【技术实现步骤摘要】
一种柱面近场测量装置和测量方法
[0001]本申请涉及微波测试
,尤其涉及一种柱面近场测量装置和测量方法。
技术介绍
[0002]近场测量技术主要是指频谱近场测量技术,通过研究被测信号的频谱结构进行频谱分析,从而得到近场天线的各项参数。即通过一个特性已知的探头,在离待测天线几个波长(3
‑
10λ)的某一平面上进行扫描,测量天线在该平面离散点的幅度与相位分布,通过严格的数学变换确定被测天线的远场区的辐射特性进而确定天线远场方向图。相较于远场测量和紧缩场测量而言,近场测量技术应用更为广泛:对设备要求低,不需要造价昂贵的暗室环境,也不需要远场测量对射频系统的较高的要求。
[0003]然而,机翼、机车等长形目标上的待测天线的尺寸比较长,如机翼长度超过4m、单列机车的长度超过50m,这些长形目标上安装的天线的尺寸和频率,以及目标本身的重量远超过现有技术的适用范围,难以测量其天线辐射特性。
技术实现思路
[0004]本申请的主要目的在于提供一种柱面近场测量装置和测量方法,旨在解决现有技术难 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种柱面近场测量装置,其特征在于,包括测量部和传动部;其中,所述测量部包括圆筒状外壳和沿所述圆筒状外壳的圆周设置的环状探头阵列;所述环状探头阵列包含多个探头,所述探头指向对应环状探头阵列的中心点,所述环状探头阵列的中心点位于与所述圆筒状外壳的轴线上;所述传动部设置于所述圆筒状外壳内,且所述传动部沿所述圆筒状外壳的轴向设置,所述传动部的传动方向沿所述圆筒状外壳的轴向,所述传动部用于传送待测长形目标。2.如权利要求1所述的柱面近场测量装置,其特征在于,所述传动部包括轨道和支架;其中,所述支架设置于所述轨道底部,用于支撑所述轨道。3.如权利要求2所述的柱面近场测量装置,其特征在于,所述支架的高度可调节。4.如权利要求2所述的柱面近场测量装置,其特征在于,所述轨道包含动力装置,用于驱动所述轨道运行或牵引所述待测长形目标沿所述轨道移动。5.如权利要求1所述的柱面近场测量装置,其特征在于,所述环状探头阵列包含n...
【专利技术属性】
技术研发人员:周祚,李华军,沈伦玉,魏平,徐文杰,王睿,
申请(专利权)人:成都飞机工业集团有限责任公司,
类型:发明
国别省市:
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