芯片的通用验证方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种芯片的通用验证方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括：构建与待测芯片匹配的统一验证平台框架；按照待测芯片的测试类型，对各标准特性组件进行实例化处理，以在统一验证平台框架中实现与测试类型匹配的特性层测试环境；获取与待测芯片的测试类型匹配的目标测试用例，并将目标测试用例注入至统一验证平台框架中，以完成对待测芯片的验证。本发明专利技术实施例的技术方案简化了芯片验证流程，提高了芯片验证效率，并可以提高芯片验证结果的准确性，同时，降低了芯片验证的成本，缩短了芯片上市的时间，可以有效提高芯片质量和用户满意度。用户满意度。用户满意度。

【技术实现步骤摘要】
芯片的通用验证方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及芯片验证
，尤其涉及一种芯片的通用验证方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]在芯片的验证环节，寄存器传输级的仿真测试可以完成主要的功能性验证。同时，一般需要再结合硬件加速器进行模拟测试来加速功能性的验证和性能性的验证。这两类测试流程通常需要各自提供一套独立的测试环境。
[0003]目前，在进行上述各测试环境的设计过程中，会出现如下问题：1、验证平台的设计不统一，需要维护两套验证平台，增加了维护成本；2、验证平台的扩展性能差，特别的，当用户更换硬件加速器产品时，可能需要调整原有的验证平台的底层设计，增加验证平台调试工作量且降低验证平台的交付质量；3、测试用例实现不统一，两种测试环境可能因使用了不同的VIP（Verification IP，验证知识产权核）导致相同测试目的的测试用例的实现方式不同，不利于测试用例的后续维护和更新。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例提供了一种芯片的通用验证方法、装置、电子设备及存储介质，以满足人们日益增长的个性化、便捷化的芯片通用验证需求。
[0005]根据本专利技术实施例的一方面，提供了一种芯片的通用验证方法，包括：
[0006]构建与待测芯片匹配的统一验证平台框架；
[0007]其中，统一验证平台框架中包括至少一个不依赖测试环境的通用组件和至少一个依赖测试环境的标准特性组件，各通用组件和各标准特性组件的输入输出接口预先遵循统一的标准数据格式建立连接关系；
[0008]按照待测芯片的测试类型，对各标准特性组件进行实例化处理，以在统一验证平台框架中实现与测试类型匹配的特性层测试环境，测试类型包括仿真类型或模拟类型；
[0009]获取与待测芯片的测试类型匹配的目标测试用例，并将目标测试用例注入至统一验证平台框架中，以完成对待测芯片的验证。
[0010]根据本专利技术实施例的另一方面，提供了一种芯片的通用验证装置，包括：
[0011]基础层测试环境构建模块，用于构建与待测芯片匹配的统一验证平台框架；
[0012]其中，统一验证平台框架中包括至少一个不依赖测试环境的通用组件和至少一个依赖测试环境的标准特性组件，各通用组件和各标准特性组件的输入输出接口预先遵循统一的标准数据格式建立连接关系；
[0013]特性层测试环境构建模块，用于按照待测芯片的测试类型，对各标准特性组件进行实例化处理，以在统一验证平台框架中实现与测试类型匹配的特性层测试环境，测试类型包括仿真类型或模拟类型；
[0014]测试用例注入模块，用于获取与待测芯片的测试类型匹配的目标测试用例，并将
目标测试用例注入至统一验证平台框架中，以完成对待测芯片的验证。
[0015]根据本专利技术实施例的另一方面，还提供了一种电子设备，所述电子设备包括：
[0016]至少一个处理器；以及
[0017]与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
[0018]所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本专利技术任一实施例所述的芯片的通用验证方法。
[0019]根据本专利技术实施例的另一方面，还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本专利技术任一实施例所述的芯片的通用验证方法。
[0020]本专利技术实施例的技术方案，首先构建与待测芯片匹配的统一验证平台框架，并在该统一验证平台框架中设置各不依赖测试环境的通用组件和各依赖测试环境的标准特性组件的输入输出接口之间的标准化连接关系；按照待测芯片的测试类型，对各标准特性组件进行实例化处理，以在统一验证平台框架中实现与测试类型匹配的特性层测试环境；获取与待测芯片的测试类型匹配的目标测试用例，并将目标测试用例注入至统一验证平台框架中，以完成对待测芯片的验证的技术手段，验证人员可以在一个预先实现通用组件、标准特性组件，以及上述两者之间的标准连接关系的统一验证平台中同时实现仿真测试以及模拟测试，无论在何种测试环境下，均可以使用相同的方法驱动统一验证平台完成对芯片设计的验证。简化了芯片验证流程，提高了芯片验证效率，并可以提高芯片验证结果的准确性，同时，降低了芯片验证的成本，缩短了芯片上市的时间，可以有效提高芯片质量和用户满意度。
[0021]应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本专利技术的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本专利技术的范围。本专利技术的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
[0022]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0023]图1是根据本专利技术实施例一提供的一种芯片的通用验证方法的流程图；
[0024]图2是本专利技术实施例的技术方案所适用的一种统一验证平台框架的结构示意图；
[0025]图3是本专利技术实施例的技术方案所适用的一种在统一验证平台框架中实现仿真验证环境的结构示意图；
[0026]图4本专利技术实施例的技术方案所适用的一种在统一验证平台框架中实现硬件加速器模拟环境的结构示意图；
[0027]图5是本专利技术实施例二提供的一种芯片的通用验证方法的流程图；
[0028]图6是本专利技术实施例的技术方案所适用的一种测试用例设计的分层架构示意图；
[0029]图7是根据本专利技术实施例三提供的一种芯片的通用验证装置的结构示意图；
[0030]图8是实现本专利技术实施例的芯片的通用验证方法的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0031]为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本专利技术保护的范围。
[0032]需要说明的是，本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本专利技术的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0033]实施例一
[0034]图1为本专利技术实施例一提供的一种芯片的通用验证方法的流程图。本本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片的通用验证方法，其特征在于，包括：构建与待测芯片匹配的统一验证平台框架；其中，统一验证平台框架中包括至少一个不依赖测试环境的通用组件和至少一个依赖测试环境的标准特性组件，各通用组件和各标准特性组件的输入输出接口预先遵循统一的标准数据格式建立连接关系；按照待测芯片的测试类型，对各标准特性组件进行实例化处理，以在统一验证平台框架中实现与测试类型匹配的特性层测试环境，测试类型包括仿真类型或模拟类型；获取与待测芯片的测试类型匹配的目标测试用例，并将目标测试用例注入至统一验证平台框架中，以完成对待测芯片的验证。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，标准特性组件包括待实例化的标准功能模型以及输入输出接口，其中，标准功能模型和输入输出接口之间未建立连接关系；按照待测芯片的测试类型，对各标准特性组件进行实例化处理，包括：按照待测芯片的测试类型，实现各标准特性组件中标准功能模型所定义的模型功能，得到实例化的标准功能模型；建立各实例化的标准功能模型与各标准特性组件中的输入输出接口之间的连接关系。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，建立各实例化的标准功能模型与各标准特性组件中的输入输出接口之间的连接关系，包括：如果标准特性组件中的标准功能模型的输入输出信号与所述统一的数据格式相匹配，则直接建立所述标准功能模型和标准特性组件中的输入输出接口之间的直连关系。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，建立各实例化的标准功能模型与各标准特性组件中的输入输出接口之间的连接关系，包括：如果标准特性组件中的标准功能模型的输入输出信号与所述统一的数据格式不相匹配，获取与所述输入输出信号类型以及所述统一的数据格式匹配的数据格式转换器；通过所述数据格式转换器，建立所述标准功能模型和标准特性组件中的输入输出接口之间的连接关系。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，统一验证平台框架中包括的各通用组件和各标准特性组件基于通用验证方法学UVM架构实现。6.根据权利要求1
‑
5任一项所述的方法，其特征在于，获取与待测芯片的测试类型匹配的目标测试用例，包括：向用户提供平台应用层测试用例集合以及用户层测试用例集合；其中，平台应用层测试用例使用多个底层测试用例封装得到...

【专利技术属性】
技术研发人员：金鑫，周峰，张亚林，
申请(专利权)人：上海燧原科技有限公司，
类型：发明
国别省市：