一种回归测试方法、装置、电子设备和存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种回归测试方法、装置、电子设备和存储介质，涉及芯片测试技术领域，该方法包括：响应于获取到用户命令行，通过用户主文件获取测试文件；其中，用户主文件继承于系统主文件；通过用户主文件和解析执行文件，获取测试文件的测试命令行集；根据用户命令行，通过用户主文件和仿真执行文件，对测试命令行集进行回归测试。本发明专利技术实施例的技术方案，不但实现了多个测试命令行的批量测试，提高了回归测试效率，而且继承于系统主文件的用户主文件，既确保了每个用户进行回归测试时，均可使用系统主文件预先构建完成的测试逻辑完成回归测试，实现了多用户场景下的个性化测试需求，又避免了各个用户对系统主文件的修改。改。改。

【技术实现步骤摘要】
一种回归测试方法、装置、电子设备和存储介质


[0001]本专利技术涉及芯片测试
，尤其涉及一种回归测试方法、装置、电子设备和存储介质。

技术介绍

[0002]回归测试作为芯片的前端验证中重要的测试环节，其有效验证了更新后的芯片程序，是否引入了新的错误或者导致其他代码产生了错误。
[0003]对于回归测试的执行，现有的EDA(Electronic design automation，电子设计自动化)工具，例如，IRUN和VCS等，只能提供了单次的编译仿真功能，针对多测试用例的运行仿真场景，往往需要由测试人员手动完成多条目测试，测试效率较低。
[0004]此外，现有的回归测试脚本，无法适应多用户场景下不同用户的个性化测试需求，测试功能较为单一。

技术实现思路

[0005]本专利技术提供了一种回归测试方法、装置、电子设备及存储介质，以解决回归测试效率较低的问题。
[0006]根据本专利技术的一方面，提供了一种回归测试方法，包括：
[0007]响应于获取到用户命令行，通过用户主文件获取测试文件；其中本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种回归测试方法，其特征在于，包括：响应于获取到用户命令行，通过用户主文件获取测试文件；其中，所述用户主文件继承于系统主文件；通过所述用户主文件和解析执行文件，获取所述测试文件的测试命令行集；其中，所述测试命令行集包括至少一个测试命令行；根据所述用户命令行，通过所述用户主文件和仿真执行文件，对所述测试命令行集进行回归测试。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试文件包括测试列表文件，所述测试列表文件包括测试命令行、嵌套列表行和嵌套命令行中的至少一个；所述嵌套列表行与关联列表文件相匹配，所述关联列表文件包括多个测试命令行；所述嵌套命令行与关联命令文件相匹配，所述关联命令文件包括一个测试命令行。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试文件包括测试组文件；所述测试组文件包括至少一个测试组以及与所述测试组一一匹配的测试参数；所述测试组包括至少一个测试命令行；所述测试参数包括迭代次数和/或种子选项。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试文件包括测试命令行、嵌套列表行、嵌套命令行中和测试组；所述通过所述用户主文件和解析执行文件，获取所述测试文件的测试命令行集，包括：通过所述用户主文件和解析执行文件，依次读取所述测试文件中的各个数据行；若确定当前数据行为测试命令行，将当前数据行加入测试命令行集；若确定当前数据行为嵌套列表行，获取当前数据行匹配的关联列表文件，并将所述关联列表文件中的各个测试命令行加入测试命令行集；若确定当前数据行为嵌套命令行，获取当前数据行匹配的关联命令文件，并将所述关联命令文件中的测试命令行加入测试命令行集；若确定当前数据行为测试组，根据所述测试组的测试参数为所述测试组的各个测试命令行进行赋值，并将赋值后的测试命令行加入测试命令...

【专利技术属性】
技术研发人员：裴祖祥，叶楠，田斌，
申请(专利权)人：太初无锡电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：