一种电源产品的压敏电阻过载测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种电源产品的压敏电阻过载测试装置，该装置包括：可调交流电源和多个测试电阻单元；可调交流电源与市电电网连接，在可调交流电源和电源产品之间并联了多个测试电阻单元；其中，测试电阻单元包括测试电阻、开关三极管、光耦和双向可控硅，测试电阻连接在可调交流电源和双向可控硅之间，双向可控硅还与电源产品连接，开关三极管的发射极与预设直流电源连接，开关三极管的集电极与光耦连接，开关三极管的基级用于接收低电平信号，光耦的输出端连接在双向可控硅主电极的两端，双向可控硅的门级和光耦的第一输出端连接。本实用新型专利技术提供的装置，能够适用于交流电路中的电阻快速切换，提高了包含压敏电阻器电源产品的测试效率。测试效率。测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种电源产品的压敏电阻过载测试装置


[0001]本技术涉及电源测试领域，具体涉及一种电源产品的压敏电阻过载测试装置。

技术介绍

[0002]随着国家标准GB4943最新版本2022版的颁布，对于电源类产品增加了一些新的测试，如果电源类产品带有压敏电阻器，针对此项GB4943标准新增了一项压敏电阻器的过载测试，该项测试中需要调节一个测试电阻Rx来进行测试，如图1所示，测试要求将测试电阻Rx串联连接在交流电源和电源产品之间，如果电源产品的额定电压是Vr，交流电源的电压需要设定为2
×
Vr，然后依次按照Rx＝16
×
Vr、Rx＝8
×
Vr、Rx＝4
×
Vr、Rx＝2
×
Vr
…
的规律调节测试电阻Rx的大小，对电源产品进行过载测试。
[0003]目前，对于这项测试常用的方法是手动更换测试电阻Rx，但是手动更换需要准备很多不同电阻值的电阻，并且更换一个电阻值需要的时间也比较长，严重影响测试效率。另一方面，由于测试电阻Rx需要串联在交流电网中，要求该电阻具有很大的额定功率，目前市场上的可编程电阻箱虽然可以调整多种阻值的电阻，但是市场上的可编程电阻箱都是工作在直流电路里，其额定功率很小，并不能适用于本项测试。所以，目前亟需一种新的针对电源产品的压敏电阻过载测试装置，以提高测试效率。

技术实现思路

[0004]鉴于此，本技术提供了一种电源产品的压敏电阻过载测试装置，能够适用于交流电路中的电阻切换，提高了包含压敏电阻器电源产品的测试效率。
[0005]本技术实施例提供了一种电源产品的压敏电阻过载测试装置，所述装置包括：可调交流电源和多个测试电阻单元；所述可调交流电源的交流输入端与市电电网连接，所述可调交流电源的第一交流输出端以并联的方式分别与各个测试电阻单元的输入端连接，各个测试电阻单元的输出端均与电源产品的第一输入端连接，所述可调交流电源的第二交流输出端与所述电源产品的第二输入端连接；其中，所述测试电阻单元包括测试电阻、开关三极管、光耦和双向可控硅，所述测试电阻的第一端与所述可调交流电源的第一交流输出端连接，所述测试电阻的第二端与所述双向可控硅的第一主电极连接，所述双向可控硅的第二主电极与所述电源产品的第一输入端连接，所述开关三极管的发射极与预设直流电源连接，所述开关三极管的集电极与光耦的第一输入端连接，所述开关三极管的基级用于接收低电平信号，所述光耦的第二输入端与大地连接，所述光耦的第一输出端与所述测试电阻的第二端连接，所述光耦的第二输出端与所述电源产品的第一输入端连接，所述双向可控硅的门级和所述光耦的第一输出端连接。
[0006]可选地，所述测试电阻单元还包括吸收电阻和吸收电容，所述吸收电阻的第一端与所述双向可控硅的第一主电极连接，所述吸收电阻的第二端与所述吸收电容的第一端连接，所述吸收电容的第二端与所述双向可控硅的第二主电极连接，所述吸收电阻和吸收电
容用于吸收双向可控硅关断时产生的电压尖峰。
[0007]可选地，所述装置还包括应急开关，所述应急开关的一端与所述可调交流电源的第一交流输出端连接，所述应急开关的另一端以并联的方式分别与各个测试电阻单元的输入端连接。
[0008]可选地，所述装置还包括调节模块和通信模块，所述调节模块分别与所述可调交流电源和所述通信模块通信连接，所述通信模块包括多个输出引脚，所述通信模块的各个输出引脚与各个测试电阻单元中开关三极管的基级一一对应连接，所述调节模块用于调节所述可调交流电源的电压，所述调节模块还用于通过所述通信模块的输出引脚向各个测试电阻单元中开关三极管的基级发出低电平信号。
[0009]可选地，所述装置包括测试电阻为3.52kΩ的测试电阻单元、测试电阻为3.68kΩ的测试电阻单元和测试电阻为3.84kΩ的测试电阻单元。
[0010]可选地，所述装置包括6个测试电阻单元，其中包括两个测试电阻为3.52kΩ的测试电阻单元、两个测试电阻为3.68kΩ的测试电阻单元和两个测试电阻为3.84kΩ的测试电阻单元。
[0011]可选地，所述通信模块包括微控制单元和I/O扩展芯片，所述微控制单元与所述调节模块通信连接，所述微控制单元与所述I/O扩展芯片通过I2C协议通信连接，所述I/O扩展芯片的多个输出引脚与各个测试电阻单元中开关三极管的基级一一对应连接。
[0012]可选地，所述微控制单元与所述调节模块通过USB接口通信连接。
[0013]可选地，所述微控制单元的型号为8051。
[0014]可选地，所述光耦的第一输入端、第一输出端和第二输出端上还连有均衡电阻，所述均衡电阻用于限制流过所述光耦的电流。
[0015]本技术提供的技术方案，具有如下技术效果：
[0016]本技术提供电源产品的压敏电阻过载测试装置，通过双向可控硅部署了测试电阻单元，从而将大功率测试电阻串联在交流电路里，解决了测试电阻额定功率的问题。同时可调交流电源和电源产品之间并联了多个测试电阻单元。每个测试电阻单元通过开关三极管的基级接收低电平信号，从而导通光耦，进而导通双向可控硅，将测试电阻单元中的测试电阻串联在可调交流电源和电源产品之间。当用户需要执行多种不同电阻的测试时，一方面可以将每个测试电阻单元中的测试电阻配置为不同大小，按照测试电阻的要求，先对可调交流电源的电压进行调整，然后只需依次给每个测试电阻单元提供低电平信号即可实现测试电阻的快速切换；另一方面，可以给若干测试电阻单元同时提供低电平信号，使其中的多个测试电阻并联，并联的得到的总电阻值相当于在可调交流电源和电源产品之间串联新的电阻，从而通过不同测试电阻单元之间的并联配合，基于有限的测试电阻能够生成大量新电阻值，在较少的硬件需求条件下能够实现较大的测试范围，降低了测试装置的制作成本。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性
劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0018]图1示出了现有技术中的压敏电阻测试的结构示意图；
[0019]图2示出了本技术实施例中的一种电源产品的压敏电阻过载测试装置的结构示意图；
[0020]图3示出了本技术实施例中的测试电阻单元的结构示意图。
[0021]图4示出了本技术实施例中的一种电源产品的压敏电阻过载测试装置的另一个结构示意图；
[0022]图5示出了本技术实施例中的一种电源产品的压敏电阻过载测试装置的另一个结构示意图；
[0023]图6示出了本技术实施例中的通信模块的结构示意图。
具体实施方式
[0024]为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电源产品的压敏电阻过载测试装置，其特征在于，所述装置包括：可调交流电源和多个测试电阻单元；所述可调交流电源的交流输入端与市电电网连接，所述可调交流电源的第一交流输出端以并联的方式分别与各个测试电阻单元的输入端连接，各个测试电阻单元的输出端均与电源产品的第一输入端连接，所述可调交流电源的第二交流输出端与所述电源产品的第二输入端连接；其中，所述测试电阻单元包括测试电阻、开关三极管、光耦和双向可控硅，所述测试电阻的第一端与所述可调交流电源的第一交流输出端连接，所述测试电阻的第二端与所述双向可控硅的第一主电极连接，所述双向可控硅的第二主电极与所述电源产品的第一输入端连接，所述开关三极管的发射极与预设直流电源连接，所述开关三极管的集电极与光耦的第一输入端连接，所述开关三极管的基级用于接收低电平信号，所述光耦的第二输入端与大地连接，所述光耦的第一输出端与所述测试电阻的第二端连接，所述光耦的第二输出端与所述电源产品的第一输入端连接，所述双向可控硅的门级和所述光耦的第一输出端连接。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述测试电阻单元还包括吸收电阻和吸收电容，所述吸收电阻的第一端与所述双向可控硅的第一主电极连接，所述吸收电阻的第二端与所述吸收电容的第一端连接，所述吸收电容的第二端与所述双向可控硅的第二主电极连接，所述吸收电阻和吸收电容用于吸收双向可控硅关断时产生的电压尖峰。3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置还包括应急开关，所述应急开关的一端与所述可调交流电源的第一交流输出端连接，所述应急开关的另一端以并联的方式分别与各个测试电阻单元的输...

【专利技术属性】
技术研发人员：李秀全，谢雅娑，孔繁博，
申请(专利权)人：紫光计算机科技有限公司，
类型：新型
国别省市：