一种原型验证平台的电路结构制造技术

本实用新型专利技术提供一种原型验证平台的电路结构，包括：第一FPGA芯片、闪存芯片以及第二FPGA芯片；第一FPGA芯片的测试数据串行输入引脚与所述闪存芯片的测试数据串行输出引脚连接；第二FPGA芯片的测试数据串行输出引脚与闪存芯片的测试数据串行输入引脚连接；第一FPGA芯片的测试模式选择引脚、闪存芯片的测试模式选择引脚以及第二FPGA芯片的测试模式选择引脚均与测试模式选择信号线电连接；第一FPGA芯片的测试时钟引脚、闪存芯片的测试时钟引脚以及第二FPGA芯片的测试时钟引脚均与测试时钟信号线电连接；与第一FPGA芯片电连接的至少两个JTAG接口，第一JTAG接口接收硬件电路配置信息，第二JTAG接口接收软件代码调试信号。本实用新型专利技术可以加快芯片开发速度，提高流片成功率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
一种原型验证平台的电路结构


[0001]本技术涉及集成电路
，特别是指一种原型验证平台的电路结构。

技术介绍

[0002]随着芯片设计规模的增大，芯片的功能日趋复杂，芯片的验证阶段占据了整个芯片开发的大部分时间。为了缩短验证时间，在传统的仿真验证的基础上涌现了许多新的验证手段，FPGA(现场可编程门阵列)的原型验证为芯片的原型验证提供了巨大的发挥空间，然而面对复杂的芯片系统，传统的验证方法和单一的验证技术已经不能满足设计的要求。

技术实现思路

[0003]本技术要解决的技术问题是提供一种原型验证平台的电路结构，可以加快芯片开发速度，提高流片成功率。
[0004]为解决上述技术问题，本技术的技术方案如下：
[0005]一种原型验证平台的电路结构，包括：第一现场可编程门阵列FPGA芯片、闪存芯片以及第二FPGA芯片；
[0006]第一FPGA芯片的测试数据串行输入引脚与所述闪存芯片的测试数据串行输出引脚电连接；
[0007]所述第二FPGA芯片的测试数据串行输出引脚与所述闪存芯片的测试数据串行输入引本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种原型验证平台的电路结构，其特征在于，包括：第一现场可编程门阵列FPGA芯片、闪存芯片以及第二FPGA芯片；第一FPGA芯片的测试数据串行输入引脚与所述闪存芯片的测试数据串行输出引脚电连接；所述第二FPGA芯片的测试数据串行输出引脚与所述闪存芯片的测试数据串行输入引脚电连接；所述第一FPGA芯片的测试模式选择引脚、闪存芯片的测试模式选择引脚以及第二FPGA芯片的测试模式选择引脚均与测试模式选择信号线电连接；所述第一FPGA芯片的测试时钟引脚、闪存芯片的测试时钟引脚以及第二FPGA芯片的测试时钟引脚均与测试时钟信号线电连接；与所述第一FPGA芯片电连接的至少两个联合测试行动小组接口JTAG接口，至少两个JTAG接口中的第一JTAG接口用于接收上位机发送的验证芯片的硬件电路配置信息，至少两个JTAG接口中的第二JTAG接口用于接收上位机发送的验证芯片的软件代码调试信号。2.根据权利要求1所述的原型验证平台的电路结构，其特征在于，所述第一FPGA芯片的数据输出引脚与数据信号输出线电连接，所述第一FPGA芯片的时钟引脚与所述第二FPGA芯片的时钟引脚电连接，且均与系统时钟信号线电连接。3.根据权利要求2所述的原型验证平台的电路结构，其特征在于，所述第二FPGA芯片的时钟引脚与所述闪存芯片的时钟引脚电连接，所述闪存芯片的时钟引脚与所述系统时钟信号线电连接。4.根据权利要求3所述的原型验证平台的电路结构，其特征在于，所述第二FPGA芯片的数据输入引脚与所述闪存芯片的数据输出引脚电连接，所述第二FPGA芯片的数据输出引脚与所述第一FPGA芯片的数据输入引脚电连接。5.根据权利要求4所述的原型验证平台的电路结构，其特征在于，所述第一FPG...

【专利技术属性】
技术研发人员：李俊华，李银斯，
申请(专利权)人：北京汤谷软件技术有限公司，
类型：新型
国别省市：