一种内存颗粒薄型测试治具制造技术

本实用新型专利技术为一种内存颗粒薄型测试治具，涉及内存颗粒测试技术领域，该内存颗粒薄型测试治具包括：安装板，安装板与内存颗粒测试工装连接，安装板包括放置槽，放置槽用于放置内存颗粒；夹具组件，夹具组件与安装板连接，夹具组件能够相对于安装板进行转动，使得夹具组件的一端与安装板之间形成夹持空间，夹持空间用以夹持内存颗粒。本实用新型专利技术通过采用滑动夹钳式结构的夹具组件以夹取内存颗粒并带动内存颗粒进行滑动，通过采用夹持结构，避免治具因组件过多导致的结构复杂，本实用新型专利技术使得工件的整体厚度尺寸轻薄，且使用方便，结构简单耐用，提高了生产效率。提高了生产效率。提高了生产效率。

【技术实现步骤摘要】
一种内存颗粒薄型测试治具


[0001]本技术涉及内存颗粒测试
，特别涉及一种内存颗粒薄型测试治具。

技术介绍

[0002]内存颗粒又称为DDR(Double Data Rate：双倍数据速率存储器)，DDR生产质检环节中，需要使用测试治具对其读取和写的速度进行测试。现有的DDR测试装置大多是通过工人手动将待测试DDR放置进测试治具的检测槽中，再通过测试治具进行检测，检测完成后，再将DDR取出，再放置下一个DDR。
[0003]目前内存颗粒测试治具多为翻盖或压盖式治具，尺寸较大，而内存颗粒在做测试时均需在PC主板上进行，且测试方案需要多套治具同时进行操作，而翻盖或压盖式的治具由于尺寸过大，通常仅能单独操作。目前内存颗粒测试能够用于多套治具继续操作的治具又需要定制专用PCBA(内存条)成本非常高，且结构多采用翻动滑动件式，宜松动损坏。

技术实现思路

[0004]本技术的主要目的是提供一种内存颗粒薄型测试治具，旨在解决内存颗粒测试治具尺寸过大的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提出一种内存颗粒薄型测试治具，包括：
[0006]安装板，所述安装板与所述内存颗粒测试工装连接，所述安装板包括放置槽，所述放置槽用于放置内存颗粒；
[0007]夹具组件，所述夹具组件与所述安装板连接，所述夹具组件能够相对于所述安装板进行转动，使得所述夹具组件的一端与所述安装板之间形成夹持空间，所述夹持空间用以夹持内存颗粒。
[0008]优选地，所述安装板包括前板、后板和夹板，所述前板与所述后板连接，部分所述夹板设置于所述前板与所述后板之间，所述放置槽设置于所述前板上，所述前板与所述后板用以固定所述夹板和所述夹具组件。
[0009]优选地，所述前板设有前通孔，所述后板对应所述前通孔设有后通孔，所述前通孔与所述后通孔连通，所述前通孔与所述后通孔形成空槽，所述夹具组件通过所述空槽与所述安装板滑动连接。
[0010]优选地，所述后通孔的内壁上沿竖直方向设置有滑槽，所述夹具组件对应滑槽设有滑动件，所述滑动件与所述滑槽抵接，使得所述夹具组件通过所述滑槽能够沿所述安装板的竖直方向滑动。
[0011]优选地，所述夹具组件包括夹片，所述夹片对应所述放置槽设置于所述前板上且所述夹片能够相对于所述后板转动，使得所述夹片与所述后板之间形成夹持空间，所述夹片用以夹持内存颗粒。
[0012]优选地，所述夹片包括握持部、夹臂、夹紧部，所述握持部通过所述夹臂与所述夹紧部连接，所述握持部能够相对于所述夹紧部运动，所述夹紧部用以固定所述内存颗粒。
[0013]优选地，所述夹片还包括扭簧，所述扭簧设置于所述夹臂上且与所述握持部和所述夹紧部连接，所述扭簧能够使得所述夹紧部固定所述内存颗粒。
[0014]优选地，所述夹板设有定位槽，所述定位槽设置于所述夹板的两侧，所述定位槽的凹陷方向为由夹板的两侧向中心凹陷，所述定位槽用以与内存颗粒测试工装进行定位固定。
[0015]优选地，所述夹板设有防呆槽，所述防呆槽偏心设置于所述夹板的底部，所述防呆槽用以区分所述夹板的正反方向。
[0016]优选地，所述安装板包括限位卡榫，所述限位卡榫设置于所述安装板地两侧，所述限位卡榫的凸起方向为由所述安装板向两侧水平凸起，所述限位卡榫用以与所述内存颗粒测试工装进行限位固定。
[0017]本技术通过采用滑动夹钳式结构的夹具组件以夹取内存颗粒并带动内存颗粒进行滑动，通过采用夹持结构，避免治具因组件过多导致的结构复杂，本技术使得工件的整体厚度尺寸轻薄，且使用方便，结构简单耐用，提高了生产效率。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
[0019]图1为本技术一实施例提供的内存颗粒薄型测试治具的剖面结构示意图；
[0020]图2为本技术一实施例提供的内存颗粒薄型测试治具的结构示意图；
[0021]图3为本技术一实施例提供的内存颗粒薄型测试治具的侧视结构示意图；
[0022]图4为本技术另一实施例提供的内存颗粒薄型测试治具的结构示意图。
[0023]附图标号说明：
[0024][0025]本技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0026]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0027]需要说明，本技术实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
[0028]另外，在本技术中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本技术要求的保护范围之内。
[0029]如图1所示，本技术提出一种内存颗粒薄型测试治具1000，该内存颗粒薄型测试治具1000应用于内存颗粒测试工装，包括：安装板10，安装板10与内存颗粒测试工装连接，安装板10包括放置槽114，放置槽114用于放置内存颗粒2000；夹具组件，夹具组件与安装板10连接，夹具组件能够相对于安装板10进行转动，使得夹具组件的一端与安装板10之
间形成夹持空间，夹持空间用以夹持内存颗粒2000。
[0030]详细地，内存颗粒测试工装为具有内存颗粒2000性能检测组件的任意一现有装置，现有的内存颗粒2000性能检测组件包括传输线、主机、测试接头，其中测试接头用以连接内存颗粒薄型测试治具1000对内存颗粒2000进行检测并得到检测信号，检测信号通过传输线传输至主机，由主机对检测信号进行分析，最后得出该测试的内存颗粒2000的性能。
[0031]在一实施例中，本技术能够为如图1所示，夹具组件能够沿安装板10进行上下滑动位移，夹具组件为通过内部设置的弹性件进行开合，操作人员通过施加压力于夹具组件的一端，并向上拉动夹具组件，展露出放置槽114，然后将内存颗粒2000放置于夹具组件的另本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种内存颗粒薄型测试治具，应用于内存颗粒测试工装，其特征在于，包括：安装板，所述安装板与所述内存颗粒测试工装连接，所述安装板包括放置槽，所述放置槽用于放置内存颗粒；夹具组件，所述夹具组件与所述安装板连接，所述夹具组件能够相对于所述安装板进行转动，使得所述夹具组件的一端与所述安装板之间形成夹持空间，所述夹持空间用以夹持内存颗粒。2.如权利要求1所述的内存颗粒薄型测试治具，其特征在于，所述安装板包括前板、后板和夹板，所述前板与所述后板连接，部分所述夹板设置于所述前板与所述后板之间，所述放置槽设置于所述前板上，所述前板与所述后板用以固定所述夹板和所述夹具组件。3.如权利要求2所述的内存颗粒薄型测试治具，其特征在于，所述前板设有前通孔，所述后板对应所述前通孔设有后通孔，所述前通孔与所述后通孔连通，所述前通孔与所述后通孔形成空槽，所述夹具组件通过所述空槽与所述安装板滑动连接。4.如权利要求3所述的内存颗粒薄型测试治具，其特征在于，所述后通孔的内壁上沿竖直方向设置有滑槽，所述夹具组件对应滑槽设有滑动件，所述滑动件与所述滑槽抵接，使得所述夹具组件通过所述滑槽能够沿所述安装板的竖直方向滑动。5.如权利要求3所述的内存颗粒薄型测试治具，其特征在于，所述夹具组件包括夹片，所述夹片对应...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈晖，田景均，
申请(专利权)人：深圳市嘉合劲威电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：