器件用电监测电路和芯片测试系统技术方案

本发明专利技术公开一种器件用电监测电路和芯片测试系统，其中，器件用电监测电路包括主控单元和至少一个检测单元，每一个检测单元均用于单独检测一个器件，检测单元包括采样负载和监测子单元；采样负载用于串接在器件的电源输入端；监测子单元电连接采样负载和主控单元，监测子单元通过监测采样负载两端的电压，结合采样负载的阻值确定器件的用电数据，并将确定的用电数据发送给主控单元。本发明专利技术技术方案，实现在芯片测试过程中监测芯片的用电数据，从而测试得到芯片的功耗情况，从而可根据芯片的功耗大小区分芯片的应用等级。耗大小区分芯片的应用等级。耗大小区分芯片的应用等级。

【技术实现步骤摘要】
器件用电监测电路和芯片测试系统


[0001]本专利技术涉及芯片测试设备领域，特别涉及一种器件用电监测电路和芯片测试系统。

技术介绍

[0002]在芯片的生产中，当芯片封装完成后，都需要送入测试工序进行测试验证，以确定芯片是否合格。
[0003]目前，芯片测试方案通常都是将芯片放置到测试座中，以对芯片的各项功能是否正常进行测试。由于不同领域对采用的芯片有不同等级的功耗要求，然而现有的芯片测试方案在测试过程中，无法实时获得芯片的用电数据，不能得到芯片的功耗情况，因此，无法根据芯片的功耗大小区分芯片的应用等级。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供一种器件用电监测电路和芯片测试系统，旨在实现在芯片测试过程中监测芯片的用电数据，从而测试得到芯片的功耗情况。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提出的器件用电监测电路，包括主控单元和至少一个检测单元，每一个检测单元均用于单独检测一个器件，所述检测单元包括：
[0006]采样负载，用于串接在所述器件的电源输入端；
[0007]监测子单元，电连接所述采样负载和所述主控单元，所述监测子单元通过监测所述采样负载两端的电压，结合所述采样负载的阻值确定所述器件的用电数据，并将确定的用电数据发送给主控单元。
[0008]在一些实施例中，所述结合所述采样负载的阻值确定所述器件的用电数据，包括：
[0009]根据所述采样负载两端的电压差和所述采样负载的阻值计算出流经所述采样负载的电流；
[0010]根据所述采样负载与所述器件相连的一端的电压和流经所述采样负载的电流，计算出所述器件的功耗。
[0011]在一些实施例中，所述主控单元包括至少一条I2C总线，每一条所述I2C总线均电连接多个所述监测子单元。
[0012]在一些实施例中，各个监测子单元的ID均不同。
[0013]在一些实施例中，所述监测子单元具有第一差分输入端和第二差分输入端，所述第一差分输入端和第二差分输入端分别电连接所述采样负载的两端。
[0014]在一些实施例中，所述检测单元还包括滤波子单元，所述滤波子单元电连接所述第一差分输入端和所述第二差分输入端。
[0015]在一些实施例中，所述滤波子单元包括第一电容、第一电阻和第二电阻，所述第一电阻的一端电连接所述采样负载的一端，所述第一电阻的另一端电连接所述第一电容的一端和所述第一差分输入端，所述第二电阻的一端电连接所述采样负载的另一端，所述第二
电阻的另一端电连接所述第一电容的另一端和所述第二差分输入端。
[0016]在一些实施例中，所述监测子单元为电流检测芯片，所述电流检测芯片的电源脚连接电源，且经第二电容接地。
[0017]本专利技术还提出一种芯片测试系统，包括至少一个芯片测试座和上述器件用电监测电路，每一个检测单元的采样电阻对应串接在一个芯片测试座的电源输入端。
[0018]在一些实施例中，所述主控单元与所述芯片测试座一一对应的信号接口，每一个所述信号接口均与对应的芯片测试座电连接，用于接收所述芯片测试座输出的测试结果信号。
[0019]本专利技术器件用电监测电路的技术方案，在应用在芯片测试系统中时，只需将各个检测单元的采样负载分别对应串接在各个芯片或芯片测试座的电源输入端即可(即每一个检测单元的采样负载对应串接在一个芯片或芯片测试座的电源输入端)，不对芯片测试系统的芯片功能测试产生任何影响；在芯片测试系统启动测试时，芯片测试系统进行芯片功能测试的同时，通过器件用电监测电路监测芯片的用电数据，以得到芯片的功耗情况，进而可根据芯片的功耗情况对芯片进行应用等级区分。
附图说明
[0020]图1为本专利技术器件用电监测电路一实施例的模块结构示意图；
[0021]图2为本专利技术器件用电监测电路二实施例的模块结构示意图；
[0022]图3为本专利技术器件用电监测电路三实施例的结构示意图；
[0023]图4为本专利技术器件用电监测电路四实施例的电路图。
具体实施方式
[0024]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0025]需要说明，本专利技术实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
[0026]还需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件上时，它可以直接在另一个元件上或者可能同时存在居中元件。当一个元件被称为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接另一个元件或者可能同时存在居中元件。
[0027]另外，在本专利技术中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本专利技术要求的保护范围之内。
[0028]本专利技术提出一种器件用电监测电路，可用于在器件测试过程中，监测器件的用电
数据，进而得到器件的功耗情况。其中，器件可以是芯片，也可以是芯片测试座、芯片测试装置，或其它类型的用电器件或产品。
[0029]参照图1，在本实施例中，器件用电监测电路包括主控单元10和至少一个检测单元20(图1中以4个为例)，每一个检测单元20均用于单独检测一个器件30。
[0030]其中，检测单元20包括：
[0031]采样负载21(例如电阻)，采样负载21用于串接在器件30的电源输入端Vin，即电源经采样负载21电连接器件30的电源输入端Vin；
[0032]监测子单元22，监测子单元22电连接采样负载21和主控单元10，监测子单元22通过监测采样负载21两端的电压，结合采样负载21的阻值确定器件30的用电数据，并将确定的用电数据发送给主控单元10。
[0033]在一些实施例中，用电数据可包括器件30的供电电流、器件30的供电电压和器件30的功耗，供电电流即器件30的电源输入端Vin的电流(等于流经采样负载21的电流)，供电电压即采样负载21与器件30相连的一端的电压，监测子单元22可计算得到器件30的功耗。
[0034]在一些实施例中，用电数据也可以是只包括器件30的供电电流和器件30的供电电压，让主控单元10根据器件30的供电电流和供电电压计算出器件30的功耗大小。
[0035]在一些实施例中，用电数据还可以是只包括器件30的功耗。
[0036]在一些实施例中本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种器件用电监测电路，其特征在于，包括主控单元和至少一个检测单元，每一个检测单元均用于单独检测一个器件，所述检测单元包括：采样负载，用于串接在所述器件的电源输入端；监测子单元，电连接所述采样负载和所述主控单元，所述监测子单元通过监测所述采样负载两端的电压，结合所述采样负载的阻值确定所述器件的用电数据，并将确定的用电数据发送给主控单元。2.根据权利要求1所述的器件用电监测电路，其特征在于，所述结合所述采样负载的阻值确定所述器件的用电数据，包括：根据所述采样负载两端的电压差和所述采样负载的阻值计算出流经所述采样负载的电流；根据所述采样负载与所述器件相连的一端的电压和流经所述采样负载的电流，计算出所述器件的功耗。3.根据权利要求1所述的器件用电监测电路，其特征在于，所述主控单元包括至少一条I2C总线，每一条所述I2C总线均电连接多个所述监测子单元。4.根据权利要求3所述的器件用电监测电路，其特征在于，各个监测子单元的ID均不同。5.根据权利要求1所述的器件用电监测电路，其特征在于，所述监测子单元具有第一差分输入端和第二差分输入端，所述第一差分输入端和第二差分输入端分别电连接所述采样负载的两...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐永刚，徐怡静，刘冲，李振华，衡阳，
申请(专利权)人：成都态坦测试科技有限公司，
类型：发明
国别省市：