芯片的输出频率的自修调方法和装置及芯片制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供一种芯片的输出频率的自修调方法和装置及芯片，属于芯片测试领域。该自修调方法包括：获取在预设计数时间内所述芯片内的振荡器产生的时钟信号的第一个数；获取在所述预设计数时间内与所述芯片对应的测试机提供的时钟信号的第二个数；比较第一个数和第二个数，以确定初始比较结果；以及在第一个数与第二个数的差值的绝对值满足第一预设要求的情况下，修调所述振荡器产生所述时钟信号的振荡器频率，以使得所述芯片的所述输出频率与预设目标输出频率的差值满足第二预设要求。籍此，实现了自修调芯片的输出频率。实现了自修调芯片的输出频率。实现了自修调芯片的输出频率。

【技术实现步骤摘要】
芯片的输出频率的自修调方法和装置及芯片


[0001]本专利技术涉及芯片测试领域，具体地涉及一种芯片的输出频率的自修调方法和装置及芯片。

技术介绍

[0002]芯片的CP测试中可以对频率等一些芯片参数进行修调，使得芯片有更精准的输出。现有测试技术的频率自修调方法，通常将频率可调档位值放置在芯片内部存储器中，通过配置芯片内部存储器来控制芯片内部OSC(oscillator，振荡器)的频率，从而达到控制芯片输出频率的目的。测试机测试芯片输出频率，并将频率测试结果返回给芯片，芯片比较频率测试结果和目标频率值，芯片根据比较结果重新配置内部存储器，测试机重新测量芯片输出频率，如此反复，直到芯片能够输出目标频率。
[0003]现有技术方案中测试机需要多次测量芯片输出频率，将测试的结果返回给芯片，占用了测试机较多的测试时间及通信时间，并且占用了测试机的模块资源。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例的目的是提供一种芯片的输出频率的自修调方法和装置及芯片，其可解决或至少部分解决上述问题。
[0005]为了实现上述目的，本专利本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片的输出频率的自修调方法，其特征在于，该自修调方法包括：获取在预设计数时间内所述芯片内的振荡器产生的时钟信号的第一个数；获取在所述预设计数时间内与所述芯片对应的测试机提供的时钟信号的第二个数；比较所述第一个数及所述第二个数，以确定初始比较结果；以及在所述第一个数与所述第二个数的差值的绝对值满足第一预设要求的情况下，修调所述振荡器产生所述时钟信号的振荡器频率，以使得所述芯片的所述输出频率与预设目标输出频率的差值满足第二预设要求。2.根据权利要求1所述的自修调方法，其特征在于，修调所述振荡器频率以使得所述差值满足所述第二预设要求包括：基于逐次逼近法或二分法，修调所述振荡器频率。3.根据权利要求2所述的自修调方法，其特征在于，在基于所述逐次逼近法修调所述振荡器频率的情况下，基于所述逐次逼近法修调所述振荡器频率包括：根据所述第二预设要求确定基于所述逐次逼近法修调所述振荡器频率的轮数；以及基于所确定的轮数，修调所述振荡器频率，其中，针对任一轮修调，结束条件为在该轮修调中重新获取的第一个数与所述第二个数的比较结果与初始比较结果或者在同该轮修调相邻的上一轮修调中重新获取的第一个数与所述第二个数的比较结果相反。4.根据权利要求3所述的自修调方法，其特征在于，在所确定的轮数大于1的情况下，在至少两轮修调中修调所述振荡器频率使用的频率修调值不相同。5.一种芯片的输出频率的自修调装置，其特征在于，该自修调装置包括：第一个数获取模块，用于获取在预设计数时间内所述芯片内的振荡器产生的时钟信号的第一个数；第二个数获取模块，用于获取在所述预设计数时间内与所述芯片对应的测试机提供的时钟信号的第二个数；比较结果确定模块，用于比...

【专利技术属性】
技术研发人员：张学磊，孙婧，孙云龙，温立国，沈红伟，
申请(专利权)人：北京智芯微电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：