一种单流道的芯片编带外观缺陷检测设备制造技术

本发明专利技术涉及芯片编带检测技术领域，具体地说，涉及一种单流道的芯片编带外观缺陷检测设备。其包括设备主体，设备主体的两侧设有用于收卷芯片编带的料盘；两侧的料盘之间形成有用于输送芯片编带的输送流道；设备主体处还设有用于对芯片编带进行检测的多站式视检系统；多站式视检系统处形成有检测区域；输送流道经过所述检测区域。从而能够使得待检测的芯片编带在运送过程中只需要在这一检测区域处停留即可完成所有检测，从而使得动力的控制操作更为简单，全程只需在该检测区域的位置处中断一次动力即可，这样也能较佳地加快真个检测过程的进行，从而较佳地提高检测效率。从而较佳地提高检测效率。从而较佳地提高检测效率。

【技术实现步骤摘要】
一种单流道的芯片编带外观缺陷检测设备


[0001]本专利技术涉及芯片编带检测
，具体地说，涉及一种单流道的芯片编带外观缺陷检测设备。

技术介绍

[0002]芯片编带也即装载有芯片的编带结构；芯片编带的上表面处开设有多个用于装载芯片的装配槽以及用于与针轮或压齿卡合的孔；芯片编带的下部作为载带。
[0003]现有的半导体行业中，芯片编带作为一种常用的芯片包装方法被广泛应用；但是由于在包装过程中可能芯片以及芯片编带出现异物崩边以及划痕等外观缺陷；故而需要对于芯片以及芯片编带进行外观检测。
[0004]传统的检测方法多为人工肉眼检测或者大体积的多工位检测方法；这样的检测方法一方面检测效率较低；另一方面，人力成本以及装置布置成本较高且对于场地布置要求较为繁琐。此外，现有的检测设备中缺乏合理的光源布置，同时难以对于芯片编带上可能存在外观缺陷的正反两面形成覆盖；从而导致现有检测方法的外观缺陷的检出率较差；并且，由于不同厂家的芯片编带宽度存在差异，故而传统的检测方法难以较佳地通用于不同宽度的芯片编带检测。
[0005]故而，现有技本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种单流道的芯片编带外观缺陷检测设备，其特征在于，单流道的芯片编带外观缺陷检测设备包括设备主体(100)，设备主体(100)的两侧设有用于收卷芯片编带的料盘；两侧的料盘之间形成有用于输送芯片编带的输送流道(110)；设备主体(100)处还设有用于对芯片编带进行检测的多站式视检系统；多站式视检系统处形成有检测区域；输送流道(110)经过所述检测区域。2.根据权利要求1所述的一种单流道的芯片编带外观缺陷检测设备，其特征在于：多站式视检系统包括系统主体(120)，系统主体(120)通过视检安装板(920)以安装固定；多站式视检系统包括沿流道运送方向相邻竖直布置于视检安装板(920)处的用于检测异物和崩边的第一检测组件、用于对芯片字符进行检测的第二检测组件和用于对崩边划痕进行检测的第三检测组件；第一检测组件包括第一相机(121)和第一光源(122)，第一光源(122)包括近距离红外光和条光，第一光源(122)配合第一相机(121)采集图像以用于检测异物和崩边；第二检测组件包括第二相机(123)和第二光源(124)，第二光源(124)为同轴光源，第二光源(124)用于配合第二相机(123)采集图像以用于对芯片字符进行检测；第三检测组件包括第三相机(125)和第三光源(126)，第三光源(126)为环形光；第三光源(126)用于配合第三相机(125)采集图像以对崩边划痕进行检测；第一相机(121)、第二相机(123)、第三相机(125)均采用500W相机且三者的拍摄范围均覆盖检测区域；第一光源(122)、第二光源(124)和第三光源(126)均采用频闪工作且间隔闪光；第一光源(122)、第二光源(124)和第三光源(126)的打光范围均覆盖检测区域。3.根据权利要求2所述的一种单流道的芯片编带外观缺陷检测设备，其特征在于：第一相机(121)、第二相机(123)和第三相机(125)均包括相机主体(1200)，相机主体(1200)包括电源端(1210)和镜头端(1220)；电源端(1210)和镜头端(1220)之间通过机身部(1230)相连接；电源端(1210)均通过相机安装板(1240)可滑动安装于视检安装板(920)处的手动位移台(1250)处；相机主体(1200)随相机安装板(1240)沿竖直方向通过手动位移台(1250)移动；视检安装板(920)处还设有用于固定镜头端(1220)的镜头固定块(1260)；在相机主体(1200)通过手动位移台(1250)位移调整完成后，镜头固定块(1260)处布置有用于对镜头端(1220)周向及轴向形成固定的镜头固定优力胶(1270)；视检安装板(920)处还设有分别用于安装第一光源(122)和第三光源(126)的光源安装板(1310)；光源安装板(1310)布置于前述镜头端(1220)与检测区域之间以用于安装光源；光源安装板(1310)呈环形结构，光源安装板(1310)的中部形成有与镜头中心轴线同轴的通孔；通孔的外围处形成有多个螺孔(1320)；光源安装板(1310)远镜头端(1220)的一侧底板四周设有用于安装的光源安装座(1330)；光源安装座(1330)与光源安装板(1310)之间通过前述螺孔(1320)内旋入螺栓相可拆卸紧固连接；光源安装座(1330)包括相对设置的光源安装竖板；两侧的光源安装竖板相对内壁处均活动连接有安装销(424)；光源组件(1340)通过安装销(424)活动安装于两侧的光源安装竖板之间；光源组件(1340)相对于光源安装座(1330)旋转以调整打光角度。4.根据权利要求1所述的一种单流道的芯片编带外观缺陷检测设备，其特征在于：料盘通过固定臂(210)安装于设备主体(100)的两侧；料盘包括料盘主体(220)；料盘主体(220)包括平行间隔布置的两个环形盘体(221)；两个环形盘体(221)之间通过与环形盘体(221)同轴的料盘中心轴(222)相连接；料盘中心轴(222)的环形外壁与芯片编带相接触配合以用
于收卷；两侧的环形盘体(221)对收卷于料盘中心轴(222)处的芯片编带形成轴向上的限位；两侧的环形盘体(221)处均沿周向方向形成有呈环形阵列的多个弧形通孔(223)；固定臂(210)远料盘主体(220)的一侧设有马达座(230)；马达座(230)处设有料盘驱动电机(410)，料盘驱动电机(410)的输出端通过联轴器(310)连接有料盘快换轴(420)；料盘中心轴(222)可拆卸地安装于料盘快换轴(420)处；料盘快换轴(420)处沿其轴向依次布置有料盘限位环(421)、料盘固定定板(422)和料盘固定动板(423)；料盘固定动板(423)通过安装销(424)活动布置于料盘快换轴(420)处的开口槽(425)内；料盘固定动板(423)以安装销(424)为轴沿开口槽(425)深度方向旋转；开口槽(425)内设有用于驱使料盘固定动板(423)向开口槽(425)外部旋转的回弹弹簧；料盘固定动板(423)自料盘固定定板(422)由近及远形成有一体结构的第一斜坡和第二斜坡；第一斜坡和第二斜坡的交界处向两侧方向均呈下坡；料盘中心轴(222)的中心位置形成有连接通孔(224)；连接通孔(224)的内侧壁处沿周向方向形成有多个用于与料盘固定定板(422)及料盘固定动板(423)相面接触配合的配合槽(2241)。5.根据权利要求4所述的一种单...

【专利技术属性】
技术研发人员：王孟哲，梁正南，赖勉力，李恩全，
申请(专利权)人：宁波九纵智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：