一种零件外径检具及检测方法技术

本发明专利技术公开了一种零件外径检具及检测方法，检具包括底座、基准块、表架、千分表和标准块；底座的顶面设置有滑槽；基准块固定设置于底座的顶面位于滑槽的一端，基准块的一侧设置有检测基面；千分表安装于表架上，千分表的触头沿垂直于检测基面的方向设置；表架可滑动的设置于滑槽内；标准块的长度等于零件的外径标准值。本发明专利技术的检测精度高，有效的提高了检测效率，适用于批量检测。适用于批量检测。适用于批量检测。

【技术实现步骤摘要】
一种零件外径检具及检测方法


[0001]本专利技术涉及零件外径检测
，尤其涉及一种零件外径检具及检测方法。

技术介绍

[0002]在航空
会遇到各种各样的零件，零件加工成型后大都需要对其几何尺寸进行检测。零件的几何尺寸检测大多采用千分尺或三坐标测量仪。针对大型环体类精密零件的外径检测，采用千分尺不易准确的卡在其径向上，测量精度不高；采用三坐标测量仪进行检测，虽然检测的精度高，但检测效率很低。为此，针对大型环体类精密零件的外径检测现设计一款检具，在确保检测精度的情况下，提高检测效率。

技术实现思路

[0003]鉴于现有技术中的上述缺陷或不足，期望提供一种零件外径检具及检测方法，检测精度高，可有效提高检测效率，适用于批量检测。
[0004]本专利技术提供的一种零件外径检具，包括底座、基准块、表架、千分表和标准块；
[0005]所述底座的顶面设置有滑槽；
[0006]所述基准块固定设置于所述底座的顶面位于所述滑槽的一端，所述基准块靠近所述滑槽的一侧沿垂直于所述滑槽的方向设置有检测基面；
[0007]所述千分表安装于所述表架上，所述千分表的触头沿垂直于所述检测基面的方向设置，用于检测零件的外径与其外径标准值之间的偏差；
[0008]所述表架可滑动的设置于所述滑槽内，并通过第一螺栓与所述滑槽锁紧固定，用于对所述千分表与基准块之间的间距进行粗调和微调；
[0009]所述标准块的长度等于零件的外径标准值，用于所述千分表的初始值调节。
[0010]进一步的，所述基准块与底座之间通过至少两根定位销进行定位，所述基准块与底座之间通过第二螺栓固定连接。
[0011]进一步的，所述表架包括底部滑动嵌入所述滑槽内的架座，所述滑槽内开设有贯通至所述底座底部的通槽，所述第一螺栓穿过所述通槽并与所述架座螺纹连接，所述架座上沿垂直于所述检测基面的方向设置有夹持孔，用于夹持固定所述千分表的触头套管，所述夹持孔的下方设置有弹性孔，所述架座的顶部开设有贯通所述夹持孔并连通至所述弹性孔的伸缩缝，所述架座位于所述夹持孔的上方通过压紧螺钉螺纹连接。
[0012]进一步的，所述底座的底面位于所述滑槽的下方沿平行于所述滑槽的方向设置有避让槽。
[0013]另，本专利技术还提供了一种零件外径检测方法，所述检测方法为采用上述的检具对零件的外径进行检测的方法。
[0014]进一步的，检测方法包括如下步骤：
[0015]千分表位置粗调：将标准块放置于底座的顶面，使其一端抵在检测基面上，拧松第一螺栓，沿滑槽移动表架使千分表随表架一同靠近标准块的另一端，拧紧第一螺栓将表架
固定于滑槽内；
[0016]千分表位置微调：对千分表的位置进行微调，使其触头处于压缩状态抵在标准块远离基准块的一端上；
[0017]千分表初始值调节：调节千分表的指针位置，使其指向预设的刻度值；
[0018]零件外径检测：将零件平放到底座的顶面，使其一侧抵在检测基面上，另一侧抵在千分表的触头上，读取千分表的指针指向的刻度值，通过计算获取零件的外径尺寸。
[0019]相对于现有技术而言，本专利技术的有益效果是：
[0020]本专利技术的检具设置有底座、基准块、表架、千分表和标准块；针对大型环体类精密零件的外径检测，通过标准块调节表架和千分表的位置，调节完成后，便可将零件放置到基准块和千分表的触头之间进行检测，检测精度高，检测效率高，适用于零件的批量检测。
[0021]应当理解，
技术实现思路
部分中所描述的内容并非旨在限定本专利技术的实施例的关键或重要特征，亦非用于限制本专利技术的范围。本专利技术的其它特征将通过以下的描述变得容易理解。
附图说明
[0022]通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本专利技术的其它特征、目的和优点将会变得更明显：
[0023]图1为检具的结构示意图；
[0024]图2为检具主视的结构示意图；
[0025]图3为图2中A
‑
A处的结构示意图；
[0026]图4为图2中B
‑
B处的结构示意图；
[0027]图5为零件安装于检具的结构示意图。
[0028]图中标号：1、底座；2、基准块；3、表架；4、千分表；5、标准块；6、零件；
[0029]11、滑槽；12、通槽；13、避让槽；
[0030]21、定位销；22、第二螺栓；
[0031]31、第一螺栓；32、架座；33、夹持孔；34、弹性孔；35、伸缩缝；36、压紧螺钉；
[0032]41、触头；42、触头套管。
具体实施方式
[0033]下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释相关专利技术，而非对该专利技术的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与专利技术相关的部分。
[0034]需要说明的是，在不冲突的情况下，本专利技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本专利技术。
[0035]请参考图1～图5，本专利技术的实施例提供了一种零件外径检具，包括底座1、基准块2、表架3、千分表4和标准块5；
[0036]底座1的顶面设置有滑槽11；
[0037]基准块2固定设置于底座1的顶面位于滑槽11的一端，基准块2靠近滑槽11的一侧沿垂直于滑槽11的方向设置有检测基面；
[0038]千分表4安装于表架3上，千分表4的触头沿垂直于检测基面的方向设置，用于检测零件6的外径与其外径标准值之间的偏差；
[0039]表架3的底端可滑动的嵌入滑槽11内，并通过第一螺栓31与滑槽11锁紧固定，用于对千分表4与基准块2之间的间距进行粗调和微调；
[0040]标准块5的长度等于零件6的外径标准值，用于千分表4的初始值调节。
[0041]在本实施例中，针对大型环体类精密零件的外径检测时，首先将长度尺寸与待检测的零件6的外径标准值相同的标准块5放置到底座1的顶面，将标准块5的一端抵在基准块2的检测基面上；然后拧松第一螺栓31，沿滑槽11移动表架3，使千分表4随表架3一同靠近标准块5的另一端，再拧紧第一螺栓31将表架3固定于滑槽11内；然后对千分表3的位置进行微调，使其触头41处于压缩状态抵在标准块5远离基准块2的一端上；然后调节千分表3的指针位置，使其指向预设的刻度值。
[0042]此时便可对零件6的外径进行检测，先将零件6平放到底座1的顶面，使其一侧抵在检测基面上，再滚动零件6使其另一侧抵在千分表3的触头41上，直至千分表3的指针指向的最大的刻度值时，该刻度值与预设的刻度值之间的差值，即为零件6的外径与其外径标准值之间的偏差，该偏差与零件6的外径标准值求和的结果为零件外径的检测值。
[0043]零件6的外径标准值即为零件6外径尺寸的设计值，大型环体类精密零件通常指外径尺寸不小于125mm的圆形零件，该类零件的外径不易准确对准。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种零件外径检具，其特征在于，包括底座、基准块、表架、千分表和标准块；所述底座的顶面设置有滑槽；所述基准块固定设置于所述底座的顶面位于所述滑槽的一端，所述基准块靠近所述滑槽的一侧沿垂直于所述滑槽的方向设置有检测基面；所述千分表安装于所述表架上，所述千分表的触头沿垂直于所述检测基面的方向设置，用于检测零件的外径与其外径标准值之间的偏差；所述表架可滑动的设置于所述滑槽内，并通过第一螺栓与所述滑槽锁紧固定，用于对所述千分表与基准块之间的间距进行粗调和微调；所述标准块的长度等于零件的外径标准值，用于所述千分表的初始值调节。2.根据权利要求1所述的零件外径检具，其特征在于，所述基准块与底座之间通过至少两根定位销进行定位，所述基准块与底座之间通过第二螺栓固定连接。3.根据权利要求1所述的零件外径检具，其特征在于，所述表架包括底部滑动嵌入所述滑槽内的架座，所述滑槽内开设有贯通至所述底座底部的通槽，所述第一螺栓穿过所述通槽并与所述架座螺纹连接，所述架座上沿垂直于所述检测基面的方向设置有夹持孔，用于夹持固定所述千分表的触头套管，所述夹持孔...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨海诚，龙洪旺，
申请(专利权)人：成立航空技术贵阳有限公司，
类型：发明
国别省市：