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本发明公开了一种芯片的回归测试方法、装置、设备及介质。包括：获取各测试用例，并将测试用例划分为多个初始测试分组；在测试进程中对各初始测试分组进行测试，获取初始测试分组中各测试用例的初始测试信息，并将测试用例划分为多个测试用例组；在指定的时间...
该专利属于上海燧原科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海燧原科技有限公司授权不得商用。

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