一种诊断故障码的时间参数测试方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

技术编号:38722463 阅读:13 留言:0更新日期:2023-09-08 23:16
本申请公开了一种诊断故障码的时间参数测试方法、装置、设备及介质,涉及车辆诊断技术领域,包括:确定待测电子控制单元中设置的与目标功能对应的预设时间周期;预设时间周期为与目标功能对应的诊断故障码从目标状态变为预设状态时所需要的时间;在预设时间周期之前控制目标功能变化当前的功能状态,并向待测电子控制单元发送诊断请求以读取当前诊断故障码的第一状态;在预设时间周期之后控制目标功能变化当前的功能状态,并向待测电子控制单元发送诊断请求以读取当前诊断故障码的第二状态;若第一状态为目标状态且第二状态为预设状态,则判定预设时间周期满足测试要求。本申请能够精确测出诊断故障码的时间参数以判定时间参数是否满足测试要求。间参数是否满足测试要求。间参数是否满足测试要求。

【技术实现步骤摘要】
一种诊断故障码的时间参数测试方法、装置、设备及介质


[0001]本专利技术涉及车辆诊断
,特别涉及一种诊断故障码的时间参数测试方法、装置、设备及介质。

技术介绍

[0002]诊断故障码(Diagnostic trouble code,即DTC)用于在汽车不解体的条件下,确定汽车技术状况,查明故障部位及原语的检查。诊断故障码的时间参数包括故障成熟时间周期和故障恢复时间周期等,其中,故障成熟时间周期指的是当故障发生时到DTC存储到存储器中所花的时间,故障恢复时间周期指的是当故障恢复时,DTC状态从当前状态变为历史状态时所花的时间。
[0003]当前在台架上测试DTC时创造了触发DTC的条件,以故障发生时间为起点时间,定时的去读待测电子控制单元(Electronic Control Unit,即ECU)中的DTC,直至读到DTC,记下当前时间,再减去起点时间,去除一定的时间偏差,认为是DTC的故障成熟时间周期。并且由于有时间偏差,所以故障成熟时间周期无论正确与否,会放大正确值的取值区间,偏差时间包括软件内部处理逻辑的运行时间;读取DTC的诊断回复所花的时间;以及包括定时读DTC时,读取间隔大小引入的误差等。另外,在测试DTC的故障恢复时间周期时,也存在同样的问题。
[0004]综上,如何精确的测试诊断故障码的时间参数,以进一步判断时间参数是否满足测试要求是目前有待解决的问题。

技术实现思路

[0005]有鉴于此,本专利技术的目的在于提供一种诊断故障码的时间参数测试方法、装置、设备及介质,能够精确的测试诊断故障码的时间参数,以进一步判断时间参数是否满足测试要求。其具体方案如下:
[0006]第一方面,本申请公开了一种诊断故障码的时间参数测试方法,应用于诊断设备,包括:
[0007]确定待测电子控制单元中设置的与目标功能对应的预设时间周期;所述预设时间周期为与所述目标功能对应的诊断故障码从目标状态变为预设状态时所需要的时间;
[0008]在所述预设时间周期之前控制所述目标功能变化当前的功能状态,并向所述待测电子控制单元发送诊断请求,以读取当前诊断故障码的第一状态;
[0009]在所述预设时间周期之后控制所述目标功能变化当前的功能状态,并向所述待测电子控制单元发送诊断请求,以读取当前诊断故障码的第二状态;
[0010]若所述第一状态为所述目标状态,且所述第二状态为所述预设状态,则判定所述预设时间周期满足测试要求。
[0011]可选的,所述在所述预设时间周期之前控制所述目标功能变化当前的功能状态,包括:
[0012]在所述预设时间周期的前一个报文周期控制所述目标功能变化当前的功能状态;
[0013]相应的,所述在所述预设时间周期之后控制所述目标功能变化当前的功能状态,包括:
[0014]在所述预设时间周期的后一个报文周期控制所述目标功能变化当前的功能状态。
[0015]可选的,所述预设时间周期包括故障成熟时间周期和故障恢复时间周期,所述功能状态包括故障状态和无故障状态。
[0016]可选的,所述故障成熟时间周期为与所述目标功能对应的诊断故障码从未触发状态变为当前状态时所需要的时间;
[0017]相应的,所述若所述第一状态为所述目标状态,且所述第二状态为所述预设状态,则判定所述预设时间周期满足测试要求,包括:
[0018]若所述第一状态为未触发状态,且所述第二状态为当前状态,则判定所述故障成熟时间周期满足测试要求。
[0019]可选的,所述故障恢复时间周期为与所述目标功能对应的诊断故障码从当前状态变为历史状态时所需要的时间;
[0020]相应的,所述若所述第一状态为所述目标状态,且所述第二状态为所述预设状态,则判定所述预设时间周期满足测试要求,包括:
[0021]若所述第一状态为当前状态,且所述第二状态为历史状态,则判定所述故障恢复时间周期满足测试要求。
[0022]可选的,所述控制所述目标功能变化当前的功能状态,包括:
[0023]当所述预设时间周期为故障成熟时间周期时,控制所述目标功能当前的功能状态从故障状态变为无故障状态;
[0024]当所述预设时间周期为故障恢复时间周期时,控制所述目标功能当前的功能状态从无故障状态变为故障状态。
[0025]可选的,所述向所述待测电子控制单元发送诊断请求之后,还包括:
[0026]获取待测电子控制单元回复的当前诊断故障码,并根据当前诊断故障码的目标比特位确定对应的状态信息;其中,所述状态信息包括第一状态和第二状态,若所述待测电子控制单元回复当前无诊断故障码,则对应的状态信息为未触发状态。
[0027]第二方面,本申请公开了一种诊断故障码的时间参数测试装置,应用于诊断设备,包括:
[0028]时间周期确定模块,用于确定待测电子控制单元中设置的与目标功能对应的预设时间周期;所述预设时间周期为与所述目标功能对应的诊断故障码从目标状态变为预设状态时所需要的时间;
[0029]第一状态读取模块,用于在所述预设时间周期之前控制所述目标功能变化当前的功能状态,并向所述待测电子控制单元发送诊断请求,以读取当前诊断故障码的第一状态;
[0030]第二状态读取模块,用于在所述预设时间周期之后控制所述目标功能变化当前的功能状态,并向所述待测电子控制单元发送诊断请求,以读取当前诊断故障码的第二状态;
[0031]判断模块,用于若所述第一状态为所述目标状态,且所述第二状态为所述预设状态,则判定所述预设时间周期满足测试要求。
[0032]第三方面,本申请公开了一种电子设备,包括:
[0033]存储器,用于保存计算机程序;
[0034]处理器,用于执行所述计算机程序,以实现前述公开的诊断故障码的时间参数测试方法的步骤。
[0035]第四方面,本申请公开了一种计算机可读存储介质,用于存储计算机程序;其中,所述计算机程序被处理器执行时实现前述公开的诊断故障码的时间参数测试方法的步骤。
[0036]可见,本申请中通过诊断设备确定待测电子控制单元中设置的与目标功能对应的预设时间周期;所述预设时间周期为与所述目标功能对应的诊断故障码从目标状态变为预设状态时所需要的时间;在所述预设时间周期之前控制所述目标功能变化当前的功能状态,并向所述待测电子控制单元发送诊断请求,以读取当前诊断故障码的第一状态;在所述预设时间周期之后控制所述目标功能变化当前的功能状态,并向所述待测电子控制单元发送诊断请求,以读取当前诊断故障码的第二状态;若所述第一状态为所述目标状态,且所述第二状态为所述预设状态,则判定所述预设时间周期满足测试要求。由此可见,本申请中预先确定待测电子控制单元中设置的与目标功能对应的预设时间周期,预设时间周期指的是与目标功能对应的诊断故障码从目标状态变为预设状态时所需要的时间,然后在预设时间周期之前控制目标功能变化当前的功能状态,并向待测电子控制单元发送诊断请求以读取当前诊断故障码的第一状态,本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种诊断故障码的时间参数测试方法,其特征在于,应用于诊断设备,包括:确定待测电子控制单元中设置的与目标功能对应的预设时间周期;所述预设时间周期为与所述目标功能对应的诊断故障码从目标状态变为预设状态时所需要的时间;在所述预设时间周期之前控制所述目标功能变化当前的功能状态,并向所述待测电子控制单元发送诊断请求,以读取当前诊断故障码的第一状态;在所述预设时间周期之后控制所述目标功能变化当前的功能状态,并向所述待测电子控制单元发送诊断请求,以读取当前诊断故障码的第二状态;若所述第一状态为所述目标状态,且所述第二状态为所述预设状态,则判定所述预设时间周期满足测试要求。2.根据权利要求1所述的诊断故障码的时间参数测试方法,其特征在于,所述在所述预设时间周期之前控制所述目标功能变化当前的功能状态,包括:在所述预设时间周期的前一个报文周期控制所述目标功能变化当前的功能状态;相应的,所述在所述预设时间周期之后控制所述目标功能变化当前的功能状态,包括:在所述预设时间周期的后一个报文周期控制所述目标功能变化当前的功能状态。3.根据权利要求1所述的诊断故障码的时间参数测试方法,其特征在于,所述预设时间周期包括故障成熟时间周期和故障恢复时间周期,所述功能状态包括故障状态和无故障状态。4.根据权利要求3所述的诊断故障码的时间参数测试方法,其特征在于,所述故障成熟时间周期为与所述目标功能对应的诊断故障码从未触发状态变为当前状态时所需要的时间;相应的,所述若所述第一状态为所述目标状态,且所述第二状态为所述预设状态,则判定所述预设时间周期满足测试要求,包括:若所述第一状态为未触发状态,且所述第二状态为当前状态,则判定所述故障成熟时间周期满足测试要求。5.根据权利要求3所述的诊断故障码的时间参数测试方法,其特征在于,所述故障恢复时间周期为与所述目标功能对应的诊断故障码从当前状态变为历史状态时所需要的时间;相应的,所述若所述第一状态为所述目标状态,且所述第二状态为所述预设状态,则判定所述预设时间周期满足测试要求,包括:若所述第一状...

【专利技术属性】
技术研发人员:马晓雷鲁帅罗佳明邵庆丽卢玉坤
申请(专利权)人:知行汽车科技苏州股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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