屏蔽衰减测试匹配电阻安装装置制造方法及图纸

本申请揭示了一种屏蔽衰减测试匹配电阻安装装置，绝缘筒长度方向的两端分别为第一开口和第二开口；缆芯导电环呈环状且轴心位置处为第一通孔，缆芯导电环可拆卸地连接于第一开口，缆芯导电环具有导电性；屏蔽层导电件可拆卸地连接于第二开口位置处，屏蔽层导电件近第一开口的自由端与缆芯导电环为设置有间隙，屏蔽层导电件具有导电性；本实用新型专利技术提供的屏蔽衰减测试匹配电阻安装装置，通过屏蔽衰减测试匹配电阻安装装置套设于待测电缆后，通过缆芯导电环以及屏蔽层导电件的过渡作用，将贴片电阻的焊接难度简化，将人为操作的失误情况降低。低。低。

【技术实现步骤摘要】
屏蔽衰减测试匹配电阻安装装置


[0001]本技术涉及电缆测试装置领域，特别涉及一种屏蔽衰减测试匹配电阻安装装置。

技术介绍

[0002]在对电缆的屏蔽衰减测试过程中常采用匹配短路法。而在匹配短路法的测试过程中，使用相关测试装置前，需要完成制样过程。在一个电性的制样过程中，截取45厘米左右长度的待测电缆；剥去一端的保护套(约4.5厘米)露出电缆主体，电缆主体的最外层为屏蔽层；分离出待测电缆中部的缆芯的导体；准备与待测电缆阻抗值尽量相等的贴片电阻(误差最好不要超过待测电缆阻抗值的正负百分之十)；将贴片电阻的两端分别焊接于导体和屏蔽层。
[0003]目前匹配短路法的制样过程中，贴片电阻(匹配电阻)的焊接难度较大，且非常容易形成操作不良，非常依赖操作人员的个人技术水平。

技术实现思路

[0004]本技术的主要目的为提供一种屏蔽衰减测试匹配电阻安装装置，旨在解决匹配短路法的制样过程中，贴片电阻的焊接难度较大，且非常容易形成操作不良，非常依赖操作人员的个人技术水平的为题。
[0005]为了实现上述目的，本技术提供一种屏蔽衰减测试匹配电阻安装装置，包括：
[0006]绝缘筒，长度方向的两端分别为第一开口和第二开口；
[0007]缆芯导电环，呈环状且轴心位置处为第一通孔，所述缆芯导电环可拆卸地连接于所述第一开口，其中，所述缆芯导电环具有导电性；
[0008]屏蔽层导电件，可拆卸地连接于所述第二开口位置处，所述屏蔽层导电件近所述第一开口的自由端与所述缆芯导电环为设置有间隙，其中，所述屏蔽层导电件具有导电性。
[0009]进一步地，所述屏蔽层导电件的外侧壁与所述缆芯导电环的外侧壁分别设置有第一凹槽和第二凹槽。
[0010]进一步地，所述第一通孔面向所述屏蔽层导电件的一侧具有第一倒角结构。
[0011]进一步地，所述第一通孔背离所述屏蔽层导电件的一侧具有第二倒角结构。
[0012]进一步地，所述屏蔽层导电件呈筒圈状结构，且套设于所述绝缘筒的外周。
[0013]进一步地，所述屏蔽层导电件呈条状结构，且从所述第二开口处开始设置沿所述绝缘筒的长度方向延伸。
[0014]进一步地，所述屏蔽层导电件卡接或者扣接于所述绝缘筒。
[0015]进一步地，所述屏蔽衰减测试匹配电阻安装装置还包括内壁具有内螺纹结构的固定环；所述绝缘筒长度方向上设置有多个镂空通道，多个所述镂空通道在所述绝缘筒的周向上间隔设置，所述镂空通道自所述绝缘筒长度方向的中部起始而贯穿出所述第二开口处，所述绝缘筒的外周上对应所述镂空通道的位置处设置有外螺纹结构，所述外螺纹结构
与所述内螺纹结构形成匹配，所述固定环内壁直径在其长度方向上渐缩。
[0016]进一步地，所述绝缘筒在所述第一开口一端的内壁在径向上具有多个台阶圈。
[0017]进一步地，所述缆芯导电环与所述屏蔽层导电件的材质均为铜。
[0018]本技术提供的屏蔽衰减测试匹配电阻安装装置，通过屏蔽衰减测试匹配电阻安装装置套设于待测电缆后，通过缆芯导电环以及屏蔽层导电件的过渡作用，将贴片电阻的焊接难度简化，将人为操作的失误情况降低。
附图说明
[0019]图1是待测电缆的示意图；
[0020]图2是本技术第一个实施例屏蔽衰减测试匹配电阻安装装置的使用示意图；
[0021]图3是本技术第一个实施例屏蔽衰减测试匹配电阻安装装置的使用示意图(纵剖面)；
[0022]图4是本技术第二个实施例屏蔽衰减测试匹配电阻安装装置的使用示意图(纵剖面)；
[0023]图5是图4的示意图；
[0024]图6是本技术第三个实施例屏蔽衰减测试匹配电阻安装装置的使用示意图；
[0025]图7是本技术第三个实施例屏蔽衰减测试匹配电阻安装装置的使用示意图(纵剖面)。
[0026]本技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0027]应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
[0028]本
技术人员可以理解，除非特意声明，这里使用的单数形式“一”、“一个”、“所述”“上述”和“该”也可包括复数形式。应该进一步理解的是，本技术的说明书中使用的措辞“包括”是指存在所述特征、整数、步骤、操作、元件、单元、模块和/或组件，但是并不排除存在或添加一个或多个其他特征、整数、步骤、操作、元件、单元、模块、组件和/或它们的组。应该理解，当我们称元件被“连接”或“耦接”到另一元件时，它可以直接连接或耦接到其他元件，或者也可以存在中间元件。此外，这里使用的“连接”或“耦接”可以包括无线连接或无线耦接。这里使用的措辞“和/或”包括一个或更多个相关联的列出项的全部或任一单元和全部组合。
[0029]本
技术人员可以理解，除非另外定义，这里使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)，具有与本技术所属领域中的普通技术人员的一般理解相同的意义。还应该理解的是，诸如通用字典中定义的那些术语，应该被理解为具有与现有技术的上下文中的意义一致的意义，并且除非像这里一样被特定定义，否则不会用理想化或过于正式的含义来解释。
[0030]参照图1至7，本技术一实施例中，一种屏蔽衰减测试匹配电阻安装装置，包括：
[0031]绝缘筒300，长度方向的两端分别为第一开口和第二开口；
[0032]缆芯导电环400，呈环状且轴心位置处为第一通孔410，所述缆芯导电环400可拆卸地连接于所述第一开口，其中，所述缆芯导电环400具有导电性；
[0033]屏蔽层导电件500，可拆卸地连接于所述第二开口位置处，所述屏蔽层导电件500近所述第一开口的自由端与所述缆芯导电环400为设置有间隙510，其中，所述屏蔽层导电件500具有导电性。
[0034]现有技术中，在对电缆的屏蔽衰减测试过程中常采用匹配短路法。而在匹配短路法的测试过程中，使用相关测试装置前，需要完成制样过程。在一个电性的制样过程中，截取45厘米左右长度的待测电缆100；剥去一端的保护套130(约4.5厘米)露出电缆主体120，电缆主体120的最外层为屏蔽层121；分离出待测电缆100中部的缆芯110的导体；准备与待测电缆100阻抗值尽量相等的贴片电阻(误差最好不要超过待测电缆100阻抗值的正负百分之十)；将贴片电阻的两端分别焊接于导体和屏蔽层121。目前匹配短路法的制样过程中，贴片电阻的焊接难度较大，且非常容易形成操作不良，非常依赖操作人员的个人技术水平。
[0035]在本技术中，待测电缆100包括中部的缆芯110，而将保护套130剥去后为电缆主体120，电缆主体120的最外层为屏蔽层121。绝缘筒300可以为陶瓷材料或者聚合物材料等，甚至内圈为聚合物圈，外圈为陶瓷材料(从而内圈用于提升固定效果，外圈用于实现耐高温效果)。绝缘筒300长度方向的两端分别为第一开口本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种屏蔽衰减测试匹配电阻安装装置，其特征在于，包括：绝缘筒(300)，长度方向的两端分别为第一开口和第二开口；缆芯导电环(400)，呈环状且轴心位置处为第一通孔(410)，所述缆芯导电环(400)可拆卸地连接于所述第一开口，其中，所述缆芯导电环(400)具有导电性；屏蔽层导电件(500)，可拆卸地连接于所述第二开口位置处，所述屏蔽层导电件(500)近所述第一开口的自由端与所述缆芯导电环(400)为设置有间隙(510)，其中，所述屏蔽层导电件(500)具有导电性。2.根据权利要求1所述的屏蔽衰减测试匹配电阻安装装置，其特征在于，所述屏蔽层导电件(500)的外侧壁与所述缆芯导电环(400)的外侧壁分别设置有第一凹槽和第二凹槽。3.根据权利要求1所述的屏蔽衰减测试匹配电阻安装装置，其特征在于，所述第一通孔(410)面向所述屏蔽层导电件(500)的一侧具有第一倒角结构。4.根据权利要求3所述的屏蔽衰减测试匹配电阻安装装置，其特征在于，所述第一通孔(410)背离所述屏蔽层导电件(500)的一侧具有第二倒角结构。5.根据权利要求1所述的屏蔽衰减测试匹配电阻安装装置，其特征在于，所述屏蔽层导电件(500)呈筒圈状结构，且套设于所述绝缘筒(300)的外周。6.根据权利要求1所述的屏蔽衰减测试匹...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢钟铮，帅平跃，任彦峰，戴印丽，秦瑞攀，钱甜甜，万吴剑，王志鹏，楼余超，
申请(专利权)人：浙江天杰实业股份有限公司，
类型：新型
国别省市：