一种车规级主控芯片的测试方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种车规级主控芯片的测试方法、装置、设备及介质。该方法包括：获取待测试的车规级主控芯片，每个计算核与匹配的硬件外围组件集组合得到设定的控制电路；将预设的目标测试函数，分别加载至所述车规级主控芯片中的各计算核中执行，以供各计算核调用对应的硬件外围组件集中的全部硬件外围组件实施计算，实现车规级主控芯片的全工况运行；在车规级主控芯片的全工况运行过程中，实时检测每个控制电路的运行状态信息，并根据所述运行状态信息，获取所述车规级主控芯片的测试结果。通过本发明专利技术的技术方案，能够实现对车规级主控芯片的全工况状态下的性能测试，提高了车规级主控芯片测试的全面性与准确性。控芯片测试的全面性与准确性。控芯片测试的全面性与准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种车规级主控芯片的测试方法、装置、设备及介质


[0001]本专利技术涉及芯片测试领域，尤其涉及一种车规级主控芯片的测试方法、装置、设备及介质。

技术介绍

[0002]车规级芯片指技术标准达到车规级，可应用于汽车控制的芯片。车规级是适用于汽车电子元件的规格标准等级之一。车规级芯片是应用到汽车中的芯片，不同于消费品和工业品，该类芯片对可靠性的要求要高一些，例如工作温度范围、工作稳定性、不良率等。产品等级差异主要是通过复杂的芯片设计和生产流程控制来实现，从而在工作温度范围，稳定性等方面表现出差异化。
[0003]现有技术中的车辆控制器设计在对车规级芯片进行测试时，对汽车上使用的功能，在一定外界环境干扰下进行功能测试，主要覆盖汽车所用芯片功能及控制器所用功能。
[0004]现有技术存在如下缺陷：现有的技术只针对车辆使用的功能进行测试，没有在芯片全工况的状态下对主控芯片进行测试，因为测试的局限性，导致芯片的使用范围及能力局限，导致车规级主控芯片测试结果的全面性与准确性较差。

技术实现思路

[0005]本专利技术提供了一种车规级主控芯片的测试方法、装置、设备及介质，可以解决先有技术获得的车规级主控芯片测试结果的全面性与准确性较差的问题。
[0006]第一方面，提供了一种车规级主控芯片的测试方法，该方法包括：
[0007]获取待测试的车规级主控芯片，所述车规级主控芯片包括多个计算核，以及与每个计算核分别对应的硬件外围组件集；每个计算核与匹配的硬件外围组件集组合得到设定的控制电路；<br/>[0008]将预设的目标测试函数，分别加载至所述车规级主控芯片中的各计算核中执行，以供各计算核调用对应的硬件外围组件集中的全部硬件外围组件实施计算，实现车规级主控芯片的全工况运行；
[0009]在车规级主控芯片的全工况运行过程中，实时检测每个控制电路的运行状态信息，并根据所述运行状态信息，获取所述车规级主控芯片的测试结果。
[0010]第二方面，本专利技术提供了一种车规级主控芯片的测试装置，该装置包括：
[0011]主控芯片获取模块，用于获取待测试的车规级主控芯片，所述车规级主控芯片包括多个计算核，以及与每个计算核分别对应的硬件外围组件集；每个计算核与匹配的硬件外围组件集组合得到设定的控制电路；
[0012]全工况运行模块，用于将预设的目标测试函数，分别加载至所述车规级主控芯片中的各计算核中执行，以供各计算核调用对应的硬件外围组件集中的全部硬件外围组件实施计算，实现车规级主控芯片的全工况运行；
[0013]状态信息评估模块，用于在车规级主控芯片的全工况运行过程中，实时检测每个
控制电路的运行状态信息，并根据所述运行状态信息，获取所述车规级主控芯片的测试结果。
[0014]第三方面，本专利技术提供了一种电子设备，所述电子设备包括：
[0015]至少一个处理器；以及
[0016]与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
[0017]所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本专利技术任一实施例所述的车规级主控芯片的测试方法。
[0018]第四方面，本专利技术提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本专利技术任一实施例所述的车规级主控芯片的测试方法。
[0019]本专利技术实施例的技术方案，通过获取待测试的车规级主控芯片，车规级主控芯片包括多个计算核，以及与每个计算核分别对应的硬件外围组件集，每个计算核与匹配的硬件外围组件集组合得到设定的控制电路，之后将预设的目标测试函数，分别加载至车规级主控芯片中的各计算核中执行，以供各计算核调用对应的硬件外围组件集中的全部硬件外围组件实施计算，实现车规级主控芯片的全工况运行，最后在车规级主控芯片的全工况运行过程中，实时检测每个控制电路的运行状态信息，并根据所述运行状态信息，获取所述车规级主控芯片的测试结果，解决了先有技术获得的车规级主控芯片测试结果的全面性与准确性较差的问题，实现了对车规级主控芯片的全工况状态下的性能测试，提高了车规级主控芯片测试的全面性与准确性。
[0020]应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本专利技术的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本专利技术的范围。本专利技术的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
[0021]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0022]图1是根据本专利技术实施例一提供的一种车规级主控芯片的测试方法的流程图；
[0023]图2a是根据本专利技术实施例二提供的一种车规级主控芯片的测试方法的流程图；
[0024]图2b是根据本专利技术实施例二提供的方法所得到的一种车规级主控芯片的函数验证方法算法框架；
[0025]图2c是根据本专利技术实施例二提供的方法所得到的一种喷油信号的信号示意图；
[0026]图3是根据本专利技术实施例三提供的一种车规级主控芯片的测试装置的结构示意图；
[0027]图4是是实现本专利技术实施例的车规级主控芯片的测试方法的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0028]为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本专利技术保护的范围。
[0029]需要说明的是，本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本专利技术的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0030]实施例一
[0031]图1为本专利技术实施例一提供的一种车规级主控芯片的测试方法的流程图，本实施例可适用于对车规级主控芯片进行性能测试的情况，该方法可以由车规级主控芯片的测试装置来执行，该车规级主控芯片的测试装置可以采用硬件和/或软件的形式实现，该车规级主控芯片的测试装置可配置于具有车规级主控芯片测试功能的终端或服务器中。如图1所示，该方法包括：
[0032]S110、获取待测试的车规级主控芯片。
[0033]其中，所述车本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种车规级主控芯片的测试方法，其特征在于，包括：获取待测试的车规级主控芯片，所述车规级主控芯片包括多个计算核，以及与每个计算核分别对应的硬件外围组件集；每个计算核与匹配的硬件外围组件集组合得到设定的控制电路；将预设的目标测试函数，分别加载至所述车规级主控芯片中的各计算核中执行，以供各计算核调用对应的硬件外围组件集中的全部硬件外围组件实施计算，实现车规级主控芯片的全工况运行；在车规级主控芯片的全工况运行过程中，实时检测每个控制电路的运行状态信息，并根据所述运行状态信息，获取所述车规级主控芯片的测试结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在将预设的目标测试函数，分别加载至所述车规级主控芯片中的各计算核中执行的过程中，还包括：对所述车规级主控芯片中包括的各元器件中注入高温测试环境，和/或温度冲击测试环境。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标测试函数为车辆的初始角计算函数；所述车规级主控芯片包括第一计算核、第二计算核以及第三计算核；与第一计算核对应的第一硬件外围组件集包括随机存取存储器，同步外设接口器、通信控制器，控制器域网，同步串行总线，以及通用定时器；与第二计算核对应的第二硬件外围组件集包括通用定时器，随机存取存储器，以太网连接器以及即时通讯器；与第三计算核对应的第三硬件外围组件集包括通用定时器，同步外设接口器，实动态频率变换器以及只读存储器；第一计算核与匹配的硬件外围组件集组合得到整车控制电路，第二计算核与匹配的硬件外围组件集组合得到电机控制电路，第三计算核与匹配的硬件外围组件集组合得到发动机控制电路。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在将预设的目标测试函数，分别加载至所述车规级主控芯片中的各计算核中执行的同时，还包括：向第一计算核输入发动机的齿轮信号；向第二计算核输入车速信号以及以太网通信信号；以及向第三计算核输入旋变信号。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在车规级主控芯片的全工况运行过程中，实时检测每个控制电路的运行状态信息，包括：实时检测与第一计算核对应的整车控制电路输出的喷油信号是否为满足预设的齿轮输入信号要求的提前角...

【专利技术属性】
技术研发人员：王强，田辉，吴茜，尹光雨，焦育成，张凯，甘棣元，赵目龙，赵晓雪，宋金海，
申请(专利权)人：中国第一汽车股份有限公司，
类型：发明
国别省市：