一种芯片的回归测试方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种芯片的回归测试方法、装置、设备及介质。包括：获取各测试用例，并将测试用例划分为多个初始测试分组；在测试进程中对各初始测试分组进行测试，获取初始测试分组中各测试用例的初始测试信息，并将测试用例划分为多个测试用例组；在指定的时间节点下，在目标测试用例组中确定当前测试分组，并在测试进程中对当前测试分组进行测试，获取当前测试分组中各测试用例的当前测试信息；根据当前测试信息实时更新各测试用例组，并在下一个指定的时间节点下，根据更新后的测试用例组确定当前测试分组并进行测试，直至全部测试用例均满足测试完成条件，结束测试进程。采用上述技术方案，能够将测试用例合理分组，提高测试效率，节约成本。节约成本。节约成本。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片的回归测试方法、装置、设备及介质


[0001]本专利技术涉及芯片测试
，尤其涉及一种芯片的回归测试方法、装置、设备及介质。

技术介绍

[0002]在芯片设计的全流程中，仿真验证是保证芯片交付质量不可或缺的一个基本环节，而在仿真验证过程中，回归测试是必备的重要手段。回归测试需要在一轮测试周期内执行全部的测试用例，用户需要在测试之后对失败的测试用例进行分析，并完成调试修复，再启动新一轮的测试周期，通过多轮次反复迭代测试以确保不会再发现新的问题。
[0003]然而，随着芯片设计的规模和复杂度不断提高，测试用例数量往往是成倍数的增加，待测用例数量远超实际一次可执行用例的并发量，必须分成多批次执行，而不同用例需要的仿真时间不同，这就导致若要充分利用计算资源需要投入大量的维护成本，且不同测试用例面对的设计潜在风险有所不同，其中风险较大的设计点往往需要经过多轮的回归测试才能完全暴露问题，这就导致回归测试需要更长的时间才能达到收敛的目标。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供了一种芯片的回归测试方法、装置、设备及介质，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片的回归测试方法，其特征在于，包括：获取各测试用例，并根据各测试用例的标准计算资源以及测试进程的总计算资源，将测试用例划分为多个初始测试分组；在测试进程中对各初始测试分组进行测试，获取初始测试分组中各测试用例的初始测试信息，并根据所述初始测试信息，将测试用例划分为多个测试用例组；在指定的时间节点下，根据测试进程的当前剩余计算资源，在目标测试用例组中确定当前测试分组，并在测试进程中对当前测试分组进行测试，获取当前测试分组中各测试用例的当前测试信息；根据当前测试信息实时更新各测试用例组，并在下一个指定的时间节点下，根据更新后的测试用例组确定当前测试分组并进行测试，直至全部测试用例均满足测试完成条件，结束测试进程。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据各测试用例的标准计算资源以及测试进程的总计算资源，将测试用例划分为多个初始测试分组，包括：根据各测试用例的标准计算资源，向分组中逐个添加测试用例，并实时检测分组的总计算资源；当分组的总计算资源大于预设的第一计算资源阈值，并且小于测试进程的总计算资源时，将该分组确定为一个初始测试分组。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，测试信息包括测试结果、实际计算资源以及实际执行时间；其中，根据所述初始测试信息，将测试用例划分为多个测试用例组，包括：获取各测试用例的初始测试信息中的测试结果，并根据初始测试信息中的测试结果，更改各测试用例的优先级；根据各测试用例的优先级，将优先级相同的各测试用例划分在同一测试用例组中。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在指定的时间节点下，根据测试进程的当前剩余计算资源，在目标测试用例组中确定当前测试分组，包括：在指定的时间节点下，根据各测试用例组的优先级，在多个测试用例组中确定目标测试用例组；获取目标测试用例组中各测试用例的实际执行时间，根据各测试用例的实际执行时间，在目标测试用例组中确定多个备选测试用例；根据测试进程的当前剩余计算资源以及各备选测试用例的实际计算资源，向分组中逐个添加备选测试用例，并实时检测分组的总计算资源；当分组的总计算资源大于预设的第二计算资源阈值，并且小于测试进程的当前剩余计算资源时，将该分组确定为当前测试分组。5.根据权利要求1
‑
4任一项所述的方法，其特征在于，还包括：当根据测试信息确定目标测试分组中存在...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐伟杰，陆宇悦，金鑫，
申请(专利权)人：上海燧原科技有限公司，
类型：发明
国别省市：