏点率。本申请还提供一种点样的漏点检测系统、计算机可读存储介质和电子设备，具有上述有益效果。具有上述有益效果。具有上述有益效果。

【技术实现步骤摘要】
一种点样的漏点检测方法、系统、存储介质和电子设备


[0001]本申请涉及图像检测领域，特别涉及一种点样的漏点检测方法、系统、计算机可读存储介质和电子设备。

技术介绍

[0002]当前，目前对于核酸点样效果分析的研究，解决的问题具有特殊性，也就是技术的应用场景比较局限。由于机械臂运行时的运动误差无法矫正消除，无法满足对不同点样次数时拍照图像配准、对齐功能，容易存在较高的漏点率。

技术实现思路

[0003]本申请的目的是提供一种点样的漏点检测方法、系统、计算机可读存储介质和电子设备，能够提高点样的检测精度。
[0004]为解决上述技术问题，本申请提供一种点样的漏点检测方法，包括：
[0005]获取所述点样的原始采样图像，裁剪所述原始采样图像得到点样芯片图像；
[0006]对所述点样芯片图像进行图像增强；
[0007]判断图像增强后的所述点样芯片图像是否通过灰度分析；
[0008]若否，确认所述点样存在漏点情况；
[0009]若是，对所述点样进行计量。
[0010]可选的，对所述点样进行计量之后，还包括：
[0011]判断点样量是否满足预设需求；
[0012]若否，确认所述点样质量差并重新点样。
[0013]可选的，对所述点样芯片图像进行图像增强包括：
[0014]采用特定拉普拉斯锐化或分数阶微分操作所述点样芯片图像，以进行图像增强。
[0015]可选的，若采用特定拉普拉斯锐化所述点样芯片图像，还包括：
[0016]计算所述点样芯片图像的偏移量；
[0017]设置所述偏移量对应的像素区域不参与所述特定拉普拉斯锐化。
[0018]可选的，计算所述点样芯片图像的偏移量包括：
[0019]利用相位相关法确定所述点样芯片图像的偏移量。
[0020]可选的，计算所述点样芯片图像的偏移量包括：
[0021]利用模板匹配法确定所述点样芯片图像的偏移量。
[0022]可选的，所述裁剪得到点样芯片图像包括：
[0023]根据点样芯片类型确定裁剪坐标；
[0024]根据所述裁剪坐标对所述原始采样图片进行裁剪得到点样芯片图像。
[0025]本申请还提供一种点样的漏点检测系统，包括：
[0026]图像获取模块，用于获取所述点样的原始采样图像，裁剪所述原始采样图像得到点样芯片图像；
[0027]图像处理模块，用于对所述点样芯片图像进行图像增强；
[0028]图像分析模块，用于判断图像增强后的所述点样芯片图像是否通过灰度分析；
[0029]点样量计量模块，用于所述图像分析模块的判断结果为否时，确认所述点样存在漏点情况；以及用于若所述图像分析模块的判断结果为是时，对所述点样进行计量。
[0030]本申请还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上所述的方法的步骤。
[0031]本申请还提供一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器中存有计算机程序，所述处理器调用所述存储器中的计算机程序时实现如上所述的方法的步骤。
[0032]本申请提供一种点样的漏点检测方法，包括：获取所述点样的原始采样图像，裁剪所述原始采样图像得到点样芯片图像；对所述点样芯片图像进行图像增强；判断图像增强后的所述点样芯片图像是否通过灰度分析；若否，确认所述点样存在漏点情况；若是，对所述点样进行计量。
[0033]本申请采集到原始采样图像后，原始采样图像进行裁剪和图像增强处理，优化图像，使得图像分析更加准确，同时对点样芯片图像进行灰度分析，进行样品点的灰度值对比，确定点样前后的差异，从而确定该样品靶点是否点样成功，提高了点样检测成功率，避免运动误差积累对核酸点样图像分析的干扰，降低漏点率。
[0034]本申请还提供一种点样的漏点检测系统、计算机可读存储介质和电子设备，具有上述有益效果，此处不再赘述。
附图说明
[0035]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
[0036]图1为本申请实施例所提供的一种点样的漏点检测方法的流程图；
[0037]图2为本申请实施例所提供的一种点样的漏点检测系统结构示意图。
具体实施方式
[0038]为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0039]请参考图1，图1为本申请实施例所提供的一种点样的漏点检测方法的流程图，该方法包括：
[0040]S101：获取所述点样的原始采样图像，裁剪所述原始采样图像得到点样芯片图像；
[0041]本步骤旨在获取原始采样图像，即以控制机械臂进行样品点样后，可以采集点样图像作为原始采样图像。在此对于如何获取原始采样图像不作限定，可以利用工业摄像头使用不同焦距的镜头进行采集。
[0042]在采样得到原始采样图像后，本步骤需要对原始采样图像进行裁剪以得到点样芯
片图像。具体的，可以根据点样芯片类型确定裁剪坐标，再根据所述裁剪坐标对所述原始采样图片进行裁剪得到点样芯片图像。对于不同点样芯片类型(96孔位、384孔位)选择的裁剪坐标不同。图像裁剪作为预处理，其目的是选择感兴趣区域作为分析对象以减少内存使用量，并且可以减少图像前处理时的计算量。
[0043]S102：对所述点样芯片图像进行图像增强；
[0044]本步骤旨在执行图像增强，可以使用特定拉普拉斯锐化与分数阶微分方法实现，使用特定的Laplace算子或分数阶微分操作以提高芯片图像的边缘信息，提高图像的对比度，以对图像进行增强。在进行拉普拉斯操作时常常将噪声增强，故在进行拉普拉斯之前可做平滑处理，以消除噪声。
[0045]具体的，本步骤可以采用特定拉普拉斯锐化或分数阶微分操作所述点样芯片图像，以进行图像增强。
[0046]拉普拉斯方法通过增强图像的边缘信息，从而提高图像的对比度。图像边缘指的是图像灰度变化比较急剧的区域，我们常用灰度的二阶微分来表示这种变化程度。即：对于一张二维图像f(x,y)其二阶微分可记为：
[0047][0048]对于求取一个经过拉普拉斯变换后的像素点(sharpened pixel)的灰度值，计算公式如下：
[0049]sharpened pixel＝5*current
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left
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right
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up
‑...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种点样的漏点检测方法，其特征在于，包括：获取所述点样的原始采样图像，裁剪所述原始采样图像得到点样芯片图像；对所述点样芯片图像进行图像增强；判断图像增强后的所述点样芯片图像是否通过灰度分析；若否，确认所述点样存在漏点情况；若是，对所述点样进行计量。2.根据权利要求1所述的漏点检测方法，其特征在于，对所述点样进行计量之后，还包括：判断点样量是否满足预设需求；若否，确认所述点样质量差并重新点样。3.根据权利要求1所述的漏点检测方法，其特征在于，对所述点样芯片图像进行图像增强包括：采用特定拉普拉斯锐化或分数阶微分操作所述点样芯片图像，以进行图像增强。4.根据权利要求1所述的漏点检测方法，其特征在于，若采用特定拉普拉斯锐化所述点样芯片图像，还包括：计算所述点样芯片图像的偏移量；设置所述偏移量对应的像素区域不参与所述特定拉普拉斯锐化；所述偏移量用于矫正机械误差。5.根据权利要求4所述的漏点检测方法，其特征在于，计算所述点样芯片图像的偏移量包括：利用相位相关法确定所述点样芯片图像的偏移量。6.根据权利要求4所述的漏点检测方法，其特征在于，计算所述点样芯片图像的偏移量包括：利用模板匹配法确定...

【专利技术属性】
技术研发人员：韩乐乐，李向广，邹峰，申晓聪，陈春山，孙梓洋，蔡克亚，
申请(专利权)人：安图实验仪器郑州有限公司，
类型：发明
国别省市：