一种可调节手测盖机构制造技术

本实用新型专利技术提供一种可调节手测盖机构，包括主体；配置于主体上的可相对于主体沿竖直方向运动的压接件；以及驱动组件；驱动组件包括与主体螺接的螺接件以及与螺接件结合固定的旋转件；螺接件被配置为通过转动旋转件，螺接件可推动所述压接件下移使得压接件压接于产品上；可调节手测盖机构还包括第一限位件以及第二限位件；所述第二限位件包括第一工位和第二工位；当所述第二限位件位于第一工位时，所述旋转件转动时可被第一限位件限位；当所述第二限位件位于第二工位时，所述旋转件转动时可被第二限位件限位。该可调节手测盖机构解决了手测盖下压行程不可调的问题，可满足相同芯片在不同封装形式下产生不同厚度时的测试需求。在不同封装形式下产生不同厚度时的测试需求。在不同封装形式下产生不同厚度时的测试需求。

【技术实现步骤摘要】
一种可调节手测盖机构


[0001]本技术涉及产品测试
更具体地，涉及一种可调节手测盖机构。

技术介绍

[0002]现有的手测盖在手动测试芯片时，手测盖的下压行程是固定的，所以仅仅可以完成对一种芯片的测试，而当芯片的测试点位不变，封装厚度或者封装形式导致芯片厚度发生变化时则需要做多种型号的手测盖来进行适配。

技术实现思路

[0003]针对上述问题，本技术提供一种可调节手测盖机构解决了手测盖下压行程不可调的问题，可满足相同芯片在不同封装形式下产生不同厚度时的测试需求。
[0004]为实现上述目的，本技术采用下述技术方案：
[0005]本技术提供一种可调节手测盖机构，包括：
[0006]用以与探针座结合固定的主体；
[0007]配置于主体上的可相对于主体沿竖直方向运动的压接件；以及
[0008]驱动组件；
[0009]所述驱动组件包括与主体螺接的螺接件以及与螺接件结合固定的旋转件；所述螺接件被配置为通过转动旋转件，所述螺接件可推动所述压接件下移使得压接件压接于位于探针座上的产品上；
[0010]所述手测盖机构还包括结合固定于主体上的第一限位件以及配置于主体上的可在主体上沿水平方向运动的第二限位件；
[0011]所述第二限位件包括第一工位和第二工位；
[0012]当所述第二限位件位于第一工位时，所述旋转件转动时可被第一限位件限位；
[0013]当所述第二限位件位于第二工位时，所述旋转件转动时可被第二限位件限位。
[0014]优选方案是，所述主体包括用以与探针座结合固定的固定座以及与固定座可转动连接的翻转座；
[0015]所述翻转座包括有安装通腔；所述安装通腔内配置有螺纹环；所述螺接件通过所述螺纹环与翻转座螺接；
[0016]所述固定座包括有用以供压接件贯穿的避让孔。
[0017]优选方案是，所述旋转件包括有形成于旋转件的底面上的弧形限位槽；所述第一限位件固定于主体的顶面上；所述第一限位件配置于所述弧形限位槽上。
[0018]优选方案是，所述旋转件上形成有与弧形限位槽连通的缺口；当旋转件转动时，处于第二工位的第二限位件可通过所述缺口进入弧形限位槽。
[0019]优选方案是，所述压接件包括用以下压产品的压头部以及与主体浮动连接的连接部；所述螺接件与连接部对应配合；所述连接部通过轴肩螺丝与主体连接；所述轴肩螺丝上套设有弹簧；所述弹簧一端与连接部抵接，另一端与轴肩螺丝的头部抵接。
[0020]优选方案是，所述螺接件呈圆筒状；所述螺接件的与旋转件对应的环形端面上形成有若干沿螺接件周向排列的固定孔；所述旋转件通过螺钉固定于所述螺接件上。
[0021]优选方案是，所述可调节手测盖机构还包括卡接组件；所述卡接组件包括铰接于翻转座上的卡接件以及形成于固定座上的卡体；所述卡接件包括用以与卡体卡接配合的卡勾部。
[0022]优选方案是，所述可调节手测盖机构还包括设置于主体上的导向组件；所述导向组件包括有水平设置的导杆，配置于导杆上且可沿导杆的延伸方向运动的滑动件；所述第二限位件固定于所述滑动件上。
[0023]优选方案是，所述主体的顶面上形成有凹槽；所述导杆及滑动件位于凹槽内。
[0024]优选方案是，所述旋转件包括第一限位位置和第二限位位置；
[0025]当所述第二限位件位于第一工位时，所述旋转件可被第一限位件限位于第一限位位置；
[0026]当所述第二限位件位于第二工位时，所述旋转件可被第二限位件限位于第二限位位置。
[0027]本技术的有益效果为：
[0028]本技术通过转动旋转件，使得螺接件可推动所述压接件下移使得压接件压接于位于探针座上的产品，保证产品与探针之间稳定接触导通，再利用第一限位件和第二限位件分别实现对旋转件旋转角度的限制，从而实现对压接件下压行程的调节，满足相同芯片在不同封装形式下产生不同厚度时的测试需求。
附图说明
[0029]下面结合附图对本技术的具体实施方式作进一步详细的说明。
[0030]图1是本技术的整体结构示意图。
[0031]图2是本技术的装配图。
[0032]图3是本技术的侧视图。
[0033]图4是图3的A
‑
A剖面图。
[0034]图5是本技术的旋转件的仰视图。
具体实施方式
[0035]现在将参照附图来详细描述本技术的各种示例性实施例。应注意到：除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本技术的范围。
[0036]以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本技术及其应用或使用的任何限制。
[0037]对于相关领域普通技术人员已知的技术和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术和设备应当被视为说明书的一部分。
[0038]在这里示出和讨论的所有例子中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。
[0039]应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一
个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。
[0040]为了解决现有的手测盖下压行程不可调的问题。本技术提供一种可调节手测盖机构，结合图1至图5所示，具体地所述可调节手测盖机构包括：用以与探针座60结合固定的主体10；可以理解的是，在探针座60上设置有探针，产品70可放置于探针座60上，产品70上的测试点与探针位置相对应；配置于主体10上的可相对于主体10沿竖直方向运动的压接件，该压接件用以下压位于探针座60上的产品70保证产品70的测试点与探针稳定接触且能够电导通；以及驱动组件，为压接件下压提供动力；关于驱动组件的具体结构，所述驱动组件包括与主体10螺接的螺接件31以及与螺接件31结合固定的旋转件32；所述螺接件31被配置为通过转动旋转件32，所述螺接件31可向下移动从而与压接件接触并推动所述压接件下移使压接件压接于位于探针座60上的产品70上；进一步地，所述可调节手测盖机构还包括结合固定于主体10上的第一限位件11以及配置于主体10上的可在主体10上沿水平方向运动的第二限位件12；在本实施例中，利用第一限位件11和第二限位件12分别对旋转件32的限位作用能够同时满足芯片BGA及LGA封装的测试需求。
[0041]具体的，所述第二限位件12包括第一工位和第二工位；当所述第二限位件12位于第一工位时，所述旋转件32在转动时会被第一限位件11限位，此时的第二限位件12避让旋转件32避免干涉旋转件32转动，旋转件32的旋转角度被确定，压接件的下压量随之确定；当所述第二限位件12位于第二工位时，所述旋转件32转动时会被第二限位件12限位，此时第一限位件11不再起限位作用，旋转件32的旋转角度被确定，压本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种可调节手测盖机构，其特征在于，包括：用以与探针座结合固定的主体；配置于主体上的可相对于主体沿竖直方向运动的压接件；以及驱动组件；所述驱动组件包括与主体螺接的螺接件以及与螺接件结合固定的旋转件；所述螺接件被配置为通过转动旋转件，所述螺接件可推动所述压接件下移使得压接件压接于位于探针座上的产品上；所述可调节手测盖机构还包括结合固定于主体上的第一限位件以及配置于主体上的可在主体上沿水平方向运动的第二限位件；所述第二限位件包括第一工位和第二工位；当所述第二限位件位于第一工位时，所述旋转件转动时可被第一限位件限位；当所述第二限位件位于第二工位时，所述旋转件转动时可被第二限位件限位。2.根据权利要求1所述的可调节手测盖机构，其特征在于，所述主体包括用以与探针座结合固定的固定座以及与固定座可转动连接的翻转座；所述翻转座包括有安装通腔；所述安装通腔内配置有螺纹环；所述螺接件通过所述螺纹环与翻转座螺接；所述固定座包括有用以供压接件贯穿的避让孔。3.根据权利要求1所述的可调节手测盖机构，其特征在于，所述旋转件包括有形成于旋转件的底面上的弧形限位槽；所述第一限位件固定于主体的顶面上；所述第一限位件配置于所述弧形限位槽上。4.根据权利要求3所述的可调节手测盖机构，其特征在于，所述旋转件上形成有与弧形限位槽连通的缺口；当旋转件转动时，处于第二工位的第二限位件可通过所述缺口进入弧形限位槽。5.根据权利要求1所述的可调...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈波，张磊，
申请(专利权)人：苏州华兴源创科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：