芯片的检测方法、装置、芯片、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本申请公开了一种芯片的检测方法、装置、芯片、电子设备及存储介质，该方法包括：依次对第一级别中的至少一个第一检测对象进行第一数据配置，并对第一检测对象对应的第一模型进行第一数据配置；确定每个第一检测对象针对检测数据响应后得到的第一响应数据，以及第一模型对检测数据响应后得到的第二响应数据；将所有的第一响应数据均与对应的第二响应数据进行对比，基于对比结果确定第一检测对象是否符合第一级别要求；在确定第一检测对象符合第一级别要求的情况下，针对所有的第一检测对象和/或第二级别中的至少一个第二检测对象进行第二级别检测，以实现多级别检测操作。该方法能够提高检测效率和检测的准确性。能够提高检测效率和检测的准确性。能够提高检测效率和检测的准确性。

【技术实现步骤摘要】
芯片的检测方法、装置、芯片、电子设备及存储介质


[0001]本申请涉及芯片设计、测试以及生产领域，特别涉及一种芯片的检测方法、装置、芯片、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]在对芯片的检测过程中，需要对芯片中的多个级别进行检测，但在实际检测过程中，多个级别的检测相互之间协调性较差，使得在对多个级别的多个模块进行配置时可能会出现逻辑关系不清楚现象，导致检测过程费时费力。例如，芯片中的IP级别检测完ISP模块后，可能会直接进行跨级别的soc级别检测，这会出现由于逻辑混乱或配置复用而导致的对芯片的测试效率较为低下的问题。

技术实现思路

[0003]本申请实施例的目的在于提供一种芯片的检测方法、装置、芯片、电子设备及存储介质，该方法能够在提高检测效率的同时有效的提高检测的准确性。
[0004]为了实现上述目的，本申请实施例提供了一种芯片的检测方法，包括：
[0005]依次对第一级别中的至少一个第一检测对象进行第一数据配置，并对所述第一检测对象对应的第一模型进行所述第一数据配置；
[0006]确定每个所述第一检测对象针对检测数据响应后得到的第一响应数据，以及所述第一模型对所述检测数据响应后得到的第二响应数据；
[0007]将所有的所述第一响应数据均与对应的所述第二响应数据进行对比，基于对比结果确定所述第一检测对象是否符合第一级别要求；
[0008]在确定所述第一检测对象符合所述第一级别要求的情况下，针对所有的第一检测对象和/或第二级别中的至少一个第二检测对象进行第二级别检测，以实现针对检测对象集合的一个多级别检测操作，其中，所述第二级别对应的检测范围包括所述第一级别对应的检测范围，所述检测对象集合包括所述第一检测对象，以及与所述第一检测对象相关联的所述第二检测对象。
[0009]作为可选，所述方法还包括：
[0010]在对所述检测对象集合进行其他级别检测的情况下，针对所述检测对象集合重复所述多级别检测操作。
[0011]作为可选，所述依次对第一级别中的至少一个第一检测对象进行第一数据配置，并对所述第一检测对象对应的第一模型进行所述第一数据配置，包括：
[0012]基于接收所述检测数据的先后顺序，确定针对多个所述第一检测对象的检测顺序；
[0013]基于所述检测顺序，依次对所述第一检测对象进行所述第一数据配置，并对所述第一模型进行所述第一数据配置。
[0014]作为可选，所述将所有的所述第一响应数据均与对应的所述第二响应数据进行对
比，基于对比结果确定所述第一检测对象是否符合第一级别要求，包括：
[0015]基于所述检测顺序，依次对每组中的所述第一响应数据与所述第二响应数据进行对比；
[0016]在前一对比结果符合要求的情况下，确定后一对比结果。
[0017]作为可选，所述针对所有的第一检测对象和/或第二级别中的至少一个第二检测对象进行第二级别检测，包括：
[0018]对所述第一级别中的所有所述第一检测对象均进行第二数据配置，并对所述第二级别对应的第二模型进行第二数据配置；
[0019]确定所有所述第一检测对象针对所述检测数据响应后得到的第三响应数据，以及第二模型对所述检测数据响应后得到的第四响应数据；
[0020]将所有的所述第三响应数据均与对应的所述第四响应数据进行对比，基于对比结果确定所述第一检测对象和/或所述第二检测对象是否符合第二级别要求。
[0021]作为可选，所述方法还包括：
[0022]在进行末轮级别检测操作时，将所述末轮级别检测操作的检测结果存储在片上存储空间中。
[0023]作为可选，其中，所述多级别检测操作包括以下至少一种：电路功能模块级别的检测、子系统级别的检测以及片上操作系统级别的检测。
[0024]本申请实施例还提供了一种芯片的检测装置，包括：
[0025]配置模块，其配置为依次对第一级别中的至少一个第一检测对象进行第一数据配置，并对所述第一检测对象对应的第一模型进行所述第一数据配置；
[0026]确定模块，其配置为确定每个所述第一检测对象针对检测数据响应后得到的第一响应数据，以及所述第一模型对所述检测数据响应后得到的第二响应数据；
[0027]检测模块，其配置为将所有的所述第一响应数据均与对应的所述第二响应数据进行对比，基于对比结果确定所述第一检测对象是否符合第一级别要求；
[0028]在确定所述第一检测对象符合所述第一级别要求的情况下，针对所有的第一检测对象和/或第二级别中的至少一个第二检测对象进行第二级别检测，以实现针对检测对象集合的一个多级别检测操作，其中，所述第二级别对应的检测范围包括所述第一级别对应的检测范围，所述检测对象集合包括所述第一检测对象，以及与所述第一检测对象相关联的所述第二检测对象。
[0029]本申请实施例还提供了一种芯片，所述芯片上集成有如上所述的芯片的检测装置。
[0030]本申请实施例还提供了一种电子设备，包括处理器和存储器，所述存储器中存储有可执行程序，所述存储器执行所述可执行程序以进行如上所述的方法的步骤。
[0031]本申请实施例还提供了一种存储介质，所述存储介质承载有一个或者多个计算机程序，所述一个或者多个计算机程序被处理器执行时实现如上所述方法的步骤。
[0032]本申请实施例的有益效果在于：该检测方法能够实现对芯片中各个模块(检测对象)进行多级别的检测，其中包括按照递进检测的方式对各个模块进行低级别的检测，在低级别检测结果的基础上再对各个模块进行至少一个高级别的检测。从而在提高检测效率的同时有效的提高了检测的准确性。
附图说明
[0033]图1为本申请实施例的芯片的检测方法的流程图；
[0034]图2为本申请实施例的图1中步骤S100的一个实施例的流程图；
[0035]图3为本申请实施例的图1中步骤S300的一个实施例的流程图；
[0036]图4为本申请实施例的图1中步骤S400的一个实施例的流程图；
[0037]图5为本申请实施例的检测方法的一个具体实施例的流程图；
[0038]图6为本申请实施例的多级别检测操作中各模块之间的逻辑关系示意图；
[0039]图7为本申请实施例的芯片的检测装置的结构框图；
[0040]图8为本申请实施例的电子设备的结构框图。
具体实施方式
[0041]此处参考附图描述本申请的各种方案以及特征。
[0042]应理解的是，可以对此处申请的实施例做出各种修改。因此，上述说明书不应该视为限制，而仅是作为实施例的范例。本领域的技术人员将想到在本申请的范围和精神内的其他修改。
[0043]包含在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本申请的实施例，并且与上面给出的对本申请的大致描述以及下面给出的对实施例的详细描述一起用于解释本申请的原理。
[0044]通过下面参照附图对给定为非限制性实例的实施例的优本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片的检测方法，其特征在于，包括：依次对第一级别中的至少一个第一检测对象进行第一数据配置，并对所述第一检测对象对应的第一模型进行所述第一数据配置；确定每个所述第一检测对象针对检测数据响应后得到的第一响应数据，以及所述第一模型对所述检测数据响应后得到的第二响应数据；将所有的所述第一响应数据均与对应的所述第二响应数据进行对比，基于对比结果确定所述第一检测对象是否符合第一级别要求；在确定所述第一检测对象符合所述第一级别要求的情况下，针对所有的第一检测对象和/或第二级别中的至少一个第二检测对象进行第二级别检测，以实现针对检测对象集合的一个多级别检测操作，其中，所述第二级别对应的检测范围包括所述第一级别对应的检测范围，所述检测对象集合包括所述第一检测对象，以及与所述第一检测对象相关联的所述第二检测对象。2.根据权利要求1所述的芯片的检测方法，其特征在于，所述方法还包括：在对所述检测对象集合进行其他级别检测的情况下，针对所述检测对象集合重复所述多级别检测操作。3.根据权利要求1所述的芯片的检测方法，其特征在于，所述依次对第一级别中的至少一个第一检测对象进行第一数据配置，并对所述第一检测对象对应的第一模型进行所述第一数据配置，包括：基于接收所述检测数据的先后顺序，确定针对多个所述第一检测对象的检测顺序；基于所述检测顺序，依次对所述第一检测对象进行所述第一数据配置，并对所述第一模型进行所述第一数据配置。4.根据权利要求3所述的芯片的检测方法，其特征在于，所述将所有的所述第一响应数据均与对应的所述第二响应数据进行对比，基于对比结果确定所述第一检测对象是否符合第一级别要求，包括：基于所述检测顺序，依次对每组中的所述第一响应数据与所述第二响应数据进行对比；在前一对比结果符合要求的情况下，确定后一对比结果。5.根据权利要求1所述的芯片的检测方法，其特征在于，所述针对所有的第一检测对象和/或第二级别中的至少一个第二检测对象进行第二级别检测，包括：对所述第一级别中的所有所述第一检测对象均进行第二数据配置，并对所述第二级别对应的第二模型进行第二数据配置；确定所有所述第一检测对象针对所述检测数据响应后得到的第三响应数据，以及第二模型对所述检测数据响应后得到的第四响应数据；将所有的所述第三响应数据均与对应的所述第四响应数据进行对比，基于对比结果确定所述第一检测...

【专利技术属性】
技术研发人员：何家康，谢丽燕，
申请(专利权)人：深圳砺驰半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：