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本发明公开了一种回归测试方法、装置、电子设备和存储介质，涉及芯片测试技术领域，该方法包括：响应于获取到用户命令行，通过用户主文件获取测试文件；其中，用户主文件继承于系统主文件；通过用户主文件和解析执行文件，获取测试文件的测试命令行集；根据用...
该专利属于太初（无锡）电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过太初（无锡）电子科技有限公司授权不得商用。

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