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本实用新型公开了一种用于芯片老化测试的芯片摆盘设备，包括操作台，所述操作台的上端面嵌合安装有传送装置，所述操作台上开设有供传送装置安装的槽，所述传送装置包括传送带，所述传送带的外缘面设置有多个第一L形板，多个所述第一L形板的一侧均设置有相互...
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