本发明专利技术涉及PCB制造技术领域，具体涉及一种内层芯板层间偏位的监控标记及其电路板和监控方法。该监控标记在基板的两侧分别设有偶数图形层和奇数图形层，偶数图形层的废料区设有第一标记，奇数图形层的废料区设有第二标记；第一标记包括第一横线和若干第一竖线，若干第一竖线沿第一横线的长度方向连接于第一横线的同一侧上，相邻第一竖线之间以第一间隔设置；第二标记包括第二横线和若干第二竖线，若干第二竖线沿第二横线的长度方向连接于第二横线的同一侧上，相邻第二竖线之间以第二间隔设置，该监控标记能同时数据化测量内层芯板层间偏位的偏位方向和偏位量。层间偏位的偏位方向和偏位量。层间偏位的偏位方向和偏位量。
【技术实现步骤摘要】
一种内层芯板层间偏位的监控标记及其电路板和监控方法
[0001]本专利技术涉及PCB制造
，具体涉及一种内层芯板层间偏位的监控标记及其电路板和监控方法。
技术介绍
[0002]随着PCB板向着高层次、高精密度的发展，其层间对位精度要求也越来越严格；其中印制板内层做图形转移时，由于缩涨、机械操作等原因，芯板两侧上的图形与图形之间的发生错位现象时有发生。对此，目前行业中部分PCB厂商通常采用的方法是：在各板层的四角添加圆圈，在内层蚀刻后，通过对比各层圆圈之间的同心度来判断是否有芯板层偏问题；此种方法能基本上监控出芯板层间偏位的问题，但很难得到数据化的偏位的方向以及偏位量。
技术实现思路
[0003]本专利技术的目的之一在于避免现有技术中的不足之处而提供一种内层芯板层间偏位的监控标记，该监控标记能同时数据化测量内层芯板层间偏位的偏位方向和偏位量。
[0004]本专利技术的目的之二在于提供一种电路板。
[0005]本专利技术的目的之三在于提供一种内层芯板层间偏位的监控方法。
[0006]为实现上述目的之一，本专利技术提供以下技术方案：
[0007]提供一种内层芯板层间偏位的监控标记，所述内层芯板包括基板，所述基板的两侧分别设有偶数图形层和奇数图形层，所述偶数图形层的废料区设有第一标记，所述奇数图形层的废料区设有第二标记，所述第一标记用于与所述第二标记对比；
[0008]所述第一标记包括第一横线和若干第一竖线，若干所述第一竖线沿所述第一横线的长度方向连接于所述第一横线的同一侧上，相邻第一竖线之间以第一间隔设置；
[0009]所述第二标记包括第二横线和若干第二竖线，若干所述第二竖线沿所述第二横线的长度方向连接于所述第二横线的同一侧上，相邻第二竖线之间以第二间隔设置；
[0010]其中，所述第一横线与所述第二横线叠合对齐且构成叠合线，所述第一竖线与所述第二竖线错位分布于所述叠合线的两侧上，所述第一间隔与所述第二间隔错位分布于所述叠合线的两侧上。
[0011]在一些实施方式中，若干所述第一竖线的的长度均相同，若干所述第一竖线的宽度以及若干第一间隔的宽度均沿着叠合线的同一延伸方向递增；
[0012]若干所述第二竖线的的长度均相同，若干所述第二竖线的宽度以及若干第二间隔的宽度均沿着叠合线的同二延伸方向递增。
[0013]在一些实施方式中，所述第一标记设置有六条第一竖线，六条第一竖线的宽度分别为2.5mil、3mil、3.5mil、4mil、4.5mil、5mil；
[0014]所述第二标记设置有六条第二竖线，六条第二竖线的宽度分别为2.5mil、3mil、3.5mil、4mil、4.5mil、5mil。
[0015]在一些实施方式中，所述偶数图形层的废料区在X轴向上设有X轴向第一标记，Y轴向上设有Y轴向第一标记，所述奇数图形层的废料区在X轴向上设有X轴向第二标记，Y轴向上设有Y轴向第二标记，所述X轴向第一标记用于与所述X轴向第二标记对比，所述Y轴向第一标记用于与所述Y轴向第二标记对比。
[0016]在一些实施方式中，所述偶数图形层的四个拐角处均分别设有X轴向第一标记和Y轴向第一标记，所述奇数图形层的四个拐角处均分别设有X轴向第二标记和Y轴向第二标记。
[0017]本专利技术一种内层芯板层间偏位的监控标记的有益效果：
[0018]本专利技术的内层芯板层间偏位的监控标记，其在偶数图形层和奇数图形层上分别设置了第一标记和第二标记，标记均由横线和若干竖线组成，通过对比第一标记的第一横线与第二标记的第二横线是否叠合，以及通过对比第一标记中的第一竖线与第二标记中的第二竖线的重合情况从而得出是否发生层间偏位以及层间偏位量，克服传统不能数据化测量层间偏位情况的问题。
[0019]为实现上述目的之二，本专利技术提供以下技术方案：
[0020]提供一种电路板，包括上述的内层芯板层间偏位的监控标记。
[0021]为实现上述目的之三，本专利技术提供以下技术方案：
[0022]提供一种内层芯板层间偏位的监控方法，采用权上述的监控标记，当转移偶数图形层和奇数图形层后，在光台下判断偶数图形层与奇数图形层是否发生偏位及层间偏位幅度，判断方式如下：
[0023]对比第一标记与第二标记，若所述第一横线和所述第二横线叠合且第一竖线与第二竖线错位分布，第一间隔与第二间隔错位分布，则偶数图形层与奇数图形层不发生层间偏位，否则偶数图形层与奇数图形层发生层间偏位；
[0024]其中，通过观察第一标记与第二标记在X轴向和Y轴向上的偏移方向从而判断层间偏位的方向；
[0025]通过测量第一竖线的宽度与第二竖线的宽度重合度从而判断层间偏位量。
[0026]提供一种内层芯板层间偏位的监控方法，采用上述的监控标记，当转移偶数图形层和奇数图形层后，在光台下判断偶数图形层与奇数图形层是否发生偏位及层间偏位幅度，判断方式如下：
[0027]对比第一标记与第二标记，若所述第一横线和所述第二横线叠合且第一竖线与第二竖线错位分布，第一间隔与第二间隔错位分布，则偶数图形层与奇数图形层不发生层间偏位，否则偶数图形层与奇数图形层发生层间偏位；
[0028]通过观察第一标记与第二标记在X轴向和Y轴向上的偏移方向从而判断层间偏位的方向；
[0029]通过测量第一竖线的宽度与第二竖线的宽度重合度从而判断层间偏位量，其中，选择重合度最大的第一竖线与第二竖线，以该重合度作为层间偏位量，通过该重合度的范围判断层间偏位量是否在合格的标准范围内，若重合度大于标准范围则芯板不合格，否则合格。
[0030]提供一种内层芯板层间偏位的监控方法，采用上述的监控标记，当转移偶数图形层和奇数图形层后，在光台下判断偶数图形层与奇数图形层是否发生偏位及层间偏位幅
度，判断方式如下：
[0031]对比第一标记与第二标记，若所述第一横线和所述第二横线叠合且第一竖线与第二竖线错位分布，第一间隔与第二间隔错位分布，则偶数图形层与奇数图形层不发生层间偏位，否则偶数图形层与奇数图形层发生层间偏位；
[0032]通过观察第一标记与第二标记在X轴向和Y轴向上的偏移方向从而判断层间偏位的方向，其中，观察X轴向第一标记和X轴向第二标记在X轴向上的偏移方向从而得出X轴向层间偏位，观察Y轴向第一标记和Y轴向第二标记在Y轴向上的偏移方向从而得出Y轴向层间偏位；
[0033]通过测量第一竖线的宽度与第二竖线的宽度重合度从而判断层间偏位量。
[0034]本专利技术一种内层芯板层间偏位的监控方法的有益效果
[0035](1)本专利技术的内层芯板层间偏位的监控方法，由于监控标记设置在废料区，该废料区具有透光的效果，直接在光台上目视检查可以确认第一标记和第二标记之间的偏位方向以及偏位数据的关键监控点，能够数据化监控内层芯板上的层间偏位问题，方法更为具有时效性及准确性，适合大规模生产应用。
[0036](2)本专利技术的内层芯板层间偏位的监控方法，其还将若干竖线的宽度本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种内层芯板层间偏位的监控标记，所述内层芯板包括基板，所述基板的两侧分别设有偶数图形层和奇数图形层，其特征是：所述偶数图形层的废料区设有第一标记，所述奇数图形层的废料区设有第二标记，所述第一标记用于与所述第二标记对比；所述第一标记包括第一横线和若干第一竖线，若干所述第一竖线沿所述第一横线的长度方向连接于所述第一横线的同一侧上，相邻第一竖线之间以第一间隔设置；所述第二标记包括第二横线和若干第二竖线，若干所述第二竖线沿所述第二横线的长度方向连接于所述第二横线的同一侧上，相邻第二竖线之间以第二间隔设置；其中，所述第一横线与所述第二横线叠合对齐且构成叠合线，所述第一竖线与所述第二竖线错位分布于所述叠合线的两侧上，所述第一间隔与所述第二间隔错位分布于所述叠合线的两侧上。2.根据权利要求1所述的内层芯板层间偏位的监控标记，其特征是：若干所述第一竖线的的长度均相同，若干所述第一竖线的宽度以及若干第一间隔的宽度均沿着叠合线的同一延伸方向递增；若干所述第二竖线的的长度均相同，若干所述第二竖线的宽度以及若干第二间隔的宽度均沿着叠合线的同二延伸方向递增。3.根据权利要求2所述的内层芯板层间偏位的监控标记，其特征是：所述第一标记设置有六条第一竖线，六条第一竖线的宽度分别为2.5mil、3mil、3.5mil、4mil、4.5mil、5mil；所述第二标记设置有六条第二竖线，六条第二竖线的宽度分别为2.5mil、3mil、3.5mil、4mil、4.5mil、5mil。4.根据权利要求1所述的内层芯板层间偏位的监控标记，其特征是：所述偶数图形层的废料区在X轴向上设有X轴向第一标记，Y轴向上设有Y轴向第一标记，所述奇数图形层的废料区在X轴向上设有X轴向第二标记，Y轴向上设有Y轴向第二标记，所述X轴向第一标记用于与所述X轴向第二标记对比，所述Y轴向第一标记用于与所述Y轴向第二标记对比。5.根据权利要求4所述的内层芯板层间偏位的监控标记，其特征是：所述偶数图形层的四个拐角处均分别设有X轴向第一标记和Y轴向第一标记，所述奇数图形层的四个拐角处均分别设有X轴向第二标记和Y轴向第二标记。6.一种电路板，其特征是：包括权利要求1
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5任一项所述的内层芯板层间偏位的监控标记。7.一种内层芯板层间偏位的监控方法，其特征是：采用权利要求1
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【专利技术属性】
技术研发人员：余登峰，陈卓云，何栋，黎钦源，
申请(专利权)人：广州广合科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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