一种用于芯片老化测试的芯片摆盘设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于芯片老化测试的芯片摆盘设备，包括操作台，所述操作台的上端面嵌合安装有传送装置，所述操作台上开设有供传送装置安装的槽，所述传送装置包括传送带，所述传送带的外缘面设置有多个第一L形板，多个所述第一L形板的一侧均设置有相互配合的第二L形板，所述第一L形板和所述第二L形板组成一个夹持装置，所述传送带由第一圆轴和第二圆轴张紧，所述第一圆轴与所述操作台的内部旋转连接，所述第二圆轴的一端与所述操作台旋转连接，所述第二圆轴的另一端安装有旋转电机，该用于芯片老化测试的芯片摆盘设备，降低了人工操作的难度，提高了芯片老化检测的效率；且便于将检测后的芯片进行分类。便于将检测后的芯片进行分类。便于将检测后的芯片进行分类。

【技术实现步骤摘要】
一种用于芯片老化测试的芯片摆盘设备


[0001]本技术属于芯片老化测试摆盘
，具体涉及一种用于芯片老化测试的芯片摆盘设备。

技术介绍

[0002]随着半导体技术的快速发展和芯片复杂度的逐年提高，芯片测试已贯穿于整个设计研发与生产过程，并越来越具有挑战性。其中老化测试是芯片在交付客户使用之前用以剔除早期失效产品的一项重要测试。通常对芯片进行老化测试都需要先将每块待测试芯片放置于老化测试治具板的测试座内，再将装夹好芯片的老化测试治具板放入老化测试设备内进行老化测试
[0003]现有的用于芯片老化测试的芯片摆盘设备，通常是人工将芯片逐个嵌合在老化测试槽内进行检测，从而导致芯片的老化测试效率低，且增大了人工成本。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种用于芯片老化测试的芯片摆盘设备，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案为：
[0006]一种用于芯片老化测试的芯片摆盘设备，包括操作台，所述操作台的上端面嵌合安装有传送装置，所述操作台上开设有供传送装置安装的槽，所述传送装置包括传送带，所述传送带的外缘面设置有多个第一L形板，多个所述第一L形板的一侧均设置有相互配合的第二L形板，所述第一L形板和所述第二L形板组成一个夹持装置，便于快捷夹持芯片。
[0007]进一步地，所述传送带由第一圆轴和第二圆轴张紧，所述第一圆轴与所述操作台的内部旋转连接，所述第二圆轴的一端与所述操作台旋转连接，所述第二圆轴的另一端安装有旋转电机，所述操作台上开设有供旋转电机嵌合安装的凹槽，用于带动芯片移动。
[0008]进一步地，所述操作台的上端面中部安装有U形板，所述U形板的内部安装有朝向传送装置的检测装置，用于对芯片进行老化检测。
[0009]进一步地，所述操作台的侧面安装有控制旋转电机和检测装置工作的控制面板，所述控制面板上安装有两个开关，用于控制芯片的移动和检测。
[0010]进一步地，所述操作台的上端面在传送装置的两侧分别嵌合插接安装有第一收纳箱和第二收纳箱，所述第一收纳箱和所述第二收纳箱分别用于收纳区分检测后的芯片，用于收纳检测后的芯片。
[0011]与现有技术相比，本技术具有如下有益效果：通过嵌合入操作台的传送装置，由传送带上安装的多个由第一L形板和第二L形板组成的夹持装置固定芯片，然后通过控制传送带的输送频率以及距离，使得每一次传送带停下都有芯片正对检测装置，代替了人工逐个将芯片放置在检测槽内检测，提高了测试的效率，且降低了人工的成本；通过设置的第一收纳箱和第二收纳箱可以快捷区分合格的芯片以及不合格的芯片，较为方便。
附图说明
[0012]图1为本技术的结构示意图；
[0013]图2为本技术图1中A处结构的放大示意图；
[0014]图3为本技术图2中传送装置的剖视图。
[0015]图中：1、操作台；101、凹槽；102、控制面板；2、传送装置；201、传送带；202、第一圆轴；203、第二圆轴；204、旋转电机；3、第一L形板；301、第二L形板；4、U形板；401、检测装置；5、第一收纳箱；501、第二收纳箱。
具体实施方式
[0016]为使本技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本技术。
[0017]如图1
‑
3所示，一种用于芯片老化测试的芯片摆盘设备，包括操作台1，操作台1的上端面嵌合安装有传送装置2，操作台1上开设有供传送装置2安装的槽，传送装置2包括传送带201，传送带201的外缘面设置有多个第一L形板3，多个第一L形板3的一侧均设置有相互配合的第二L形板301，第一L形板3和第二L形板301组成一个夹持装置，具体实施时，由第一L形板3和第二L形板301组成的夹持装置，两个方向都可以取下芯片。
[0018]其中，传送带201由第一圆轴202和第二圆轴203张紧，第一圆轴202与操作台1的内部旋转连接，第二圆轴203的一端与操作台1旋转连接，第二圆轴203的另一端安装有旋转电机204，操作台1上开设有供旋转电机204嵌合安装的凹槽101。
[0019]其中，操作台1的上端面中部安装有U形板4，U形板4的内部安装有朝向传送装置2的检测装置401，具体实施时，检测装置401可用型号为SWA512的检测设备，但不限于此，使用者可视情况自行选配。
[0020]其中，操作台1的侧面安装有控制旋转电机204和检测装置401工作的控制面板102，控制面板102上安装有两个开关，具体实施时，控制面板102内安装有编写好控制旋转电机204和检测装置401的程序。
[0021]其中，操作台1的上端面在传送装置2的两侧分别嵌合插接安装有第一收纳箱5和第二收纳箱501，第一收纳箱5和第二收纳箱501分别用于收纳区分检测后的芯片。
[0022]工作原理：该用于芯片老化测试的芯片摆盘设备，使用时，将芯片塞在第一L形板3和第二L形板301之间，然后按动控制面板102上的开关，将芯片输送至检测装置401正下方，然后通过控制面板102控制检测装置401对芯片进行检测，检测完毕后根据检测情况选择芯片放置在第一收纳箱5或者第二收纳箱501内，输送芯片时，由控制面板102控制旋转电机204转动，然后由旋转电机204带动第二圆轴203转动，从而达到传送带201转动的目的。
[0023]以上显示和描述了本技术的基本原理和主要特征和本技术的优点。本行业的技术人员应该了解，本技术不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本技术的原理，在不脱离本技术精神和范围的前提下，本技术还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本技术范围内。本技术要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于芯片老化测试的芯片摆盘设备，包括操作台(1)，其特征在于：所述操作台(1)的上端面嵌合安装有传送装置(2)，所述操作台(1)上开设有供传送装置(2)安装的槽，所述传送装置(2)包括传送带(201)，所述传送带(201)的外缘面设置有多个第一L形板(3)，多个所述第一L形板(3)的一侧均设置有相互配合的第二L形板(301)，所述第一L形板(3)和所述第二L形板(301)组成一个夹持装置。2.根据权利要求1所述的一种用于芯片老化测试的芯片摆盘设备，其特征在于：所述传送带(201)由第一圆轴(202)和第二圆轴(203)张紧，所述第一圆轴(202)与所述操作台(1)的内部旋转连接，所述第二圆轴(203)的一端与所述操作台(1)旋转连接，所述第二圆轴(203)的另一端安装有旋转电机(204)，所述操作台(...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯涛，
申请(专利权)人：天津亿鑫盛达科技发展有限公司，
类型：新型
国别省市：